[發明專利]一種準確控制取向硅鋼初次再結晶尺寸的方法

有效

• 申請號: 201910022865.0
• 申請日: 2019-01-10
• 公開（公告）號: CN111424166B
• 公開（公告）日: 2022-03-18
• 發明（設計）人: 黃望芽;李國保;楊勇杰;凌晨
• 申請（專利權）人: 寶山鋼鐵股份有限公司
• 主分類號: C21D11/00
• 分類號: C21D11/00;C21D8/12
• 代理公司: 上海集信知識產權代理有限公司 31254
• 代理人: 洪玲

本發明揭示了一種準確控制取向硅鋼初次再結晶尺寸的方法，通過在線檢測初次再結晶晶粒尺寸，實時指導動態調整脫碳退火工藝，實現穩定獲得理想、穩定的初次再結晶晶粒，為獲得完善的高溫退火二次再結晶創造條件，保證穩定獲得具有良好性能的取向硅鋼的生產方法。本發明通過在線快速檢測初次再結晶晶粒尺寸，實現對脫碳退火過程效果的在線評價，指導工藝動態調整方案；通過采用晶粒度調整模型，在晶粒度檢測的基礎上，實現脫碳退火溫度的在線實時調整；通過在線實時調整工藝，穩定獲得理想晶粒尺寸的初次再結晶組織，為取向硅鋼二次再結晶創造良好條件。

技術領域

本發明涉及取向硅鋼生產加工技術領域，更具體地指一種準確控制取向硅鋼初次再結晶尺寸的方法，通過在線檢測初次再結晶晶粒尺寸，實時指導動態調整脫碳退火工藝，實現獲得理想、穩定的初次再結晶晶粒。

背景技術

大量的低溫工藝取向硅鋼生產實踐表明，要獲得穩定的成品電磁性能，即要穩定獲得理想二次再結晶組織，核心是控制好初次再結晶退火。

專利JP02671077B2、JP9178706A通過在線檢測初次再結晶帶鋼的鐵損W_13/50，W_10/50，W_8/50，W_5/50,W_5/200等參數的檢測，間接獲得晶粒尺寸來間接計算初次再結晶尺寸。但是上述方法沒有考慮材料實際成分對初次再結晶晶粒尺寸的影響，獲得的晶粒尺寸偏差在±1μm左右。毛衛民、陳冷、楊平等在專利CN1455248A中提出了基于X射線二維衍射幾何理論建立起來的晶粒尺寸無損檢測方法，但該技術由于其檢測偏差達到2μm左右。常規的金相法可以比較準確地對局部的晶粒度進行檢測，但這種方法屬于一種破壞性的檢測方法，檢測偏差往往達到±2μm左右，檢測周期也比較長，而且帶鋼頭、尾部位取樣代表性差，無法滿足在線反饋控制要求。取向硅鋼生產對初次再結晶控制精度要求在±1μm以內，且要求實現在線檢測及反饋控制，以上所述方法不能滿足取向硅鋼對初次再結晶控制精度的要求。

發明內容

(一)解決的技術問題

針對取向硅鋼對初次再結晶控制精度不能滿足要求的缺陷，本發明提出了一種準確控制取向硅鋼初次再結晶尺寸的方法，通過在線的初次再結晶晶粒度實時檢測，完成脫碳退火效果的評價；通過模型控制，實現退火溫度實時反饋控制，獲得穩定理想的初次再結晶，最終穩定獲得優良的取向硅鋼成品。

(二)技術方案

一種準確控制取向硅鋼初次再結晶尺寸的方法，包括以下步驟：

包括以下步驟：

S1、選取用于加工取向硅鋼的鋼卷，冷軋處理；

S2、鋼卷冷軋后，按照取向硅鋼初次再結晶退火初始溫度設定與目標晶粒尺寸關系建立初次再結晶退火溫度設定模型Ⅰ，計算出退火溫度目標設定值；

S3、按照初次再結晶退火溫度設定模型Ⅰ預設溫度進行初次再結晶退火；

S4、初次再結晶退火在線檢測晶粒尺寸；

S5、判斷晶粒尺寸是否滿足目標控制要求，如果晶粒尺寸在目標控制范圍內，則按預設溫度繼續生產；如果晶粒尺寸偏離目標控制范圍內，按初次再結晶退火溫度調整與初次再結晶尺寸差異的關系模型Ⅱ進行溫度反饋調整，直至初次再結晶尺寸在目標控制范圍。

根據本發明的一實施例，所述步驟S2初次再結晶退火溫度設定模型Ⅰ為

b1,b2,b3,b4:常數，需對不同的鋼種區別性進行擬合；

初次再結晶目標晶粒尺寸，單位：μm；

初次再結晶退火初始溫度設定值，單位：℃。

根據本發明的一實施例，所述步驟S2取向硅鋼初次再結晶退火初始溫度設定為