[發明專利]準直儀、放射線探測裝置及放射線檢查裝置在審
| 申請號： | 201880090161.0 | 申請日： | 2018-02-27 |
| 公開（公告）號： | CN111770728A | 公開（公告）日： | 2020-10-13 |
| 發明（設計）人： | 森井久史;奧之山隆治;都木克之 | 申請（專利權）人： | 株式會社ANSeeN |
| 主分類號： | A61B6/06 | 分類號： | A61B6/06 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人： | 李文嶼 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 準直儀 放射線 探測 裝置 檢查 | ||
【權利要求書】：
1.準直儀，其具備：
放射線屏蔽部；和
放射線透過部，其放射線屏蔽率低于所述放射線屏蔽部的放射線屏蔽率，所述放射線透過部將所述放射線屏蔽部貫通，并且為實心。
2.如權利要求1所述的準直儀，其中，所述放射線透過部由可見光透過率高的材料制造。
3.如權利要求1或2所述的準直儀，其中，所述放射線透過部由碳制造。
4.如權利要求1至3中任一項所述的準直儀，其中，所述放射線屏蔽部由錫制造。
5.準直儀，其具備：
液態的放射線屏蔽部；
放射線透過部，其放射線屏蔽率低于所述放射線屏蔽部的放射線屏蔽率，并將所述放射線屏蔽部貫通；和
容器，其將所述放射線屏蔽部和所述放射線透過部密封。
6.放射線探測裝置，其具備：
權利要求1至5中任一項所述的準直儀；和
探測元件，其與所述放射線透過部對應地配置。
7.放射線檢查裝置，其具備：
放射線產生部，其對被檢體照射放射線；
權利要求1至5中任一項所述的準直儀，其供透過所述被檢體的放射線入射；和
探測元件，其與所述放射線透過部對應地配置。
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