[發明專利]用于加工工件的系統

有效

• 申請號: 201880070888.2
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN111527458B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: M.魯施;M.屈貝勒
• 申請（專利權）人: 費斯托工具有限責任公司
• 主分類號: G05B19/4093
• 分類號: G05B19/4093;B23Q17/24;G01B21/00;B23Q9/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 楊國治;王瑋

本發明涉及用于加工工件（W）的系統，?具有手持式工具機器（20），所述手持式工具機器具有：驅動馬達（22）；能夠通過驅動馬達（22）驅動的用于工作工具（25）的工具容納部（24），所述工作工具用于加工工件（W）；以及具有引導面（31）的引導元件（30），所述引導面用于在工件（W）處引導手持式工具機器（20），?具有標記探測機構（70）用于探測工件（W）的至少一個工件標記（M1、M2）的坐標數據（KD1、KD2），其中，手持式工具機器（20）具有引導器件（65）用于取決于至少一個工件標記（M1、M2）的坐標數據（KD1、KD2）來沿著工件（W）引導工作工具（25），設置成，標記探測機構（70）具有光學的和/或機械的參照（71），所述參照能夠定位在至少一個工件標記（M1、M2）上和/或直接在至少一個工件標記（M1、M2）旁邊，標記探測機構（70）設計成用于關于至少二維的坐標系（KR2、KR3）來測定至少一個工件標記（M1、M2）的坐標數據（KD1、KD2），所述坐標系與工件標記（M1、M2）無關，并且手持式工具機器（20）的引導器件（65）設計成用于關于至少二維的坐標系（KR2、KR3）在工作區域（AB）中引導工作工具（25），所述工作區域通過工作區域數據（AD）在幾何結構上進行界定，所述工作區域數據借助至少一個工件標記（M1、M2）的坐標數據（KD1、KD2）來求得。

技術領域

本發明涉及用于加工工件的系統，

-具有手持式工具機器，所述手持式工具機器具有：驅動馬達；能夠通過驅動馬達驅動的用于工作工具的工具容納部，所述工作工具用于加工工件；以及具有引導面的引導元件，所述引導面用于在工件處引導手持式工具機器，

-具有標記探測機構用于探測工件的至少一個工件標記的坐標數據，其中，手持式工具機器具有引導器件用于取決于至少一個工件標記的坐標數據來沿著工件引導工作工具。此外本發明涉及用于加工工件的方法，優選地具有在上面闡述的系統的系統構件。

背景技術

這種系統（在其中，標記探測機構形成手持式工具機器的組成部分），例如在US2015/0094836?A1中得以闡述。

使用者能夠例如在手持式工具機器的顯示器處識別到，至少一個工件標記位于哪里并且可以說由此設定用于隨后的工件加工、在這種情況下銑削加工的起點。操作者沿著工作線沿著工件引導手持式工具機器，所述工作線在手持式工具機器的顯示器處進行顯示。手持式工具機器本身又具有追蹤伺服馬達機構（Stellmotorik），從而工作工具跟隨可以說假想的工作線。

然而，這種系統的精度在一些情況下是不夠的。

發明內容

因此，本發明的任務是，提供一種改善的用于加工工件的系統。

為了解決所述任務，在開頭提及的類型的系統中設置成，標記探測機構具有光學的和/或機械的參照，所述參照能夠定位在至少一個工件標記上和/或直接在至少一個工件標記旁邊，

標記探測機構設計成用于關于至少二維的坐標系來測定至少一個工件標記的坐標數據，所述坐標系與工件標記無關，

并且手持式工具機器的引導器件設計成用于關于至少二維的坐標系在工作區域中引導工作工具，所述工作區域通過工作區域數據在幾何結構上進行界定，所述工作區域數據借助至少一個工件標記的坐標數據來求得。

此外為了解決所述任務，設置有一種用于加工工件的方法，

-具有手持式工具機器，所述手持式工具機器具有：驅動馬達；能夠通過所述驅動馬達驅動的用于工作工具的工具容納部，所述工作工具用于加工所述工件；以及具有引導面的引導元件，所述引導面用于在所述工件處引導所述手持式工具機器，

-具有標記探測機構用于探測所述工件的至少一個工件標記的坐標數據，其中，所述手持式工具機器具有引導器件用于取決于所述至少一個工件標記的坐標數據來沿著所述工件引導所述工作工具，其中，實行下列步驟：