[發明專利]圖像獲取方法及系統

有效

• 申請號: 201880068586.1
• 申請日: 2018-12-19
• 公開（公告）號: CN111566438B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 王星澤;何良雨;舒遠
• 申請（專利權）人: 合刃科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

1.一種圖像獲取方法，其特征在于，所述方法包括：

投射初始光柵條紋到目標物體的被測面；

接收所述初始光柵條紋經過所述被測面反射后的初始調制光柵條紋；

根據所述初始調制光柵條紋，確定出所述被測面的參考三維圖像；

獲取所述參考三維圖像的圖像質量，若所述參考三維圖像的圖像質量低于預設圖像質量閾值，則根據所述參考三維圖像確定出目標光柵條紋；

將所述目標光柵條紋投射到所述被測面；

接收所述目標光柵條紋經過所述被測面反射后的目標調制光柵條紋；

根據所述目標調制光柵條紋，確定出所述被測面的目標三維圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述被測面包括多個區域，所述獲取所述參考三維圖像的圖像質量，包括：

將所述參考三維圖像按照所述被測面的區域進行拆分，得到多個子參考三維圖像；

獲取所述多個子參考三維圖像中的每個子參考三維圖像的圖像質量；

將所述多個子參考三維圖像的圖像質量中的最小值作為所述參考三維圖像的圖像質量。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述參考三維圖像確定出目標光柵條紋，包括：

根據所述多個子參考三維圖像，得到所述被測面中與所述多個子參考三維圖像相對應的區域的光強；

根據所述被測面中與所述多個子參考三維圖像相對應的區域的光強，按照預設的遺傳算法確定出所述被測面中與所述多個子參考三維圖像對應的區域的目標光強；

按照預設的光強計算公式，確定出產生所述目標光強的LED微陣列中的每個LED模塊的目標發光強度；

將所述LED微陣列中的每個LED模塊的發光強度調整為所述每個LED模塊的目標發光強度，得到所述目標光柵條紋。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述LED微型陣列為由N*M個LED模塊組成的方陣，所述預設的光強計算公式，包括：

當N，M為奇數時，所述目標物體的被測面上的點P(x,y,z)處的光強可以表示為E(x,y,z)，所述預設的光強計算公式具體如下：

N，M為偶數時，所述目標物體的被測面上的點P(x,y,z)處的光強可以表示為E(x,y,z)，所述預設的光強計算公式具體如下：

其中，I_LED＝S_LEDL_LED為所述LED微型陣列的發光強度，S_LED為所述LED微型陣列的發光面積，L_LED為所述LED微型陣列輻射亮度，d為相鄰兩個LED模塊之間的間距，x、y、z、i、j為實數，m可以通過如下公式進行計算得到：

其中，θ_1/2為光照度為0°視角情況下光照度的一半時所對應的視角。

5.根據權利要求2至4任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

若所述目標三維圖像的圖像質量低于所述預設圖像質量閾值，則將所述目標三維圖像按照所述被測面的區域進行拆分，得到多個子目標三維圖像，所述多個子目標三維圖像與所述多個子參考三維圖像一一對應；

從所述多個子目標三維圖像中提取出至少一個第一參考圖像，所述第一參考圖像為所述多個子目標三維圖像中的圖像質量低于所述預設圖像質量閾值的子目標三維圖像，以及從所述多個子參考三維圖像中提取出至少一個第二參考圖像，所述第二參考圖像為所述多個子參考三維圖像中與第一參考圖像相對應的圖像；

將所述至少一個第一參考圖像與所述至少一個第二參考圖像進行融合，得到至少一個融合子目標三維圖像；

將所述至少一個融合子目標三維圖像與第三參考圖像進行組合，得到所述被測面的真實三維圖像，所述第三參考圖像為所述多個子目標三維圖像中除所述第一參考圖像之外的圖像。