[發明專利]眼鏡框形狀測定裝置及眼鏡框形狀測定程序

在審

• 申請號: 201880053887.7
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN111065883A
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 武市教兒;瀧井通浩;松井孝哲
• 申請（專利權）人: 尼德克株式會社
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 高培培;趙晶

1.一種眼鏡框形狀測定裝置，對眼鏡框架的形狀進行測定，其特征在于，具備：

投光光學系統，具有光源，從所述光源朝向眼鏡框架的鏡圈的槽照射測定光束；

受光光學系統，具有檢測器，通過所述檢測器接收由所述投光光學系統朝向所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽照射且由所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽反射的所述測定光束的反射光束；

取得單元，基于由所述檢測器接收到的所述反射光束，取得所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽的截面形狀；

變更單元，變更所述反射光束的受光位置；以及

控制單元，控制所述變更單元而以使所述檢測器接收所述鏡圈的槽的所述反射光束的方式變更所述反射光束的受光位置。

2.根據權利要求1所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述控制單元基于由所述檢測器接收到的所述反射光束，控制所述變更單元來變更所述反射光束的所述受光位置。

3.根據權利要求2所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述眼鏡框形狀測定裝置具備取得所述反射光束的所述受光位置的位置取得單元，

所述控制單元基于由所述位置取得單元取得的所述反射光束的所述受光位置，控制所述變更單元來變更所述反射光束的所述受光位置。

4.根據權利要求3所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述位置取得單元取得所述鏡圈的至少某個部位的所述反射光束的所述受光位置，

所述控制單元基于由所述位置取得單元取得的所述鏡圈的至少某個部位的所述受光位置，控制所述變更單元來變更所述鏡圈的槽的所述反射光束的所述受光位置。

5.根據權利要求3或4所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述取得單元基于由所述檢測器接收到的所述反射光束，取得所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽的截面圖像作為所述截面形狀，

所述位置取得單元解析所述截面圖像來取得所述截面圖像的位置，從而取得所述反射光束的所述受光位置，

所述控制單元基于由所述位置取得單元取得的所述截面圖像的位置，控制所述變更單元來變更所述鏡圈的槽的所述反射光束的受光位置。

6.根據權利要求2～5中任一項所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述控制單元控制所述變更單元而以在所述檢測器的規定的位置接收所述鏡圈的槽的所述反射光束的方式變更所述反射光束的所述受光位置。

7.根據權利要求6所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述控制單元取得所述規定的位置與所述受光位置之間的偏離信息，并基于所述偏離信息，控制所述變更單元來變更所述鏡圈的槽的所述反射光束的受光位置。

8.根據權利要求1～7中任一項所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述變更單元具有第一變更單元，該第一變更單元變更所述測定光束相對于所述眼鏡框架的所述鏡圈的槽的照射位置。

9.根據權利要求1～8中任一項所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述變更單元具有第二變更單元，該第二變更單元對所述受光光學系統接收所述反射光束的受光位置進行變更。

10.根據權利要求1～9中任一項所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述取得單元分別取得所述眼鏡框架的多個矢徑角位置的所述鏡圈的槽的截面形狀，并基于取得多個矢徑角位置的所述鏡圈的槽的截面形狀時的由所述控制單元控制的所述變更單元的變更信息，對所述截面形狀進行對位而取得所述鏡圈的槽的三維截面形狀。

11.根據權利要求1～10中任一項所述的眼鏡框形狀測定裝置，其特征在于，

所述控制單元在開始所述眼鏡框架的測定之后，控制所述變更單元而以使所述檢測器接收所述鏡圈的槽的所述反射光束的方式變更所述反射光束的受光位置。