[發明專利]圖像獲取方法及系統

有效

• 申請號: 201880068586.1
• 申請日: 2018-12-19
• 公開（公告）號: CN111566438B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 王星澤;何良雨;舒遠
• 申請（專利權）人: 合刃科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

一種圖像獲取方法，該方法包括：投射模塊初始光柵條紋到目標物體的被測面(201)，成像模塊接收所述初始光柵條紋經過所述被側面反射后的初始調制光柵條紋(202)；成像模塊根據所述初始調制光柵條紋，確定出所述被測面的參考三維圖像(203)；若所述參考三維圖像的圖像質量低于預設圖像質量閾值，則根據所述參考三維圖像確定出目標光柵條紋(204)；分區域自適應地控制微型LED陣列，實現對光柵條紋的精確調整，并將所述目標光柵條紋投射到所述被測面(205)；接收所述目標光柵條紋經過所述被測面反射后的目標調制光柵條紋(206)；根據所述目標調制光柵條紋，確定出所述被測面的目標三維圖像(207)。該方法突出檢測場景中的黑暗區域，減弱飽和區域，可提升對目標物體的被測面的圖像獲取時的準確性。

技術領域

本申請涉及圖像處理技術領域，具體涉及圖像獲取方法及系統。

背景技術

現代工業制造中，自動光學檢測系統AOI(Automatic Optical Inspection)常被用來高速檢測外觀缺陷。其一般采用2D的方式(因為容易實現)，即光源+相機系統的形式來進行。但近年來，隨著工業技術的迅猛發展，3D檢測的需求也越來越大。比如在電子行業，印制電路板(Printed Circuit Board，PCB)的元件不斷縮小，復雜性不斷提高，對于高端PCB制造(比如智能手機和汽車行業)，單純采用2D檢測已經很難找到有缺陷或安裝錯誤的元件，即3D檢測已經成為了行業發展趨勢。

光柵投影技術由于測量系統簡單、高精度和高分辨率等優點被廣泛應用于3D形貌測量。然而，由于被檢物體表面的復雜性，不同區域可能產生鏡面反射、漫反射，甚至會出現光強不足，導致投影到被測面的光柵條紋無法準確反映真實表面形貌。例如，高反光的鏡面反射區域由于光強超過相機的感應范圍，在圖像上會形成灰度飽和而丟失物體表面的細節信息，從而導致獲取被側面的圖像的準確性較低。

發明內容

本申請提供一種圖像獲取方法及系統，能夠提升獲取被測物體的被測面的圖像時的準確性。

本申請實施例的第一方面提供了一種圖像獲取方法所述方法包括：

投射初始光柵條紋到目標物體的被測面；

接收所述初始光柵條紋經過所述被測面反射后的初始調制光柵條紋；

根據所述初始調制光柵條紋，確定出所述被測面的參考三維圖像；

獲取所述參考三維圖像的圖像質量，若所述參考三維圖像的圖像質量低于預設圖像質量閾值，則根據所述參考三維圖像確定出目標光柵條紋；

將所述目標光柵條紋投射到所述被測面；

接收所述目標光柵條紋經過所述被測面反射后的目標調制光柵條紋；

根據所述目標調制光柵條紋，確定出所述被測面的目標三維圖像。

結合本申請實施例的第一方面，在第一方面的第一種可能的實現方式中，所述被測面包括多個區域，所述獲取所述參考三維圖像的圖像質量，包括：

將所述參考三維圖像按照所述被測面的區域進行拆分，得到多個子參考三維圖像；

獲取所述多個子參考三維圖像中的每個子參考三維圖像的圖像質量；

將所述多個子參考三維圖像的圖像質量中的最小值作為所述參考三維圖像的圖像質量。

結合本申請實施例第一方面的第一種可能的實現方式，在第一方面的第二種可能的實現方式中，所述根據所述參考三維圖像確定出目標光柵條紋，包括：

根據所述多個子參考三維圖像，得到所述被測面中與所述多個子參考三維圖像相對應的區域的光強；

根據所述被測面中與所述多個子參考三維圖像相對應的區域的光強，按照預設的遺傳算法確定出所述被測面中與所述多個子參考三維圖像對應的區域的目標光強；