[發(fā)明專利]陶瓷電路基板及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880048695.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110945974B | 公開(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 湯淺晃正;原田祐作;中村貴裕;森田周平;西村浩二 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電化株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H05K1/09 | 分類號(hào): | H05K1/09;B23K1/00;B23K1/19;B23K35/30;C22C5/06;H01L23/13;H05K1/03;H05K3/38 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 楊宏軍;唐崢 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陶瓷 路基 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明提供一種具有高接合性及優(yōu)異的耐熱循環(huán)特性的陶瓷電路基板。一種陶瓷電路基板,其在陶瓷基板上隔著釬料層設(shè)置電路圖案,利用由電路圖案的外周溢出的釬料層形成有溢出部,釬料層含有Ag、Cu及Ti;和Sn或In,從溢出部外周起沿著陶瓷基板與電路圖案的接合界面朝著內(nèi)側(cè)連續(xù)地形成300μm以上的富Ag相,接合空隙率為1.0%以下。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種陶瓷電路基板及其制造方法。
背景技術(shù)
在電梯、車輛、混合動(dòng)力汽車等這樣的功率模塊用途中,使用在氧化鋁、氧化鈹、氮化硅、氮化鋁等的陶瓷基板的表面以釬料接合金屬電路板,再在金屬電路板的規(guī)定位置搭載半導(dǎo)體元件而成的陶瓷電路基板。
近年來(lái),伴隨著半導(dǎo)體元件的高功率化、高集成化,來(lái)自半導(dǎo)體元件的放熱量日趨增加。為了使該放熱高效地?cái)U(kuò)散,使用了具有高絕緣性、高導(dǎo)熱性的氮化鋁燒結(jié)體或氮化硅燒結(jié)體的陶瓷基板。
但是,由于陶瓷基板與金屬板的熱膨脹率大大不同,所以因反復(fù)的冷熱循環(huán)的負(fù)荷而在陶瓷基板與金屬板的接合界面產(chǎn)生由熱膨脹率差引起的熱應(yīng)力。特別是通過(guò)壓縮與拉伸的殘留應(yīng)力作用于接合部附近的陶瓷基板側(cè),在陶瓷基板中產(chǎn)生裂紋,導(dǎo)致接合不良或熱阻不良,具有作為電子設(shè)備的工作可靠性會(huì)降低等問(wèn)題。
因此,專利文獻(xiàn)1中提出如下構(gòu)造:從金屬板的底面溢出的釬料的長(zhǎng)度控制為大于30μm且為250μm以下,優(yōu)選為50μm~200μm,由此提高陶瓷電路基板的熱循環(huán)特性。
專利文獻(xiàn)2中提出有控制陶瓷電路基板的釬料層的溢出組織,以使富Ag相比富Cu相占有更多,由此抑制由蝕刻所致的釬料溢出部的溶解,防止釬料層溢出部的應(yīng)力緩和效果降低的方法。
專利文獻(xiàn)3中提出有以某一定的比率控制厚度和長(zhǎng)度而使釬料層溢出,由此使陶瓷電路基板的熱循環(huán)特性提高的方法。
【現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)】
【專利文獻(xiàn)】
【專利文獻(xiàn)1】日本特開2003-112980號(hào)公報(bào)
【專利文獻(xiàn)2】日本特開2005-268821號(hào)公報(bào)
【專利文獻(xiàn)3】國(guó)際公開第2107/056360號(hào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問(wèn)題
近來(lái)搭載在電動(dòng)汽車上的功率模塊中,存在高輸出功率化、高集成化進(jìn)一步急劇發(fā)展,施加到陶瓷電路基板的熱應(yīng)力進(jìn)一步增大的傾向。因此,為了保障功能安全性,從將目前為止的-40℃下冷卻15分鐘、室溫下保持15分鐘及125℃下加熱15分鐘、室溫下保持15分鐘的升溫/降溫循環(huán)作為1個(gè)循環(huán)的熱循環(huán)試驗(yàn)開始,到要求將目前為止的-55℃下冷卻15分鐘、室溫下保持15分鐘及175℃下加熱15分鐘、室溫下保持15分鐘的升溫/降溫循環(huán)作為1個(gè)循環(huán)的嚴(yán)苛的熱循環(huán)條件下的耐久性。尤其是通過(guò)冷卻溫度低溫化,從而有在陶瓷部產(chǎn)生的拉伸應(yīng)力增大,容易在陶瓷電路基板上產(chǎn)生裂紋的問(wèn)題。在這一點(diǎn)上,通過(guò)控制專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2及專利文獻(xiàn)3所記載的釬料層溢出的長(zhǎng)度、距離、比率、組織,從而能夠期待熱應(yīng)力的緩和效果。但是,在更嚴(yán)格的熱循環(huán)實(shí)驗(yàn)的條件下,有如下的情況:在銅電路圖案部的外周下的釬料層溢出部更大的熱應(yīng)力集中,位于釬料溢出部的根部附近的富Ag相與富Cu相的界面會(huì)開裂。此時(shí)釬料溢出部變短,無(wú)法得到應(yīng)力緩和效果,有在陶瓷電路基板上產(chǎn)生裂紋的問(wèn)題。
本發(fā)明申請(qǐng)的課題在于提供一種具有高接合性及優(yōu)異的耐熱循環(huán)特性的陶瓷電路基板及其制造方法。
用于解決問(wèn)題的手段
本發(fā)明人為了實(shí)現(xiàn)上述目的而深入努力的結(jié)果發(fā)現(xiàn):通過(guò)從陶瓷電路基板的釬料溢出部的外周起在電路圖案?jìng)?cè)使富Ag相連續(xù)化,減少富Ag相與富Cu相的界面,從而陶瓷電路基板的耐熱循環(huán)特性提高。本發(fā)明基于上述見解而完成。
即,本發(fā)明涉及以下內(nèi)容。
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