[發明專利]用于冷凍電子顯微鏡的氣相樣品制備

有效

• 申請號: 201880040096.0
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN110799824B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: J·庫恩;M·韋斯特法爾
• 申請（專利權）人: 威斯康星校友研究基金會
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N1/42
• 代理公司: 北京北翔知識產權代理有限公司 11285
• 代理人: 鄭建暉;鐘守期

1.一種制備用于冷凍電子顯微鏡(cryo-EM)的樣品的方法，包括以下步驟：

a)形成原子或分子的蒸汽流；

b)引導蒸汽流朝向基體表面，使原子或分子在真空下撞擊基體表面，其中基體表面處于-100℃或更低的溫度，從而在基體表面上形成原子或分子的無定形固體層，其中無定形固體層具有2微米或更小的厚度；

c)形成含有帶電或不帶電分析物顆粒的分析物束；和

d)使無定形固體層與分析物束接觸，從而將分析物顆粒嵌在沉積的無定形固體層之上或之內。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括在所述分析物顆粒已被嵌在無定形固體層上之后使無定形固體層與來自蒸汽流的原子或分子額外接觸。

3.根據權利要求1所述的方法，還包括在使基體表面與來自蒸汽流的原子或分子接觸的同時使無定型固體層與分析物束接觸。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中蒸汽流包含能夠形成無定形固體的分子或原子，所述分子或原子包含環己醇、甲醇、乙醇、異戊烷、水、O₂、Si、SiO₂、S、C、Ge、Fe、Co和Bi中的一種或多種。

5.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中蒸汽流包含水分子。

6.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中蒸汽流包含帶電分子。

7.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中基體為電子顯微鏡(EM)網格，其包含跨越EM網格的頂部表面或底部表面的連續的薄膜或隔膜。

8.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中蒸汽流的原子或分子在等于或小于10^-4Torr的壓力下接觸基體表面。

9.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中所述使無定形固體層與分析物束接觸的步驟在10^-4Torr的壓力下進行。

10.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，還包括使用冷凍電子顯微鏡分析無定形固體層之上或之內的所述分析物顆粒的步驟。

11.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中分析物束為離子束。

12.根據權利要求11所述的方法，其中離子束是使用電噴霧電離或激光解吸而產生的。

13.根據權利要求11所述的方法，其中分析物顆粒在非變性電噴霧條件下被離子化，以便不擾亂顆粒的結構構象。

14.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中分析物束為分子束。

15.根據權利要求14所述的方法，其中分析物分子束通過生成含有分析物顆粒的溶液的氣溶膠并將所述氣溶膠引入真空系統中而產生。

16.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中分析物束為顆粒束。

17.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中分析物束的特征在于強度選自每秒每1μm² 0.025至25個顆粒的范圍。

18.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中分析物束的特征在于至少90％的純度。

19.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中分析物束的特征在于至少90％的構象純度。