[發(fā)明專利]帶應(yīng)力引導(dǎo)材料的集成電路封裝件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880053782.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111033704B | 公開(公告)日: | 2023-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | B·S·庫克;D·L·瑞維爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 德克薩斯儀器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/56 | 分類號(hào): | H01L21/56;H01L23/28;H01L27/04 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 李尚穎 |
| 地址: | 美國德*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 應(yīng)力 引導(dǎo) 材料 集成電路 封裝 | ||
一種包封的集成電路(100)包括集成電路(IC)管芯(102)和包封IC管芯(102)的包封材料(110)。包封材料(110)的第一部分是實(shí)心的,并且包封材料(110)的第二部分(120)包括填充有第二材料的空間。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路封裝件,其包括封裝件中的應(yīng)力引導(dǎo)材料。
背景技術(shù)
各個(gè)分立部件通常被制造在硅晶片上,然后被切割成獨(dú)立的半導(dǎo)體管芯并且被組裝在封裝件中。封裝件提供保護(hù)以防止撞擊和腐蝕,保持從外部電路連接到器件的接觸引腳或?qū)Ь€,并且散發(fā)器件中產(chǎn)生的熱量。
引線鍵合(wire bond)可以利用從封裝導(dǎo)線連接并且鍵合到半導(dǎo)體管芯上的導(dǎo)電焊盤的細(xì)線來使集成電路與封裝件的導(dǎo)線之間進(jìn)行連接。封裝件外部的導(dǎo)線可以被焊接到印刷電路板。現(xiàn)代的表面安裝器件消除了對(duì)穿過電路板的鉆孔的需要,并且在封裝件上具有短金屬導(dǎo)線或焊盤,這些短金屬導(dǎo)線或焊盤可以通過回流焊接來固定。
許多器件由環(huán)氧樹脂塑料模制而成,該環(huán)氧塑料提供對(duì)半導(dǎo)體器件的充分保護(hù)和支撐封裝件的導(dǎo)線和處理的機(jī)械強(qiáng)度。導(dǎo)線材料應(yīng)被選擇為具有與封裝材料相匹配的熱膨脹系數(shù)。
一些集成電路具有無導(dǎo)線封裝件,諸如四方扁平無導(dǎo)線(QFN)器件和雙扁平無導(dǎo)線(DFN)器件,這些器件將集成電路物理地和電氣地耦合到印刷電路板。扁平無導(dǎo)線器件(也稱為微導(dǎo)線框架(MLF)器件和小輪廓無導(dǎo)線(SON)器件)基于表面安裝技術(shù),該技術(shù)將集成電路連接到印刷電路板的表面而無需印刷電路板中的通孔。封裝件上的周邊面積(perimeter land)可以提供與印刷電路板的電耦合。
發(fā)明內(nèi)容
一種包封的集成電路,其包括集成電路(IC)管芯和包封該IC管芯的包封材料。包封材料的第一部分是實(shí)心的,并且包封材料的第二部分包括填充有第二材料的空間。
附圖說明
圖1至圖4是包封的集成電路(IC)的示例的橫截面視圖,該包封的集成電路包括包封材料內(nèi)的應(yīng)力引導(dǎo)結(jié)構(gòu)。
圖5是示例導(dǎo)線框架的一部分的俯視圖。
圖6A至圖6C、圖7A至圖7C和圖8A至圖8C是示出圖1至圖4的一些示例IC封裝件的制造的橫截面視圖。
圖9A至圖9B是示例IC封裝件的俯視圖和仰視圖,該示例IC封裝件包括包封材料內(nèi)的應(yīng)力引導(dǎo)結(jié)構(gòu)。
圖10是示出圖1至圖4的示例IC的制造的流程圖。
圖11是非均勻晶格結(jié)構(gòu)的示例。
具體實(shí)施方式
在附圖中,為了一致性,相似的元件由相似的附圖標(biāo)記表示。
用于半導(dǎo)體芯片/封裝件的環(huán)氧樹脂包封件通常用于為集成電路(IC)提供環(huán)境和機(jī)械保護(hù)的主要目的。按照慣例,必須在包封步驟之前或之后添加附加的封裝功能。執(zhí)行其他封裝步驟可能增加成本,并且限制可以執(zhí)行的工藝的功能。示例實(shí)施例包括一種包封IC的方法,其中執(zhí)行附加的封裝功能的結(jié)構(gòu)可以在包封的工藝期間創(chuàng)建。
包封的封裝件內(nèi)的不同材料可以針對(duì)熱誘導(dǎo)和/或機(jī)械誘導(dǎo)的應(yīng)力不同地膨脹或響應(yīng)。例如,包含在包封材料內(nèi)的二氧化硅顆粒可能向下按壓在管芯的敏感區(qū)域上,并且因此可能導(dǎo)致例如在半導(dǎo)體管芯上制造的電容器失諧。由包封材料產(chǎn)生的管芯上的機(jī)械或熱誘導(dǎo)應(yīng)力可能出現(xiàn)在包封的封裝件內(nèi)部的管芯上方和下方。
在一些應(yīng)用中,管芯上的這種應(yīng)力可能導(dǎo)致敏感電路失諧,并且應(yīng)將其最小化。可替代地,在一些應(yīng)用中,例如,這種應(yīng)力引起的失諧可以用作低成本的運(yùn)動(dòng)傳感器、聲學(xué)傳感器或壓力傳感器,在這種情況下,可能需要將朝向管芯的敏感區(qū)域的應(yīng)力放大。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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