[發明專利]用于加工工件的系統

有效

• 申請號: 201880070888.2
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN111527458B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: M.魯施;M.屈貝勒
• 申請（專利權）人: 費斯托工具有限責任公司
• 主分類號: G05B19/4093
• 分類號: G05B19/4093;B23Q17/24;G01B21/00;B23Q9/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 楊國治;王瑋

1.用于加工工件(W)的系統，

-具有手持式工具機器(20)，所述手持式工具機器具有：驅動馬達(22)；能夠通過所述驅動馬達(22)驅動的用于工作工具(25)的工具容納部(24)，所述工作工具用于加工所述工件(W)；以及具有引導面(31)的引導元件(30)，所述引導面用于在所述工件(W)處引導所述手持式工具機器(20)，

-具有標記探測機構(70)用于探測所述工件(W)的至少一個工件標記(M1、M2)的坐標數據(KD1、KD2)，其中，所述手持式工具機器(20)具有引導器件(65)用于取決于所述至少一個工件標記(M1、M2)的坐標數據(KD1、KD2)來沿著所述工件(W)引導所述工作工具(25)，

其特征在于，所述標記探測機構(70)具有光學的和/或機械的參照(72)，所述參照能夠定位在所述至少一個工件標記(M1、M2)上和/或直接在所述至少一個工件標記(M1、M2)旁邊，

所述標記探測機構(70)設計成用于關于至少二維的坐標系(KR2、KR3)來測定所述至少一個工件標記(M1、M2)的坐標數據(KD1、KD2)，所述坐標系與所述工件標記(M1、M2)無關，

并且所述手持式工具機器(20)的引導器件(65)設計成用于關于所述至少二維的坐標系(KR2、KR3)在工作區域(AB)中引導所述工作工具(25)，所述工作區域通過工作區域數據(AD)在幾何結構上進行界定，所述工作區域數據借助所述至少一個工件標記(M1、M2)的坐標數據(KD1、KD2)來求得。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述系統為了提供所述至少二維的坐標系(KR2、KR3)而具有至少一個能夠放置在工作空間(R)中的坐標發送器(80、81；180)，所述工件(W)布置在所述工作空間中，并且所述引導器件(65)和/或所述標記探測機構(70)設計成用于測定所述至少一個坐標發送器(80、81；180)的位置和/或用于測定通過所述至少一個坐標發送器(80、81)發出的參照信息(RX、RY)。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述至少一個坐標發送器(80、81；180)具有固定器件(83)和/或鉤式固定器件(183)和/或抽吸式固定器件(86)，以用于固定在所述工件(W)和/或底座處，和/或具有至少一個置放面(82)用于放下在底座和/或所述工件(W)上。

4.根據權利要求2或3所述的系統，其特征在于，所述至少一個坐標發送器(80、81)設計成用于沿相對于彼此成角度的方向和/或在相對于彼此平行的平面中發出參照信息(RX、RY)，其中，所述標記探測機構(70)和/或所述引導器件(65)設計成用于探測所述參照信息(RX、RY)。

5.根據權利要求2或3所述的系統，其特征在于，所述手持式工具機器(20)的引導器件(65)和/或所述標記探測機構(70)具有定向器件(67、78)用于關于所述至少二維的坐標系(KR2、KR3)在工作空間(R)中進行定向，所述工件(W)布置在所述工作空間中，其中，所述定向器件(67、78)設計成用于探測所述工作空間(R)的在幾何結構上的輪廓和/或用于接收參照信息(RX、RY)，所述參照信息表征所述手持式工具機器(20)和/或所述標記探測機構(70)和/或所述工件(W)在所述工作空間(R)中的地方。

6.根據權利要求1-3中任一項所述的系統，其特征在于，所述標記探測機構(70)設計成用于在進行了所述參照(72)關于所述工件標記(M1、M2)的定位之后取決于至少一個觸發條件來探測所述至少一個工件標記(M1、M2)的坐標數據(KD1、KD2)。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，所述觸發條件包括操作者的能夠通過所述標記探測機構(70)的傳感器和/或電的切換器探測的操作行為和/或時間上的條件和/或在所述參照(72)與所述至少一個工件標記(M1、M2)之間的間距的間距探測，其中，在所述間距探測中探測在所述參照(72)與所述工件標記(M1、M2)之間的預先確定的極限間距的低過。