[發明專利]一種薄膜晶體管器件、驅動電路及顯示裝置在審
| 申請號: | 201910020460.3 | 申請日: | 2019-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN111430446A | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發明(設計)人: | 楊鳳云;卓恩宗 | 申請(專利權)人: | 惠科股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/41;H01L29/861 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人: | 高星 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區石巖街道水田村民*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 薄膜晶體管 器件 驅動 電路 顯示裝置 | ||
1.一種薄膜晶體管器件,其特征在于,包括:
襯底;
設于所述襯底的柵極層,其中,所述襯底的表面包括第一預設區域和第二預設區域,所述柵極層設于所述襯底表面的第一預設區域;
設于所述柵極層的阻擋層,其中,所述阻擋層設于所述柵極層表面以及所述襯底表面的第二預設區域;
設于所述阻擋層表面的有源層,所述有源層表面包括第三預設區域和第四預設區域,所述第三預設區域與所述第四預設區域互不接觸;
設于所述有源層表面的源極勢壘層和漏極勢壘層,其中,所述源極勢壘層包括至少兩層摻雜濃度不同的源極摻雜層,所述漏極勢壘層包括至少兩層摻雜濃度不同的漏極摻雜層,所述源極勢壘層位于所述有源層表面的第三預設區域,所述漏極勢壘層位于所述有源層表面的第四預設區域;
設于所述源極勢壘層表面的源極層;以及
設于所述漏極勢壘層表面的漏極層。
2.如權利要求1所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述源極勢壘層包括:
設于所述有源層表面的第一源極摻雜層,其中,所述第一源極摻雜層位于所述有源層表面的第三預設區域;
設于所述第一源極摻雜層表面的第二源極摻雜層;
設于所述第二源極摻雜層表面的第三源極摻雜層;以及
設于所述第三源極摻雜層表面的第四源極摻雜層;
所述第一源極摻雜層、所述第二源極摻雜層、所述第三源極摻雜層以及所述第四源極摻雜層的摻雜濃度互不相同。
3.如權利要求2所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述第一源極摻雜層具有第一源極摻雜濃度,所述第二源極摻雜層具有第二源極摻雜濃度,所述第三源極摻雜層具有第三源極摻雜濃度,所述第四源極摻雜層具有第四源極摻雜濃度;
所述第一源極摻雜濃度小于所述第二源極摻雜濃度,所述第二源極摻雜濃度小于所述第三源極摻雜濃度,所述第三源極摻雜濃度小于所述第四源極摻雜濃度。
4.如權利要求1所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述漏極勢壘層包括:
設于所述有源層表面的第一漏極摻雜層,所述第一漏極摻雜層位于所述有源層表面的第四預設區域;
設于所述第一漏極摻雜層表面的第二漏極摻雜層;
設于所述第二漏極摻雜層表面的第三漏極摻雜層;以及
設于所述第三漏極摻雜層表面的第四漏極摻雜層;
所述第一漏極摻雜層、所述第二漏極摻雜層、所述第三漏極摻雜層以及所述第四漏極摻雜層的摻雜濃度互不相同。
5.如權利要求1所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述阻擋層包括氮化硅、二氧化硅中的至少一項。
6.如權利要求1所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述源極摻雜層為N型摻雜。
7.如權利要求1所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述有源層為非晶硅。
8.如權利要求7所述的薄膜晶體管器件,其特征在于,所述非晶硅為氫化非晶硅。
9.一種驅動電路,其特征在于,所述驅動電路包括如權利要求1-8任一項所述的薄膜晶體管器件。
10.一種顯示裝置,其特征在于,包括:
顯示面板;以及
控制單元,所述控制單元與所述顯示面板電性連接;其中,所述顯示面板包括如權利要求1-8任一項所述的薄膜晶體管器件。
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