[發明專利]具有中介層的并行PRBS測試的IC裸片有效
| 申請號: | 201880064221.1 | 申請日: | 2018-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN111183517B | 公開(公告)日: | 2023-06-16 |
| 發明(設計)人: | C·雄·方 | 申請(專利權)人: | 默升科技集團有限公司 |
| 主分類號: | H01L25/065 | 分類號: | H01L25/065;H01L25/07;H01L23/538;H01L23/00;H01L21/66;H10B80/00 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 陳潔;張鑫 |
| 地址: | 開曼群島*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 中介 并行 prbs 測試 ic | ||
1.一種微電子組件,包括:
襯底,所述襯底以倒裝芯片配置電連接到起始集成電路IC裸片和目標IC裸片,
所述襯底具有多條導電跡線,用于所述起始IC裸片與所述目標IC裸片之間的并行通信總線,
所述起始IC裸片具有第一并行偽隨機二進制序列PRBS發生器,以跨越所述多條導電跡線并行驅動具有不同相位的測試PRBS,
所述目標IC裸片具有:
第二并行PRBS發生器,用于創建具有不同相位的參考PRBS;以及
按位比較器,所述按位比較器耦合成從所述多條導電跡線接收所述測試PRBS并且將所述測試PRBS與所述參考PRBS相比較,以針對所述多條導線跡線中的每一條提供同時故障監視。
2.根據權利要求1所述的組件,其中所述測試PRBS之前具有開始模式,所述開始模式具有在所述多條導電跡線中的每一條上同時發送的至少一個“0”,接著是在所述多條導電跡線中的每一條上同時發送的“1”。
3.根據權利要求1所述的組件,其中從種子值開始迭代第一并行PRBS發生器,并且其中當在所述多條導電跡線上檢測到開始模式時,用所述種子值初始化所述第二并行PRBS發生器。
4.根據權利要求1所述的組件,其中所述第一并行PRBS發生器和所述第二并行PRBS發生器各自為擴展數目的并行序列提供回顯PRBS。
5.根據權利要求1所述的組件,其中所述并行通信總線的寬度是N個位,并且其中所述襯底的所述多條導電跡線包含至少一條額外跡線,以提供針對故障跡線的冗余保護。
6.根據權利要求5所述的組件,其中所述起始IC裸片和所述目標IC裸片中的每一個包含復用器陣列,所述復用器陣列實現圍繞所述故障跡線路由所述并行通信總線的信號。
7.根據權利要求6所述的組件,其中所述目標IC裸片包含校正控制器,所述校正控制器耦合到所述按位比較器以在所述多條導電跡線中的任何導電跡線發生故障的情況下識別所述多條導電跡線中的哪些導電跡線發生故障并且響應性地確定用于所述復用器陣列中的至少一個的設置以圍繞所述故障路由。
8.一種微電子組件測試方法,包括:
在將起始IC裸片耦合到目標IC裸片的多條中介層跡線中的每一條上同步地接收開始模式;
在檢測到所述開始模式后初始化并行PRBS發生器;
執行來自所述并行PRBS發生器的參考PRBS與通過所述多條中介層跡線接收到的測試PRBS的按位比較;
如果所述多條中介層跡線中的任何中介層跡線發生故障,則基于所述按位比較識別所述多條中介層跡線中的哪些中介層跡線發生故障;以及
如果檢測到故障中介層跡線,則配置所述起始IC裸片和所述目標IC裸片,以避免使用所述故障中介層跡線。
9.根據權利要求8所述的方法,其中所述開始模式包括在所述多條中介層跡線中的每一條上同時發送的至少一個“0”,接著是在所述多條中介層跡線中的每一條上同時發送的“1”。
10.根據權利要求9所述的方法,其中所述初始化包含將預定種子值存儲在寄存器中,作為所述并行PRBS發生器的初始狀態。
11.根據權利要求10所述的方法,進一步包括:
迭代以在每個時鐘循環上從所述寄存器中的當前狀態產生后續狀態;
從所述寄存器中的每個位導出所述參考PRBS中的對應一個;以及
回顯從所述寄存器位導出的所述參考PRBS中的至少一個,以提供所述參考PRBS中的至少一個附加參考PRBS。
12.根據權利要求8所述的方法,其中所述起始IC裸片和所述目標IC裸片中的每一個包含復用器陣列,并且其中所述配置包含對所述復用器陣列進行編程,以使用一個或多個冗余中介層跡線圍繞所述故障跡線路由通信信號。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于默升科技集團有限公司,未經默升科技集團有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880064221.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于通過人工識別來確定光學設備的配適參數的方法和系統
- 下一篇:電機的轉子
- 同類專利
- 專利分類





