[發明專利]通過尺寸排阻色譜法確定顆粒尺寸分布

在審

• 申請號: 201880078016.0
• 申請日: 2018-12-11
• 公開（公告）號: CN111448448A
• 公開（公告）日: 2020-07-24
• 發明（設計）人: 奧克薩納·巴克;塞伊·拉通德-達達;馬科斯·特賴克里奧蒂斯;戴維·巴克
• 申請（專利權）人: 馬爾文帕納科
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N30/02;G01N21/49;G01N21/53;G01N15/06
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 王紅艷

公開了一種用于表征包括顆粒的樣本的方法和設備(100，200，300)。該方法包括使用第一顆粒表征技術對樣本執行第一測量；以及使樣本從第一顆粒表征技術流到顆粒分離裝置；用顆粒分離裝置分離樣本；以及對分離的樣本執行第二測量。設備(100，200，300)被配置為執行該方法，并且包括用于根據第一顆粒表征技術(104，105，106)執行測量的測量系統，以及用于分離包括顆粒的樣本的顆粒分離裝置(102)。

技術領域

本發明涉及一種用于確定顆粒特性的方法和設備。

背景技術

新型生物藥物通常使用聚集分析進行分析。尺寸排阻色譜法(SEC)通常用于基于顆粒尺寸或質量分離樣本。然而，從SEC柱輸出的樣本可能不是該樣本的真實表示。較大的顆粒或顆粒聚集體被禁止通過SEC柱，并且因此在顆粒尺寸/質量分布分析中將丟失。為了糾正該問題，必須通過另一種技術(通常是分析超速離心(AUC))驗證SEC測量。AUC是一項困難、昂貴且耗時的技術。

研究顆粒的聚集特性需要研究大范圍的顆粒尺寸。先前，已經使用具有不同測量模態的不同儀器進行了多種分析，以便提供大范圍的顆粒尺寸的覆蓋。這可能是耗時且不便的。

發明內容

根據本發明的第一方面，提供了一種表征包含顆粒的樣本的方法，該方法包括：使用第一顆粒表征技術對樣本執行第一測量；使樣本從第一顆粒表征技術流到顆粒分離裝置；用顆粒分離裝置分離樣本；以及對分離的樣本執行第二測量。

在用顆粒分離裝置分離樣本之前，用第一測量技術執行第一測量產生了要通過顆粒分離裝置的實際樣本的真實樣本組成的表示。這可用于確定分離期間是否丟失了任何樣本，例如，較大的顆粒是否被禁止通過顆粒分離裝置。例如，可以將第一測量與第二測量和/或與附加測量進行比較，以確定是否丟失了樣本的任何顆粒。例如，可以將由第一測量確定的顆粒尺寸或顆粒質量分布與由第二測量或附加測量確定的顆粒尺寸或顆粒質量分布進行比較。

通過確定樣本的真實表示是否已經被顆粒分離裝置分離，可以避免對昂貴的驗證技術(諸如AUC)的需求。

第二測量可以由顆粒分離裝置本身執行，例如，顆粒分離裝置可以包括用于測量分離的樣本的樣本測量儀器。可替代地或另外地，第二測量可以由被配置為測量從顆粒分離裝置輸出的樣本的單獨儀器執行。

第二測量可以確定隨時間推移變化的分離的樣本的性質，例如提供分離的樣本中的顆粒的顆粒特性隨時間推移變化的指示。顆粒分離裝置可基于顆粒特性使顆粒及時分離(例如，使具有不同尺寸或與吸附劑的不同程度吸附相互作用的顆粒具有不同的洗脫時間)。第二測量可以使用第一顆粒表征技術或替代的顆粒表征技術。第二測量可以使用用于第一測量的相同儀器。

使樣本流入第一顆粒表征技術或從第一顆粒表征技術流出的參考應當理解為是指使樣本流向可以執行根據第一顆粒表征技術的測量的位置或從該位置流出。

使用第一顆粒表征技術執行第一測量可以包括執行多個第一測量，所述多個第一測量中的每個第一測量使用相應的顆粒表征技術來執行。

顆粒分離裝置可以是分餾裝置。顆粒分離裝置可包括色譜柱，例如尺寸排阻色譜柱。顆粒分離裝置可以執行可用于將樣本混合物分離為多于一個的不同種群的任何技術，諸如：

-尺寸排阻色譜法(例如，凝膠滲透色譜法或凝膠過濾色譜法)；

-場流分餾及其相關聯的變型，諸如非對稱流場流分餾(AF4)；

-其它液相色譜柱(分析型和制備型二者)，包括：親和力、離子交換、疏水作用、整體式和微柱陣列柱；

-流體動力學色譜法；

-確定性橫向位移(DLD)裝置；

-填充的珠床，諸如二氧化硅；以及