[發明專利]柱狀元件外觀檢測設備

有效

• 申請號: 201910047801.6
• 申請日: 2019-01-18
• 公開（公告）號: CN111250428B
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 陳正鍇;高嘉鴻;林軒民;何國誠
• 申請（專利權）人: 臺達電子工業股份有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;G01N21/952
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;鄭特強

柱狀元件外觀檢測設備包含供料裝置、立料裝置、旋轉盤、多個取像裝置、倒料裝置及集料裝置。供料裝置具有下料軌道，以推送多個柱狀元件。立料裝置設置于下料軌道的末端，以使柱狀元件呈站立姿態滑落。旋轉盤承載并以磁力吸引由立料裝置落下的柱狀元件，以使柱狀元件隨旋轉盤的旋轉而沿環形輸送路徑移動。多個取像裝置依序環繞旋轉盤設置，以采集柱狀元件各視角的影像進行外觀檢測。倒料裝置設置于多個取像裝置的最后一個的前端，以將柱狀元件撥倒，使柱狀元件由站立姿態改為平躺姿態。集料裝置根據外觀檢測結果收集柱狀元件。

技術領域

本發明涉及一種電子元件外觀檢測設備，特別涉及一種柱狀元件外觀檢測設備。

背景技術

現有的電子元件外觀檢測設備，或稱外觀機，一般是通過震動盤將電子元件整列后，排列至一旋轉盤上，旋轉盤將電子元件輸送至鏡頭前取像以供檢測外觀，再通過一集料裝置依據檢測結果分類收集。

晶圓電阻(Metal Electrode Leadless Face Resistor，簡稱MELF Resistor)，又可稱為圓柱型電阻、無腳電阻、或無引線電阻，其外型呈圓柱狀，且利用表面黏著技術(Surface Mount Technology，SMT)固定在電路板上。由于晶圓電阻具有耐高壓、散熱佳、抗震、及不易變形等特性，故被廣泛應用在電源、通信、醫療、儀表、汽車、照明、工業自動化等領域。

而針對晶圓電阻此類柱狀元件，在進行外觀檢測時主要利用具磁鐵圓盤的外觀機來運送柱狀元件及進行檢測，以使柱狀元件的端面可通過磁力吸引而站立于磁鐵圓盤上。圖1即顯示柱狀元件利用傳統外觀機進行的外觀檢測示意圖。如圖1所示，由于柱狀元件10是通過磁力吸引而站立于磁鐵圓盤上，可針對柱狀元件10的圓柱四周與頂部端面進行五面視覺取像檢查，然而柱狀元件10的底部端面因與磁鐵圓盤磁吸接觸，且磁鐵圓盤并非采透明玻璃制成，故無法對底部端面進行第六面視覺取像檢查。換言之，傳統外觀機對于柱狀元件10的兩端面只有進行二分之一的檢查機會，無法達到全面檢查機制。即使再依賴人工進行第六面檢查，由于柱狀元件10的尺寸可能小至1mm，亦有檢查不易及疏漏的問題。

此現有技術對于柱狀元件材料一直有無法全面檢查的問題，對于出貨廠商而言，會有一定比例的瑕疵產品流入市場，因而容易造成最終產品效能與穩定性降低的問題。因此，為了改善現有技術的缺陷，實有必要開發可進行全面檢查的外觀機架構，以強化外觀機設備的競爭力，同時提升柱狀元件材料的出貨品質管控。

發明內容

本發明的目的在于提供一種柱狀元件外觀檢測設備，以改善現有技術對于柱狀元件只能進行五面視覺取像檢查的缺陷。

本發明的另一個目的在于提供一種柱狀元件外觀檢測設備，以實現柱狀元件的全面檢查，不但可強化外觀機設備的競爭力，提升柱狀元件的出貨品質管控，也同時提升采用柱狀元件的最終產品的效能與穩定性。

本發明的再一個目的在于提供一種柱狀元件外觀檢測設備，以實現柱狀元件的全面檢查，不但可省去人力檢查的成本，更增進外觀檢測設備的產能，進而提升外觀檢測設備的工業應用價值。

為達上述目的，本發明提供一種柱狀元件外觀檢測設備，包含供料裝置、立料裝置、旋轉盤、多個取像裝置、倒料裝置及集料裝置。供料裝置具有下料軌道，架構于推送多個柱狀元件。立料裝置設置于下料軌道的末端，架構于使柱狀元件呈站立姿態滑落。旋轉盤架構于承載并以磁力吸引由立料裝置落下的柱狀元件，以使柱狀元件隨旋轉盤的旋轉而沿環形輸送路徑移動。多個取像裝置依序環繞旋轉盤設置，并架構于采集柱狀元件各視角的影像以進行外觀檢測。倒料裝置設置于多個取像裝置的最后一個的前端，架構于將柱狀元件撥倒，使柱狀元件由站立姿態改為平躺姿態。集料裝置架構于根據外觀檢測結果收集柱狀元件。

在一實施例中，柱狀元件為可通過磁力吸引而站立的電子元件。

在一實施例中，倒料裝置包含撥倒檔板，設置于旋轉盤的環形輸送路徑上，且撥倒檔板與環形輸送路徑的切線方向呈垂直設置。