[發明專利]XRF探測器及用于XRF探測器的標樣校準裝置

在審

• 申請號: 201910053905.8
• 申請日: 2019-01-21
• 公開（公告）號: CN109490348A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 羅建文;李飛
• 申請（專利權）人: 長沙開元儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種XRF探測器及用于XRF探測器的標樣校準裝置。標樣校準裝置包括：第一驅動裝置，用于連接并驅動探測器本體運動；支撐盤，支撐盤設有若干個用于固定連接標準樣品的樣品安裝結構；連接于支撐盤的第二驅動裝置，用于驅動支撐盤運動；信號連接第一驅動裝置與第二驅動裝置的控制器，用于控制第一驅動裝置與第二驅動裝置的啟停，以通過第一驅動裝置與第二驅動裝置的驅動使選定的標準樣品對準探測器本體的測試位。通過該標樣校準裝置的使用，標準樣品可以均設置在支撐盤上，第一驅動裝置與第二驅動裝置的驅動即可使選定的標準樣品運動到測試位，無需像現有技術中逐一人工放置標準樣品于測試位，可以提高校準工作的效率。

技術領域

本發明涉及應用XRF技術的設備領域，特別涉及一種XRF探測器及用于XRF探測器的標樣校準裝置。

背景技術

目前XRF(X射線熒光光譜分析，X Ray Fluorescence)技術已經被成功應用到多個領域，如環境(土壤元素分析，燃燒灰元素分析)、食品(各種食物中元素分析，飼料中元素分析)、化學(涂料元素分析，石油元素分析)、金屬非金屬(各種礦石，貴金屬組成物)、電子電氣產品(電子電氣零部件有害物質分析)等。

XRF技術基于物理學基礎，利用燈絲產生的高能電子束激發靶材產生的X射線照射樣品產生次級特征X射線，這些特征X射線的能量強度不同，其強度與元素為一一對應關系，且其強度與元素的濃度呈正相關，因此，通過XRF技術可以對樣品進行定性和定量分析。

為了獲得好的重復性和準確性，需要建立濃度和X射線強度的關系的標準曲線。目前，對于應用XRF技術檢測樣品元素的XRF探測器，一般是內置樣品曲線數據庫。

然而，隨著時間的推移，XRF探測器中接收器等電子電氣元件會發生老化，對儀器的穩定性及儀器的分辨能力都會產生漂移，致使以內置的標準曲線得到的測試結果與真實結果存在偏差，因而需要在XRF探測器使用一段時間后對標準曲線進行校準。

目前一種典型的校準方式為人工將樣品逐一放在XRF探測器上進行校準工作，以生成校準曲線，校準工作耗費的時間較長、效率較低。

因此，如何提高校準效率，是本領域技術人員目前需要解決的技術問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的是提供一種用于XRF探測器的標樣校準裝置，校準工作的效率較高。本發明的另一目的是提供一種包括上述標樣校準裝置的XRF探測器，其校準工作的效率較高。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種用于XRF探測器的標樣校準裝置，包括：

第一驅動裝置，用于連接并驅動探測器本體運動；

支撐盤，所述支撐盤設有若干個用于固定連接標準樣品的樣品安裝結構；

連接于所述支撐盤的第二驅動裝置，用于驅動所述支撐盤運動；

信號連接所述第一驅動裝置與所述第二驅動裝置的控制器，用于控制所述第一驅動裝置與所述第二驅動裝置的啟停，以通過所述第一驅動裝置與所述第二驅動裝置的驅動使選定的標準樣品對準探測器本體的測試位。

優選地，還包括滑塊，所述滑塊滑動連接于直線導軌，所述滑塊上設有用于固定連接探測器本體的探測器連接結構，所述第一驅動裝置連接于所述滑塊，以驅動所述滑塊在所述直線導軌上滑動。

優選地，所述支撐盤與所述直線導軌平行設置，所述第二驅動裝置為旋轉驅動裝置，所述支撐盤的旋轉中心位置固定連接于所述第二驅動裝置的輸出軸，所述第二驅動裝置的輸出軸垂直于所述支撐盤，以通過所述第二驅動裝置驅動所述支撐盤轉動來調節標準樣品與所述直線導軌的垂直距離。

優選地，所述支撐盤上設有用于檢測所述樣品安裝結構的位置的樣品位置傳感器，所述樣品位置傳感器信號連接于所述控制器。