[發明專利]柱狀元件外觀檢測設備

有效

• 申請號: 201910047801.6
• 申請日: 2019-01-18
• 公開（公告）號: CN111250428B
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 陳正鍇;高嘉鴻;林軒民;何國誠
• 申請（專利權）人: 臺達電子工業股份有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;G01N21/952
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;鄭特強

1.一種柱狀元件外觀檢測設備，包含：

一供料裝置，具有一下料軌道，架構于推送多個柱狀元件；

一立料裝置，設置于該下料軌道的末端，架構于使該柱狀元件呈站立姿態滑落；

一旋轉盤，架構于承載并以磁力吸引由該立料裝置落下的該柱狀元件，以使該柱狀元件隨該旋轉盤的旋轉而沿一環形輸送路徑移動；

多個取像裝置，依序環繞該旋轉盤設置，并架構于采集該柱狀元件各視角的影像以進行外觀檢測，其中最后一個取像裝置用于對該柱狀元件的底部端面進行視覺取像檢查；

一倒料裝置，設置于多個所述取像裝置的最后一個的前端，架構于將該柱狀元件撥倒，使該柱狀元件由站立姿態改為平躺姿態；其中該倒料裝置包含一撥倒檔板，設置于該旋轉盤的該環形輸送路徑上，且該撥倒檔板與該環形輸送路徑的切線方向呈垂直設置以及

一集料裝置，架構于根據外觀檢測結果收集該柱狀元件。

2.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該柱狀元件為一可通過磁力吸引而站立的電子元件。

3.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該撥倒檔板的底緣距離該旋轉盤的表面的水平高度低于該柱狀元件的總高度。

4.如權利要求3所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該撥倒檔板的底緣距離該旋轉盤的表面的水平高度與該柱狀元件的總高度比值在3/5～19/20之間。

5.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該倒料裝置還包含一高度調整元件，架構于調整該撥倒檔板的高度。

6.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該倒料裝置還包含一支撐座，且該撥倒檔板固定于該支撐座上。

7.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該多個取像裝置包含一第一取像裝置、一第二取像裝置、一第三取像裝置、一第四取像裝置、一第五取像裝置及一第六取像裝置，且該倒料裝置設置在該第五取像裝置及該第六取像裝置之間。

8.如權利要求7所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該第一取像裝置至該第五取像裝置分別對該柱狀元件的圓柱四周與頂部端面進行五面視覺取像檢查，且該第六取像裝置對該柱狀元件的底部端面進行第六面視覺取像檢查。

9.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該旋轉盤為一具磁性且非透明的環形轉盤。

10.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該立料裝置包含一弧形軌道，該弧形軌道的一第一端開口鄰接該下料軌道的末端，且該弧形軌道的一第二端開口位于該旋轉盤上。

11.如權利要求10所述的柱狀元件外觀檢測設備，其中該第一端開口處的該弧形軌道的切線方向大致與該下料軌道平行，且該第二端開口處的該弧形軌道的切線方向大致與該旋轉盤的表面垂直。

12.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，還包含一導料裝置，其設置于該立料裝置的下游，且具有一圓弧面。

13.如權利要求1所述的柱狀元件外觀檢測設備，還包含一導料裝置，其設置于該倒料裝置的下游，且具有一圓弧面。