[發(fā)明專利]圖案曝光方法及圖案曝光裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880055472.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111263919B | 公開(公告)日: | 2022-06-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杉本重人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社V技術(shù) |
| 主分類號(hào): | G03F7/20 | 分類號(hào): | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 呂琳;樸秀玉 |
| 地址: | 日本神奈*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖案 曝光 方法 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種圖案曝光方法及圖案曝光裝置,該圖案曝光方法中,通過抑制無遮罩曝光的曝光圖像數(shù)據(jù)中平面角部上的邊緣誤差,以良好的精度形成被微細(xì)化的圖案。在曝光面上劃分光束的最小曝光單位,以最小曝光單位的集合特定曝光圖像數(shù)據(jù)中校正所需要的光束的接通區(qū)域,按接通區(qū)域內(nèi)的最小曝光單位累積光束的強(qiáng)度分布,并求出接通區(qū)域內(nèi)的累積強(qiáng)度分布,對(duì)累積強(qiáng)度分布與所設(shè)定的閾值進(jìn)行比較而求出在曝光面上連結(jié)累積強(qiáng)度分布與閾值一致的點(diǎn)而成的輪廓來作為累積強(qiáng)度輪廓(AIP),在接通區(qū)域的外側(cè)按最小曝光單位設(shè)定接通光束的接通單位來校正曝光圖像數(shù)據(jù),以使被接通區(qū)域的外緣和AIP包圍的差分面積變小。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種圖案曝光方法及圖案曝光裝置。
背景技術(shù)
關(guān)于在光刻等微細(xì)圖案加工中所使用的圖案曝光,已知一種基于曝光圖像數(shù)據(jù),在基板表面對(duì)被接通或斷開控制的光束(包括電子束)進(jìn)行掃描,并在基板上直接描繪圖案的無遮罩曝光。無遮罩曝光中的光束的接通或斷開控制中使用能夠進(jìn)行DMD(DigitalMicro-mirror Device:數(shù)字微鏡裝置)、LD或LED陣列等光調(diào)制元件陣列、光源陣列或灰階的控制的GLV(Grating light Valve:柵狀光閥)等(例如,參考下述專利文獻(xiàn)1)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開2007-94227號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的技術(shù)課題
上述以往的圖案曝光(無遮罩曝光)中,按光束的掃描間距或光調(diào)制元件陣列等陣列間隔確定能夠控制的曝光的最小單位,但在各個(gè)光束中存在強(qiáng)度分布(例如,高斯分布),因此在曝光圖像數(shù)據(jù)的邊緣(接通區(qū)域與斷開區(qū)域的邊界)中,所累積的曝光量不得不逐漸變低,在曝光圖像數(shù)據(jù)的邊緣線與實(shí)際顯影后得到的圖案的邊緣線之間產(chǎn)生小于上述最小單位的尺寸誤差,該情況會(huì)成為問題。
圖1(a)中,以網(wǎng)格線表示曝光的最小單位,且粗線表示曝光圖像數(shù)據(jù)的邊緣。在圖示的例中,將用粗線描繪的斷開區(qū)域的內(nèi)側(cè)設(shè)為光束的接通區(qū)域,將用粗線描繪的斷開區(qū)域的外側(cè)設(shè)為光束的斷開區(qū)域而形成了斷開區(qū)域的圖案,但該圖案根據(jù)抗蝕劑是負(fù)型還是正型而成為點(diǎn)圖案和孔圖案。從而,將斷開區(qū)域的內(nèi)側(cè)設(shè)為接通區(qū)域并將外側(cè)設(shè)為斷開區(qū)域,或者將斷開區(qū)域的內(nèi)側(cè)設(shè)為斷開區(qū)域并將外側(cè)設(shè)為接通區(qū)域是根據(jù)所使用的抗蝕劑和欲得到的凹凸圖案而適當(dāng)確定,因此本質(zhì)上無問題。
當(dāng)以這些曝光圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行圖案曝光時(shí),圖1(a)的A1-A2之間的光束的累積強(qiáng)度分布成為如圖1(b),若累積僅A1-A2的線上的光束的強(qiáng)度,則成為如P1~P7的分布,但當(dāng)累積了照射在其周邊全部的光束時(shí),成為以Pf表示的強(qiáng)度分布。此時(shí),若將強(qiáng)度Et設(shè)為抗蝕劑的顯影閾值,則通過顯影得到的圖案的邊緣成為被強(qiáng)度Et劃分的S1,且在與曝光顯影數(shù)據(jù)中邊緣S0之間產(chǎn)生誤差me。如圖1(a)所示,這些邊緣的誤差me在曝光圖像數(shù)據(jù)的圖案中的平面角部尤其明顯。此外,在此所述的角部當(dāng)然不僅包括凸?fàn)顖D案的角部還包括凹狀圖案的角部。
本發(fā)明是為了解決這些問題而提出的。即,本發(fā)明的課題為通過抑制無遮罩曝光的曝光圖像數(shù)據(jù)中平面角部上的邊緣誤差,以良好的精度形成被微細(xì)化的圖案等。
用于解決技術(shù)課題的手段
為了解決這些課題,本發(fā)明具備以下構(gòu)成。
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