[發明專利]一種地價測算方法及系統

在審

• 申請號: 201910049414.6
• 申請日: 2019-01-18
• 公開（公告）號: CN109903077A
• 公開（公告）日: 2019-06-18
• 發明（設計）人: 羅罡輝;李彬;馮小紅;游朋;林勇軍;趙思凡;周禾;張帆;林棟;張建秋;何海強
• 申請（專利權）人: 深圳市規劃國土發展研究中心
• 主分類號: G06Q30/02
• 分類號: G06Q30/02;G06Q50/16
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 唐致明;洪銘福

本發明公開了一種地價測算方法及系統，通過分別計算每塊圖斑的單項影響因素的功能分，根據每塊圖斑的單項影響因素的功能分，計算每塊圖斑的功能分總分，獲取待測宗地所覆蓋的圖斑數量，根據所述待測宗地所覆蓋的圖斑數量，計算待測宗地的用途功能分，參考標準宗地價格、標準宗地修正系數、標準宗地的用途功能分，測算待測宗地均價，與現有的地價評估方法相比，減少主觀判斷的成分，對地價的測算結果更加準確，考慮多種影響因素，使地價的測算更加合理。本發明涉及地價測算技術領域。

技術領域

本發明涉及地價測算技術領域，尤其涉及一種地價測算方法及系統。

背景技術

圖斑是按照單一地類地塊，以及行政界線，土地權屬界線或線狀地物分割的基礎調查單元。

宗地是指土地使用權人的權屬界址范圍內的地塊；是土地登記的基本單元，也是地籍調查的基本單元。

均質區：土地用途及利用條件基本一致的土地區域。均質區指自然要素具有相似性或相對一致的區域

在土地出讓或者資產評估時，如何評價一個地塊一定使用年限的價格，是一個復雜而專業的問題，現有技術中有多種方法可以對一塊宗地價格進行評估，包括市場比較法、收益法、成本法和剩余法等。在這些方法的測算過程中需要考慮的因素非常多而且復雜，同時還存在很多主觀判斷的成分，容易造成評估結果不夠準確。

發明內容

本發明旨在至少在一定程度上解決相關技術中的技術問題之一。為此，本發明的一個目的是提供一種地價測算方法及系統，對地價測算結果更加準確。

本發明所采用的技術方案是：

第一方面，本發明提供一種地價測算方法，包括：

分別計算每塊圖斑的單項影響因素的功能分；

根據每塊圖斑的單項影響因素的功能分，計算每塊圖斑的功能分總分；

獲取待測宗地所覆蓋的圖斑數量，根據所述待測宗地所覆蓋的圖斑數量，計算所述待測宗地的第一用途功能分；

選取若干塊標準宗地，獲取所述標準宗地的價格、所述標準宗地的第一各項修正系數，計算所述待測宗地的第二各項修正系數，根據所述標準宗地的價格、所述標準宗地的第一各項修正系數、所述待測宗地的第二各項修正系數測算所述待測宗地均價。

作為上述方案的進一步改進，所述影響因素包括點狀因素、線狀因素、面狀因素和特定因素，每項所述影響因素包括至少一種影響因子。

作為上述方案的進一步改進，所述分別計算每塊圖斑的單項影響因素的功能分具體包括：

S11，選取法定圖則中的任一塊圖斑，并獲取所選圖斑的中心點坐標；

S12，選取一項影響因素，并獲取所選項影響因素中的所有影響因子；

S13，遍歷所選項影響因素的所有影響因子，計算所選圖斑的中心點到每個影響因子的距離，并根據每個影響因子的半徑及功能分，計算所選圖斑對應每個影響因子的功能分；

S14，選取所選圖斑所有功能分的最高值，作為所選圖斑對應所選項影響因素的功能分；

S15，遍歷所有圖斑和所有影響因素，重復步驟S11至步驟S14，直至計算出法定圖則中所有圖斑相對應的所有影響因素的功能分。

作為上述方案的進一步改進，所述根據每塊圖斑的單項影響因素的功能分，計算每塊圖斑的功能分總分具體包括：

S21，依次獲取每塊圖斑的每項影響因素的功能分值m(x)，查詢每項影響因素對應的權重w(y)，計算每塊圖斑的各項影響因素的功能分：

fm＝m(x)w(y)；