[發(fā)明專利]一種地價測算方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910049414.6
• 申請日: 2019-01-18
• 公開（公告）號: CN109903077A
• 公開（公告）日: 2019-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅罡輝;李彬;馮小紅;游朋;林勇軍;趙思凡;周禾;張帆;林棟;張建秋;何海強
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市規(guī)劃國土發(fā)展研究中心
• 主分類號: G06Q30/02
• 分類號: G06Q30/02;G06Q50/16
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 唐致明;洪銘福

1.一種地價測算方法，其特征在于，其包括：

分別計算每塊圖斑的單項影響因素的功能分；

根據(jù)每塊圖斑的單項影響因素的功能分，計算每塊圖斑的功能分總分；

獲取待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量，根據(jù)所述待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量，計算所述待測宗地的第一用途功能分；

選取若干塊標準宗地，獲取所述標準宗地的價格、所述標準宗地的第一各項修正系數(shù)，計算所述待測宗地的第二各項修正系數(shù)，根據(jù)所述標準宗地的價格、所述標準宗地的第一各項修正系數(shù)、所述待測宗地的第二各項修正系數(shù)測算所述待測宗地均價。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種地價測算方法，其特征在于，所述影響因素包括點狀因素、線狀因素、面狀因素和特定因素，每項所述影響因素包括至少一種影響因子。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種地價測算方法，其特征在于，所述分別計算每塊圖斑的單項影響因素的功能分具體包括：

S11，選取法定圖則中的任一塊圖斑，并獲取所選圖斑的中心點坐標；

S12，選取一項影響因素，并獲取所選項影響因素中的所有影響因子；

S13，遍歷所選項影響因素的所有影響因子，計算所選圖斑的中心點到每個影響因子的距離，并根據(jù)每個影響因子的半徑及功能分，計算所選圖斑對應每個影響因子的功能分；

S14，選取所選圖斑所有功能分的最高值，作為所選圖斑對應所選項影響因素的功能分；

S15，遍歷所有圖斑和所有影響因素，重復步驟S11至步驟S14，直至計算出法定圖則中所有圖斑相對應的所有影響因素的功能分。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種地價測算方法，其特征在于，所述根據(jù)每塊圖斑的單項影響因素的功能分，計算每塊圖斑的功能分總分具體包括：

S21，依次獲取每塊圖斑的每項影響因素的功能分值m(x)，查詢每項影響因素對應的權(quán)重w(y)，計算每塊圖斑的各項影響因素的功能分：

fm＝m(x)w(y)；

S22，累加單塊圖斑的各項影響因素的功能分，得到單塊圖斑的功能分總分，依次計算得到每塊圖斑的功能分總分，根據(jù)土地用途，每塊圖斑的功能分總分分為四類用途功能分Mn。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種地價測算方法，其特征在于，所述獲取待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量，根據(jù)所述待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量，計算所述待測宗地的功能分具體包括：

獲取待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量，將所述待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量與數(shù)值1進行比較；

若所述待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量小于1，則查找距離所述待測宗地最近的一塊圖斑，將最近圖斑的功能分作為所述待測宗地的功能分；

若所述待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量等于1，則將所述待測宗地所覆蓋的圖斑的功能分作為所述待測宗地的功能分；

若所述待測宗地所覆蓋的圖斑數(shù)量大于1，進一步獲取所述待測宗地與每塊圖斑的相交面積S1、S2、S3……Sn，計算所述待測宗地與所覆蓋每塊圖斑的相交總面積：

S_總＝S1+S2+S3+……+Sn，

根據(jù)待測宗地的用途，計算所述待測宗地的第一用途功能分：

M＝M1*(S1/S)+M2*(S2/S)+M3*(S3/S)+……+Mn*(Sn/S)。