[發明專利]異方性導電膠膜導電粒子檢測機

在審

• 申請號: 201910001522.6
• 申請日: 2019-01-02
• 公開（公告）號: CN109759355A
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發明（設計）人: 張憲明
• 申請（專利權）人: 張憲明
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

異方性導電膠膜導電粒子檢測機，包括機架，機架上方的左側設有環形的上料輸送帶，機架上方的右側設有環形的正品下料輸送帶，正品下料輸送帶的左端設有環形的次品下料輸送帶，機架上位于上料輸送帶和正品下料輸送帶之間自左向右依次設有左檢測平臺和右檢測平臺，左檢測平臺上設有左檢測窗口，左檢測窗口的下方設有左對位相機，右檢測平臺上設有右檢測窗口，右檢測窗口的下方設有右對位相機；機架上位于左對位相機和右對位相機之間設有圖像采集相機。其目的在于提供一種可顯著地提高了異方性導電膠膜導電粒子檢測機的工作效率，讓圖像采集處理的質量大為提高的異方性導電膠膜導電粒子檢測機。

技術領域

本發明涉及一種異方性導電膠膜導電粒子檢測機。

背景技術

異方性導電膠膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)是一種可以在短時間內達到導電性連接的材料。異方性導電膠膜也即ACF所起到的主要作用：導電，絕緣，粘接，其主要包括樹脂黏著劑、導電粒子兩大部分；樹脂黏著劑功能除了防濕氣，接著，耐熱及絕緣功能外主要為固定IC芯片與基板間電極相對位置，并提供一壓迫力量已維持電極與導電粒子間的接觸面積。

在導電粒子方面，異方導電特性主要取決于導電粒子的充填率。雖然異方性導電膠其導電率會隨著導電粒子充填率的增加而提高，但同時也會提升導電粒子互相接觸造成短路的機率。

另外，導電粒子的粒徑分布和分布均勻性亦會對異方導電特性有所影響。通常，導電粒子必須具有良好的粒徑均一性和真圓度，以確保電極與導電粒子間的接觸面積一致，維持相同的導通電阻，并同時避免部分電極未接觸到導電粒子，導致開路的情形發生。常見的粒徑范圍在3～5μm之間，太大的導電粒子會降低每個電極接觸的粒子數，同時也容易造成相鄰電極導電粒子接觸而短路的情形；太小的導電粒子容易行成粒子聚集的問題，造成粒子分布密度不平均。在導電粒子的種類方面目前已金屬粉末和高分子塑料球表面涂布金屬為主。常見使用的金屬粉鎳(Ni)、金(Au)、鎳上鍍金、銀及錫合金等。

平時導電粒子在黏合劑中均勻分布,互不接觸,加之有一層絕緣膜,ACF膜是不導電的,當對ACF膜加壓、加熱后(一般加壓、加熱分兩次,第一次為臨時貼在產品上60℃～100℃,(3～ 10)×104Pa,2s～10s出貨，第二次為部品搭載時約150℃～200℃,(20～40)×104Pa,10 s～20s)導電粒子絕緣膜破裂,并互相在有線路的部分(因為較無線路部分突起)擠壓在一起, 形成導通,被擠壓后的導電粒子體積是原來的3～4倍(導電粒子體積不變，差別在於原本是球體狀，經過熱壓後變成類似圓餅狀，讓上下電極有更多的面積接觸到導電粒子),加熱使黏合劑固化,保持導通狀態。一般導通部分電阻在10Ω以下,未導通部分相鄰端子間在100MΩ以上。

異方性導電膠膜導電粒子檢測機是一種用于檢測異方性導電膠膜上的導電粒子的分布狀態的設備，現有的異方性導電膠膜導電粒子檢測機通常都是利用一組對位相機和檢測平臺進行工作，但由于對異方性導電膠膜進行調整、對位的時間較長，會讓圖像采集相機等待較長的時間，由此造成現有的異方性導電膠膜導電粒子檢測機的工作效率較低，由于在對異方性導電膠膜進行調整、對位的工序上使用了較長的時間，還造成圖像采集相機的處理時間非常緊張，讓圖像采集處理的質量降低。

發明內容

本發明的目的在于提供一種可顯著地提高了異方性導電膠膜導電粒子檢測機的工作效率，讓圖像采集處理的質量大為提高的異方性導電膠膜導電粒子檢測機。

本發明的異方性導電膠膜導電粒子檢測機，包括機架，機架上方的左側設有環形的上料輸送帶，上料輸送帶可在驅動裝置的驅動下作環形運動，機架上方的右側設有環形的正品下料輸送帶，正品下料輸送帶可在驅動裝置的驅動下作環形運動，正品下料輸送帶的附近設有環形的次品下料輸送帶，次品下料輸送帶可在驅動裝置的驅動下作環形運動；