[發(fā)明專利]眼鏡框形狀測定裝置及眼鏡框形狀測定程序

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880053887.7
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN111065883A
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 武市教兒;瀧井通浩;松井孝哲
• 申請（專利權(quán)）人: 尼德克株式會(huì)社
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 高培培;趙晶

一種眼鏡框形狀測定裝置，對眼鏡框架的形狀進(jìn)行測定，具備：投光光學(xué)系統(tǒng)，具有光源，從光源朝向眼鏡框架的鏡圈的槽照射測定光束；受光光學(xué)系統(tǒng)，通過檢測器接收由投光光學(xué)系統(tǒng)朝向眼鏡框架的鏡圈的槽照射且由眼鏡框架的鏡圈的槽反射的測定光束的反射光束；取得單元，基于由檢測器接收到的反射光束，取得眼鏡框架的鏡圈的槽的截面形狀；變更單元，變更反射光束的受光位置；以及控制單元，控制變更單元而以使檢測器接收鏡圈的槽的反射光束的方式變更反射光束的受光位置。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及用于得到眼鏡框架的形狀的眼鏡框形狀測定裝置及控制眼鏡框形狀測定裝置的眼鏡框形狀測定程序。

背景技術(shù)

已知一種眼鏡框形狀測定裝置，該眼鏡框形狀測定裝置通過向眼鏡框架的鏡圈插入測定件，并使測定件按壓于鏡圈而使其移動(dòng)，從而對鏡圈的輪廓進(jìn)行追蹤來測定鏡圈的形狀(例如，參照專利文獻(xiàn)1)。基于由該眼鏡框形狀測定裝置得到的鏡圈的測定結(jié)果(追蹤數(shù)據(jù))，得到用于將眼鏡透鏡嵌入鏡圈的形狀(目標(biāo)形狀)。并且，基于形狀決定眼鏡透鏡的輪廓形狀，通過眼鏡透鏡加工裝置加工透鏡的周緣。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開2015-007536號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

然而，為了將加工后的透鏡良好地放入到眼鏡框架，認(rèn)為鏡圈的形狀和加工后的透鏡的輪廓形狀越近越優(yōu)選。然而，在使用測定件的鏡圈形狀的測定中，雖然容易進(jìn)行按壓測定件的位置處的測定(例如，鏡圈的底的部分的測定)，但難以得到鏡圈的槽的截面形狀。

因此，發(fā)明人對具備如下結(jié)構(gòu)的眼鏡框形狀測定裝置進(jìn)行了研究：朝向眼鏡框架的鏡圈的槽照射測定光，接收由眼鏡框架的鏡圈的槽反射的測定光的反射光，并基于反射光取得眼鏡框架的鏡圈的槽的截面形狀的結(jié)構(gòu)。然而，在使用這樣的眼鏡框形狀測定裝置的情況下，根據(jù)眼鏡框架的形狀，有時(shí)難以在檢測器的規(guī)定的位置良好地接收鏡圈的槽的反射光束，難以取得鏡圈的槽的截面形狀。

鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)，本公開的技術(shù)課題在于提供能夠良好地取得各種形狀的眼鏡框架中的鏡圈的截面形狀的眼鏡框形狀測定裝置及眼鏡框形狀測定程序。

為了解決上述課題，本公開的特征在于具備以下的結(jié)構(gòu)。

(1)本發(fā)明的第一方式的眼鏡框形狀測定裝置是測定眼鏡框架的形狀的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，具備：投光光學(xué)系統(tǒng)，具有光源，從所述光源朝向眼鏡框架的鏡圈的槽照射測定光束；受光光學(xué)系統(tǒng)，具有檢測器，通過所述檢測器接收由所述投光光學(xué)系統(tǒng)朝向所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽照射且由所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽反射的所述測定光束的反射光束；取得單元，基于由所述檢測器接收到的所述反射光束，取得所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽的截面形狀；變更單元，變更所述反射光束的受光位置；以及控制單元，控制所述變更單元而以使所述檢測器接收所述鏡圈的槽的所述反射光束的方式變更所述反射光束的受光位置。

(2)本公開的第一方式的眼鏡框形狀測定程序是在對眼鏡框架的形狀進(jìn)行測定的眼鏡框形狀測定裝置中執(zhí)行的眼鏡框形狀測定程序，所述眼鏡框形狀測定裝置具備：投光光學(xué)系統(tǒng)，具有光源，從所述光源朝向眼鏡框架的鏡圈的槽照射測定光束；受光光學(xué)系統(tǒng)，具有檢測器，通過所述檢測器接收由所述投光光學(xué)系統(tǒng)朝向所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽照射且由所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽反射的所述測定光束的反射光束；以及取得單元，基于由所述檢測器接收到的所述反射光束，取得所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽的截面形狀，所述眼鏡框形狀測定程序的特征在于，所述眼鏡框形狀測定程序通過由所述眼鏡框形狀測定裝置的處理器執(zhí)行而使所述眼鏡框形狀測定裝置執(zhí)行如下控制步驟：控制對所述反射光束的受光位置進(jìn)行變更的變更單元而以使所述檢測器接收所述鏡圈的所述反射光束的方式變更所述鏡圈的槽的所述反射光束的受光位置。

附圖說明

圖1是眼鏡框形狀測定裝置的外觀概略圖。