[發明專利]揚聲器壽命測試系統

有效

• 申請號: 201910015478.4
• 申請日: 2019-01-08
• 公開（公告）號: CN109600705B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 明幼林;段志杰;王寅
• 申請（專利權）人: 武漢市聚芯微電子有限責任公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;吳歡燕

1.一種揚聲器壽命測試系統，其特征在于，包括：壽命測試板、多個位移傳感器以及上位機；所述壽命測試板上設置有單片機、多個測流電阻、多路差分電壓信號測量模塊、多個功放芯片以及多個溫度傳感器；

所述測流電阻、所述多路差分電壓信號測量模塊中的一路、所述功放芯片、所述溫度傳感器以及所述位移傳感器一一對應，每個所述測流電阻與一揚聲器串聯連接；所述多路差分電壓信號測量模塊、每個所述功放芯片以及每個所述溫度傳感器均與所述單片機連接；所述單片機和每個所述位移傳感器均與所述上位機連接；每個所述功放芯片與對應的所述測流電阻連接的揚聲器相連；

所述多路差分電壓信號測量模塊中的一路用于測量對應的所述測流電阻兩端的電壓，以及用于測量對應的所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓；每個所述溫度傳感器用于測量對應的所述測流電阻所處的環境溫度，每個所述位移傳感器用于測量對應的所述測流電阻連接的揚聲器中振膜的振幅；

所述單片機用于獲取每個所述測流電阻兩端的電壓以及每個所述測流電阻所處的環境溫度，并基于每個所述測流電阻兩端的電壓、每個所述測流電阻的阻值以及每個所述測流電阻所處的環境溫度，確定流過每個測流電阻的電流；

所述單片機還用于獲取每個所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓，并與每個所述測流電阻兩端的電壓、每個所述測流電阻所處的環境溫度以及流過每個所述測流電阻的電流進行匯總，匯總后發送至所述上位機；

所述上位機用于在每個所述測流電阻連接的揚聲器的輸入信號為掃頻信號時，基于所述單片機發送的信息，實時確定每個所述測流電阻連接的揚聲器是否被損壞；

所述上位機還用于：

基于每個所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓、流過每個所述測流電阻的電流，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器的實時功率；基于每個所述測流電阻連接的揚聲器的實時功率以及揚聲器額定功率，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器在功率保護算法保護下，實時功率能否穩定在所述揚聲器額定功率；

所述上位機還用于：

基于目標頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的線圈溫度，以及所述目標頻率下的揚聲器線圈溫度安全范圍，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器在溫度保護算法保護下，線圈溫度能否穩定在所述揚聲器線圈溫度安全范圍內；

所述上位機還用于：

基于每個所述測流電阻連接的揚聲器中振膜的振幅，以及振幅物理極限，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器在振幅保護算法保護下，振膜的振幅能否穩定在振幅安全范圍內。

2.根據權利要求1所述的揚聲器壽命測試系統，其特征在于，所述單片機還用于：

對每個所述功放芯片的寄存器進行讀寫配置。

3.根據權利要求1所述的揚聲器壽命測試系統，其特征在于，所述上位機具體用于：

在每個所述測流電阻連接的揚聲器的輸入信號為掃頻信號時，對每個所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓以及流過每個所述測流電阻的電流分別進行幅頻分析，確定不同頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的阻抗；

基于不同頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的阻抗，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器是否被損壞。

4.根據權利要求3所述的揚聲器壽命測試系統，其特征在于，所述上位機還用于：

基于目標頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的阻抗，以及所述目標頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的阻抗與線圈溫度之間的對應關系，對所述目標頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的線圈溫度進行監控。

5.根據權利要求4所述的揚聲器壽命測試系統，其特征在于，所述上位機還用于：

每個所述測流電阻連接的揚聲器在功率保護算法保護下實時功率穩定在所述揚聲器額定功率后，基于所述目標頻率下每個所述測流電阻連接的揚聲器的線圈溫度，以及所述目標頻率下的揚聲器線圈溫度安全范圍，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器的線圈溫度能否穩定在所述揚聲器線圈溫度安全范圍內。

6.根據權利要求1所述的揚聲器壽命測試系統，其特征在于，所述上位機還用于：

對所述單片機發送的信息、每個所述測流電阻連接的揚聲器中振膜的振幅以及每個所述測流電阻連接的揚聲器的實時功率進行顯示。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的揚聲器壽命測試系統，其特征在于，所述上位機還用于：

對每個所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓進行諧波分析，確定每個所述測流電阻連接的揚聲器中線圈兩端的電壓的諧波失真度。