[發(fā)明專利]XRF探測(cè)器及用于XRF探測(cè)器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910053905.8
• 申請(qǐng)日: 2019-01-21
• 公開（公告）號(hào): CN109490348A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 羅建文;李飛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 長(zhǎng)沙開元儀器有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/223
• 分類號(hào): G01N23/223
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種用于XRF探測(cè)器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，包括：

第一驅(qū)動(dòng)裝置(19)，用于連接并驅(qū)動(dòng)探測(cè)器本體(15)運(yùn)動(dòng)；

支撐盤(8)，所述支撐盤(8)設(shè)有若干個(gè)用于固定連接標(biāo)準(zhǔn)樣品(10)的樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)；

連接于所述支撐盤(8)的第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)，用于驅(qū)動(dòng)所述支撐盤(8)運(yùn)動(dòng)；

信號(hào)連接所述第一驅(qū)動(dòng)裝置(19)與所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)的控制器(20)，用于控制所述第一驅(qū)動(dòng)裝置(19)與所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)的啟停，以通過(guò)所述第一驅(qū)動(dòng)裝置(19)與所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)的驅(qū)動(dòng)使選定的標(biāo)準(zhǔn)樣品(10)對(duì)準(zhǔn)探測(cè)器本體(15)的測(cè)試位。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，還包括滑塊，所述滑塊滑動(dòng)連接于直線導(dǎo)軌，所述滑塊上設(shè)有用于固定連接探測(cè)器本體(15)的探測(cè)器連接結(jié)構(gòu)，所述第一驅(qū)動(dòng)裝置(19)連接于所述滑塊，以驅(qū)動(dòng)所述滑塊在所述直線導(dǎo)軌上滑動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述支撐盤(8)與所述直線導(dǎo)軌平行設(shè)置，所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)為旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置，所述支撐盤(8)的旋轉(zhuǎn)中心位置(9)固定連接于所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)的輸出軸，所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)的輸出軸垂直于所述支撐盤(8)，以通過(guò)所述第二驅(qū)動(dòng)裝置(16)驅(qū)動(dòng)所述支撐盤(8)轉(zhuǎn)動(dòng)來(lái)調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)樣品(10)與所述直線導(dǎo)軌的垂直距離。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述支撐盤(8)上設(shè)有用于檢測(cè)所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)的位置的樣品位置傳感器(17)，所述樣品位置傳感器(17)信號(hào)連接于所述控制器(20)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所有所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)分為若干個(gè)安裝結(jié)構(gòu)組，每個(gè)所述安裝結(jié)構(gòu)組中的所有所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)沿著以所述旋轉(zhuǎn)中心位置(9)為圓心的圓圈軌跡依次設(shè)置，各所述安裝結(jié)構(gòu)組對(duì)應(yīng)的所述圓圈軌跡的半徑不同，以使所有所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)以所述旋轉(zhuǎn)中心位置(9)為中心呈蛛網(wǎng)狀排布。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所有所述樣品位置傳感器(17)依次設(shè)于一個(gè)以所述旋轉(zhuǎn)中心位置(9)為圓心的圓圈軌跡上；周向上每個(gè)位置的所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)均對(duì)應(yīng)設(shè)有所述樣品位置傳感器(17)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述直線導(dǎo)軌上設(shè)有用于對(duì)探測(cè)器本體(15)在所述直線導(dǎo)軌的延伸方向上的位置進(jìn)行定位的探測(cè)器位置傳感器，所述探測(cè)器位置傳感器信號(hào)連接于所述控制器(20)；所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)與所述旋轉(zhuǎn)中心位置(9)的徑向距離為安裝距離，每個(gè)所述安裝距離下的所述樣品安裝結(jié)構(gòu)(21)均對(duì)應(yīng)設(shè)有所述探測(cè)器位置傳感器。

8.根據(jù)權(quán)利要求3至7任一項(xiàng)所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述支撐盤(8)上還設(shè)有零位傳感器(18)，所述零位傳感器(18)信號(hào)連接于所述控制器(20)，所述控制器(20)能夠根據(jù)所述零位傳感器(18)的檢測(cè)確定所述支撐盤(8)是否旋轉(zhuǎn)一周。

9.根據(jù)權(quán)利要求3至7任一項(xiàng)所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，其特征在于，兩個(gè)所述直線導(dǎo)軌平行設(shè)于所述支撐盤(8)的兩側(cè)，其中一個(gè)所述直線導(dǎo)軌上的所述滑塊用于固定連接探測(cè)器本體(15)的一端，另一個(gè)所述直線導(dǎo)軌上的所述滑塊用于固定連接探測(cè)器本體(15)的另一端。

10.一種XRF探測(cè)器，包括探測(cè)器本體(15)和測(cè)試室，其特征在于，還包括權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，所述標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置設(shè)于所述測(cè)試室中，所述測(cè)試室上設(shè)有測(cè)試窗口(12)，以使所述探測(cè)器本體(15)通過(guò)所述測(cè)試窗口(12)對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。