[發明專利]準直儀、放射線探測裝置及放射線檢查裝置

在審

• 申請號: 201880090161.0
• 申請日: 2018-02-27
• 公開（公告）號: CN111770728A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 森井久史;奧之山隆治;都木克之
• 申請（專利權）人: 株式會社ANSeeN
• 主分類號: A61B6/06
• 分類號: A61B6/06
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 李文嶼

本發明提供能夠將散射放射線進一步除去的準直儀、放射線探測裝置及放射線檢查裝置。本發明的準直儀20具備：放射線屏蔽部22；和放射線透過部21，其放射線屏蔽率低于上述放射線屏蔽部22，所述放射線透過部將上述放射線屏蔽部22貫通，并且為實心。根據本發明的準直儀20，由于準直儀20的X射線透過部21是實心的，因此，在X射線透過部21中，由被檢體B散射的低能量側的X射線被吸收。因此，由放射線探測元件30探測到的X射線中包含的噪聲少，能夠得到分辨率高的X射線圖像。

技術領域

本發明涉及準直儀、放射線探測裝置及放射線檢查裝置。

背景技術

使用放射線以非破壞的方式對被檢體進行檢查的、例如X射線CT(計算機體層攝影，Computed Tomography)等放射線檢查裝置是對被檢體照射放射線、基于透過被檢體的放射線來生成CT圖像的裝置。

這樣的放射線檢查裝置具備放射線產生裝置和放射線探測裝置。另外，照射至被檢體的放射線在被檢體中部分被散射。放射線探測裝置探測到散射的放射線時，探測精度劣化。為了除去該散射放射線，在放射線探測裝置中設置準直儀。

以往，準直儀中設置有供放射線透過的多個貫通孔。放射線從該貫通孔中通過時，以相對于貫通孔的中心軸而言規定角度以上的角度入射至貫通孔的放射線與貫通孔的側壁碰撞。由于散射放射線(其使探測精度劣化)朝向各個方向，因此通過貫通孔時被除去，與未設置準直儀的情況相比，能夠得到精度高的CT圖像(例如參見專利文獻1)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2018-00496號公報

發明內容

發明要解決的課題

但是，在通過貫通孔的放射線中，并非所有的散射放射線均被除去，而是包含一些散射放射線。

本發明的目的在于提供能夠將散射放射線進一步除去的準直儀、放射線探測裝置及放射線檢查裝置。

用于解決課題的手段

為了解決上述課題，本發明提供以下的方案。

準直儀，其具備：放射線屏蔽部；和放射線透過部，其放射線屏蔽率低于上述放射線屏蔽部的放射線屏蔽率，所述放射線透過部將上述放射線屏蔽部貫通，并且為實心。

上述放射線透過部可以由可見光透過率高的材料制造。

上述放射線透過部可以由碳制造。

上述放射線屏蔽部可以由錫制造。

此外，為了解決上述課題，本發明還提供以下的方案。

準直儀，其具備：液態的放射線屏蔽部；放射線透過部，其放射線屏蔽率低于上述放射線屏蔽部的放射線屏蔽率，并將上述放射線屏蔽部貫通；和容器，其將上述放射線屏蔽部和上述放射線透過部密封。

另外，為了解決上述課題，本發明還提供以下的方案。

放射線探測裝置，其具備：上述中任一項所述的準直儀；和探測元件，其與上述放射線透過部對應地配置。

此外，為了解決上述課題，本發明還提供以下的方案。

放射線檢查裝置，其具備：向被檢體照射放射線的放射線產生部；上述中任一項所述的準直儀，其供透過上述被檢體的放射線入射；和探測元件，其與上述放射線透過部對應地配置。

發明的效果

根據本發明，能夠提供一種由于可不使用遮光板從而能夠進一步簡化制造工序并且能夠更緊湊地制造的準直儀、放射線探測裝置及放射線檢查裝置。

附圖說明