[發明專利]揚聲器壽命測試系統

有效

• 申請號: 201910015478.4
• 申請日: 2019-01-08
• 公開（公告）號: CN109600705B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 明幼林;段志杰;王寅
• 申請（專利權）人: 武漢市聚芯微電子有限責任公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;吳歡燕

本發明實施例提供了一種揚聲器壽命測試系統，可以通過上位機有效的監控批量揚聲器的實時工作狀態，并保存整個測試狀態的測試數據，樣本數量多，測試時間長，數據量豐富。上位機根據單片機發送的信息以及每個測流電阻連接的揚聲器中振膜的振幅，可以對揚聲器壽命測試過程進行分析，進而判斷揚聲器是否損壞，不需要等待揚聲器廠家測試后才能得到反饋，縮短了判斷周期。還可以進一步確定與每個測試電阻連接的揚聲器在何時、什么條件下損壞，有助于對揚聲器的某種保護措施給出合理的反饋意見。

技術領域

本發明實施例涉及揚聲器壽命測試技術領域，更具體地，涉及揚聲器壽命測試系統。

背景技術

目前，揚聲器壽命測試系統用于驗證揚聲器在連接智能功放進行連續長時間工作的條件下，在某種保護算法(振幅保護算法、溫度保護算法或功率保護算法)保護下是否仍會被損壞。其中，損壞可具體包括揚聲器振幅頻繁超過物理極限導致的機械損壞，以及長時間的過溫工作導致的熱損壞。

現有的對揚聲器壽命的測試過程是通過智能功放對揚聲器施加設定時間的激勵信號。在施加設定時間的激勵信號后，通過揚聲器廠家使用專業設備測試得到的揚聲器輸出的聲信號確定揚聲器是否損壞，然后再調整下一次壽命測試的時間，直到確定損壞的臨界時間。現有的對揚聲器壽命的測試無法對測試過程進行分析，并不能確定揚聲器在何時，什么條件下被損壞，只能確定揚聲器是否損壞以及損壞的臨界時間，這種反饋結果，使得保護算法的驗證周期時間長，效率低。

發明內容

為克服上述問題或者至少部分地解決上述問題，本發明實施例提供了一種揚聲器壽命測試系統。

本發明實施例提供了一種揚聲器壽命測試系統，包括：壽命測試板、多個位移傳感器以及上位機；所述壽命測試板上設置有單片機、多個測流電阻、多路差分電壓信號測量模塊、多個功放芯片、多個溫度傳感器以及多個位移傳感器；

所述測流電阻、所述多路差分電壓信號測量模塊中的一路、所述功放芯片、所述溫度傳感器以及所述位移傳感器一一對應，每個所述測流電阻與一揚聲器串聯連接；所述多路差分電壓信號測量模塊、每個所述功放芯片以及每個所述溫度傳感器均與所述單片機連接；所述單片機和每個所述位移傳感器均與所述上位機連接；每個所述功放芯片與對應的所述測流電阻連接的揚聲器相連；

所述多路差分電壓信號測量模塊中的一路用于測量對應的所述測流電阻兩端的電壓，以及用于測量對應的所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓；每個所述溫度傳感器用于測量對應的所述測流電阻所處的環境溫度，每個所述位移傳感器用于測量對應的所述測流電阻連接的揚聲器中振膜的振幅；

所述單片機用于獲取每個所述測流電阻兩端的電壓以及每個所述測流電阻所處的環境溫度，并基于每個所述測流電阻兩端的電壓、每個所述測流電阻的阻值以及每個所述測流電阻所處的環境溫度，確定流過每個測流電阻的電流；

所述單片機還用于獲取每個所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓，并與每個所述測流電阻兩端的電壓、每個所述測流電阻所處的環境溫度以及流過每個所述測流電阻的電流進行匯總，匯總后發送至所述上位機；

所述上位機用于在每個所述測流電阻連接的揚聲器的輸入信號為掃頻信號時，基于所述單片機發送的信息，實時確定每個所述測流電阻連接的揚聲器是否被損壞。

本發明實施例提供的一種揚聲器壽命測試系統，可以通過上位機有效的監控批量揚聲器的實時工作狀態，并保存整個測試狀態的測試數據，樣本數量多，測試時間長，數據量豐富。上位機根據單片機發送的信息以及每個測流電阻連接的揚聲器中振膜的振幅，可以對揚聲器壽命測試過程進行分析，進而判斷揚聲器是否損壞，不需要等待揚聲器廠家測試后才能得到反饋，縮短了判斷周期。還可以進一步確定與每個測試電阻連接的揚聲器在何時、什么條件下損壞，有助于對揚聲器的某種保護措施給出合理的反饋意見。

附圖說明