[發明專利]使用優化器的平整度控制

有效

• 申請號: 201880064605.3
• 申請日: 2018-06-12
• 公開（公告）號: CN111132773B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: M.卓斯勒;A.邁爾霍夫;A.穆勒;A.西卡勒;S.韋爾喬維奇
• 申請（專利權）人: 首要金屬科技德國有限責任公司
• 主分類號: B21B37/28
• 分類號: B21B37/28
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 董均華;司昆明

1.用于輥機架的操作方法，在所述輥機架中軋制金屬帶(1)，

-其中，用于所述輥機架的控制裝置(4)在每種情況下借助于工作周期T而確定數個操縱變量S，用于所述輥機架的對應數量的平整度構件(8)，并且根據所確定的所述操縱變量S而致動所述平整度構件(8)，

其特征在于，

-所述控制裝置(4)實施第一優化器，所述第一優化器最初臨時設定當前校正變量s，并且根據以下關系而確定平整度值f的總和

f(s)＝f0+W·(s_T-s′_T)或f(s)＝f0+W·s_T，

其中，

--f(s)是平整度值的總和，

--s_T是所述當前校正變量的總和，

--f0是初始平整度值，

--W是有效性矩陣，以及

--s′_T是在先前工作周期中的先前校正變量的總和，

并且而后通過改變所述當前校正變量s而最小化以下關系

其中，

是平整度目標值的總和，

--s0_T是對于當前校正變量s的目標值的總和，以及

--α和β是加權系數，

-當確定所述當前校正變量s時，所述第一優化器考慮線性輔助條件，

-所述線性輔助條件具有以下形式：

C·s≤B，

其中，C是矩陣，B是具有由所述當前校正變量s支持的所述線性輔助條件的矢量，以及

-所述控制裝置(4)考慮變化的當前校正變量s而確定用于所述平整度構件(8)的所述操縱變量S。

2.根據權利要求1所述的操作方法，

其特征在于，

-所述線性輔助條件具有以下形式：

C·s≤B和|s-s′|＜c，

其中，c是具有由所述當前校正變量s和所述先前校正變量s’之間的差異支持的所述線性輔助條件的矢量。

3.根據權利要求1所述的操作方法，

其特征在于，

-測量裝置(7)用于以空間分辨的方式在所述金屬帶(1)的寬度b上探測測量平整度值fM，

-所述測量平整度值fM和相關聯的平整度目標值f*作為初始平整度值f0被供應到所述控制裝置(4)。

4.根據權利要求3所述的操作方法，

其特征在于，

-所述控制裝置(4)實施平整度控制器(11)，所述平整度控制器被布置在所述第一優化器的下游，由所述第一優化器確定的所述當前校正變量s被供應到所述平整度控制器(11)，并且所述平整度控制器(11)從所述當前校正變量s確定用于所述平整度構件(8)的對于所述操縱變量S的變化值，

-所述平整度控制器(11)形成利用增益系數KP加權的所述當前校正變量s和來自所述輥機架的工廠模型(14)的輸出信號s的總和，

-所述平整度控制器(11)在以此方式形成的總和的基礎上確定臨時信號S’，

-所述平整度控制器(11)通過微分所述臨時信號S’而確定用于所述平整度構件(8)的對于所述操縱變量S的所述變化值，以及

-所述平整度控制器(11)將所述臨時信號S’作為輸入信號供應到所述輥機架的所述工廠模型(14)。

5.根據權利要求4所述的操作方法，

其特征在于，

所述平整度控制器(11)通過在濾波器(15)中過濾所形成的總和而確定所述臨時信號S’。

6.根據權利要求5所述的操作方法，

其特征在于，

所述控制裝置(4)動態參數化所述濾波器(15)。