[發(fā)明專利]電容器在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880048977.7 | 申請日: | 2018-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN110945643A | 公開(公告)日: | 2020-03-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 中川博;蘆峰智行;村瀨康裕 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社村田制作所 |
| 主分類號: | H01L21/822 | 分類號: | H01L21/822;H01G4/00;H01L21/316;H01L21/318;H01L27/04 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 金雪梅;王海奇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電容器 | ||
電容器(100)具備:基體材料(110),具有相互對置的第一主面(110A)和第二主面(110B),并在第一主面(110A)側(cè)形成有溝槽部(111);介電膜(130),在基體材料(110的第一主面(110A)側(cè)設(shè)置于包含溝槽部(111)的內(nèi)側(cè)的區(qū)域;導(dǎo)電體膜(140),具有第一導(dǎo)電體層(141)和第二導(dǎo)電體層(142),其中,上述第一導(dǎo)電體層(141)設(shè)置于包含溝槽部(111)的內(nèi)側(cè)的區(qū)域且是介電膜(130)上,上述第二導(dǎo)電體層(142)設(shè)置在第一導(dǎo)電體層(141)上;以及應(yīng)力緩和部(160),與第一導(dǎo)電體層(141)的端部的至少一部分接觸來設(shè)置,在基體材料(110)的第一主面(110A)中的溝槽部(111)的外側(cè),應(yīng)力緩和部(160)的厚度(T6)比導(dǎo)電體膜(140)的厚度(T4)小。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電容器。
背景技術(shù)
隨著所安裝的電子設(shè)備的高功能化,電容器需要進行電容密度的提高、耐電壓的改善等性能提高。為了提高電容器電容密度,公開有形成有由溝槽部構(gòu)成的電容器結(jié)構(gòu)的電容器。為了在高動作電壓下穩(wěn)定地動作,公開有將電容器的介電膜厚膜化的結(jié)構(gòu)。但是,若介電膜進行厚膜化,則有介電膜會因隨著膜厚而增大的介電膜的內(nèi)部應(yīng)力而損傷,且電容器的可靠性受損的可能。特別是在具有溝槽部的電容器的情況下,由于因設(shè)置了溝槽部而產(chǎn)生的基板的剛性的降低、朝向溝槽部的角部的應(yīng)力集中等,容易產(chǎn)生介電膜的損傷。
為了抑制由內(nèi)部應(yīng)力產(chǎn)生的介電膜的損傷,在專利文獻1中,公開了通過在第一主表面區(qū)域以及第二主表面區(qū)域這兩面具有電容器結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)、在第一主表面區(qū)域具有電容器結(jié)構(gòu)并在第二主表面區(qū)域具有補償結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu),來減少基板的變形的電容器。
專利文獻1:日本專利第5981519號公報
然而,上部電極的內(nèi)部應(yīng)力集中于上部電極的端部。若集中于該端部的內(nèi)部應(yīng)力被傳遞至介電膜,則存在介電膜損傷的可能。但是,在專利文獻1所記載的電容器中,可抑制基板的變形,但施加于第一主表面的內(nèi)部應(yīng)力本身并未減少,特別是集中于上部電極的端部的內(nèi)部應(yīng)力未得到緩和,所以存在無法充分地抑制介電膜的損傷的可能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于這樣的事情而完成的,其目的在于提供一種能夠提高可靠性的電容器。
本發(fā)明的一個方式的電容器還具備:基體材料,具有相互對置的第一主面和第二主面,并在第一主面?zhèn)刃纬捎袦喜鄄浚唤殡娔ぃ诨w材料的第一主面?zhèn)仍O(shè)置于包含溝槽部的內(nèi)側(cè)的區(qū)域;導(dǎo)電體膜,具有第一導(dǎo)電體層和第二導(dǎo)電體層,其中,第一導(dǎo)電體層設(shè)置在包含溝槽部的內(nèi)側(cè)的區(qū)域且是介電膜上,第二導(dǎo)電體層設(shè)置在第一導(dǎo)電體層上;以及應(yīng)力緩和部,與第一導(dǎo)電體層的端部的至少一部分接觸,在基體材料的第一主面中的溝槽部的外側(cè),應(yīng)力緩和層的厚度比導(dǎo)電體膜的厚度小。
本發(fā)明的另一方式的電容器具備:基體材料,具有相互對置的第一主面和第二主面,并在第一主面?zhèn)刃纬捎袦喜鄄浚唤殡娔ぃ诨w材料的第一主面?zhèn)仍O(shè)置于包含溝槽部的內(nèi)側(cè)的區(qū)域;導(dǎo)電體膜,具有第一導(dǎo)電體層和第二導(dǎo)電體層,其中,第一導(dǎo)電體層設(shè)置于包含溝槽部的內(nèi)側(cè)的區(qū)域且是介電膜上,第二導(dǎo)電體層,設(shè)置在第一導(dǎo)電體層上;以及應(yīng)力緩和部,與第一導(dǎo)電體層的端部的至少一部分接觸來設(shè)置,應(yīng)力緩和部的殘余應(yīng)力的朝向與第二導(dǎo)電體層的殘余應(yīng)力的朝向相反。
根據(jù)本發(fā)明,能提供一種能夠提高可靠性的電容器。
附圖說明
圖1是示意性地表示第一實施方式的電容器的結(jié)構(gòu)的剖視圖。
圖2是以圖1所示的電容器的應(yīng)力緩和層為中心的放大剖視圖。
圖3是表示第一實施方式的電容器的制造方法的流程圖。
圖4是表示在第一導(dǎo)電體層上設(shè)置SiO2膜的工序的剖視圖。
圖5是表示對SiO2膜進行圖案化來設(shè)置應(yīng)力緩和層的工序的剖視圖。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





