[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880082364.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111492471B | 公開(公告)日: | 2023-08-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 松原弘;泉谷淳子;大江秀明;根本益太郎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社村田制作所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/822 | 分類號(hào): | H01L21/822;G01N27/16;H01L21/316;H01L27/04 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王瑋;張豐橋 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
半導(dǎo)體裝置(100)具備:半導(dǎo)體基板(110),具有相互對(duì)置的第一主面(110A)以及第二主面(110B);以及多孔金屬氧化膜(180),形成在半導(dǎo)體基板(110)的第一主面(110A)側(cè),并且具有多個(gè)細(xì)孔。半導(dǎo)體基板(110)構(gòu)成為:在第一主面(110A)側(cè)具有與多孔金屬氧化膜(180)電連接的連接部(111),并且從第二主面(110B)側(cè)到第一主面(110A)側(cè)的連接部(111)提供供電路徑。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及具有多孔金屬氧化膜的半導(dǎo)體裝置及其制造方法。
背景技術(shù)
例如,通過(guò)在酸性電解液中對(duì)鋁進(jìn)行陽(yáng)極氧化時(shí)形成柱狀的規(guī)則的細(xì)孔結(jié)構(gòu)的自組織化來(lái)設(shè)置多孔金屬氧化膜。這樣的多孔金屬氧化膜利用增大的表面積、細(xì)孔的內(nèi)部空間、較高的規(guī)則性等,而研究了向?yàn)V波器、光子晶體、記錄介質(zhì)、傳感器等的應(yīng)用。
例如,專利文獻(xiàn)1公開了如下的陽(yáng)極氧化膜的制造方法:預(yù)先在支承基板設(shè)置通孔,之后將被陽(yáng)極氧化膜粘合于支承基板,通過(guò)通孔取出陽(yáng)極氧化的陽(yáng)極用導(dǎo)線,在吸附支承基板的背面的同時(shí)使被陽(yáng)極氧化膜整體浸漬于陽(yáng)極氧化液來(lái)進(jìn)行陽(yáng)極氧化。
然而,在陽(yáng)極氧化用的支承基板之上設(shè)置被陽(yáng)極氧化膜來(lái)進(jìn)行陽(yáng)極氧化的方法中,需要從支承基板剝離通過(guò)陽(yáng)極氧化制造出的多孔金屬氧化膜(陽(yáng)極氧化膜),并轉(zhuǎn)印到半導(dǎo)體裝置等。另外,即使將具備被陽(yáng)極氧化膜的半導(dǎo)體裝置粘合于支承基板,在為了設(shè)置電路、元件等而在內(nèi)部具有絕緣層的半導(dǎo)體裝置中,也不能夠進(jìn)行基于相同的方法的陽(yáng)極氧化膜的制造。
例如,在專利文獻(xiàn)2的半導(dǎo)體裝置的制造方法中,公開了在半導(dǎo)體裝置的表面設(shè)置蝕刻為規(guī)定的圖案的被陽(yáng)極氧化膜的工序、和對(duì)被陽(yáng)極氧化膜進(jìn)行陽(yáng)極氧化處理來(lái)形成多孔金屬氧化膜的工序。
專利文獻(xiàn)1:日本特開昭61-99339號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)2:日本特開平11-006811號(hào)公報(bào)
然而,在專利文獻(xiàn)2所記載的半導(dǎo)體裝置的制造方法中,需要在半導(dǎo)體基板晶圓的表面?zhèn)龋O(shè)置供給用于陽(yáng)極氧化的化成電壓的供電焊盤、將被陽(yáng)極氧化膜與供電焊盤電連接的供電線等。因此,在半導(dǎo)體基板晶圓的單位表面積能夠制造的半導(dǎo)體裝置的數(shù)目減少。另外,若供電焊盤與各個(gè)被陽(yáng)極氧化膜之間的距離、即供電線的長(zhǎng)度不同,則陽(yáng)極氧化的條件在各個(gè)被陽(yáng)極氧化膜中變動(dòng),各個(gè)多孔金屬氧化膜的品質(zhì)變動(dòng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于這樣的情況而完成的,其目的在于提供能夠?qū)崿F(xiàn)制造效率的改善的半導(dǎo)體裝置。
本發(fā)明的一方式的半導(dǎo)體裝置具備:半導(dǎo)體基板,具有相互對(duì)置的第一主面以及第二主面;以及多孔金屬氧化膜,形成在半導(dǎo)體基板的第一主面?zhèn)龋⑶揖哂卸鄠€(gè)細(xì)孔,半導(dǎo)體基板構(gòu)成為:在第一主面?zhèn)染哂信c多孔金屬氧化膜電連接的連接部,并且從第二主面?zhèn)鹊降谝恢髅鎮(zhèn)鹊倪B接部提供供電路徑。
本發(fā)明的其它的一方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法具備:準(zhǔn)備具有相互對(duì)置的第一主面以及第二主面的半導(dǎo)體基板的工序;在半導(dǎo)體基板的第一主面?zhèn)仍O(shè)置被陽(yáng)極氧化膜的工序;以及通過(guò)從半導(dǎo)體基板的第二主面?zhèn)冗M(jìn)行供電,使設(shè)置在半導(dǎo)體基板的第一主面?zhèn)鹊谋魂?yáng)極氧化膜陽(yáng)極氧化,來(lái)形成具有多個(gè)細(xì)孔的多孔金屬氧化膜的工序。
根據(jù)本發(fā)明,能夠提供能夠?qū)崿F(xiàn)制造效率的改善的半導(dǎo)體裝置。
附圖說(shuō)明
圖1是示意性地表示第一實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的構(gòu)成的剖視圖。
圖2是示意性地表示第一實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的構(gòu)成的俯視圖。
圖3是示意性地表示作為第一實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的電路的安裝例的電路圖。
圖4是示意性地表示第一實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法中的形成被陽(yáng)極氧化膜的工序的流程圖。
圖5是示意性地表示第一實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法中的進(jìn)行陽(yáng)極氧化的工序的流程圖。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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