[發(fā)明專利]半導(dǎo)體元件基板的制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880033474.2 | 申請日: | 2018-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN110663097A | 公開(公告)日: | 2020-01-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 加藤光治 | 申請(專利權(quán))人: | X-VI株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/20;H01L21/265;H01L21/336;H01L27/12;H01L29/12;H01L29/78 |
| 代理公司: | 11277 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 劉新宇;張會華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜層 臨時基板 支承層 去除 半導(dǎo)體元件基板 半導(dǎo)體材料 薄膜形成工序 基板形成工序 元件形成工序 半導(dǎo)體元件 單晶 多晶 制造 | ||
1.一種半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其特征在于,
該半導(dǎo)體元件基板的制造方法包含以下工序:
薄膜形成工序,在該薄膜形成工序中,在第1臨時基板上形成由第4半導(dǎo)體材料構(gòu)成的分離用薄膜層;
基板形成工序,在該基板形成工序中,在所述分離用薄膜層上形成由第2半導(dǎo)體材料的單晶或多晶構(gòu)成的預(yù)定厚度的支承層且在所述支承層上形成由第3半導(dǎo)體材料的單晶構(gòu)成的第2薄膜層;
元件形成工序,在該元件形成工序中,在所述第2薄膜層形成半導(dǎo)體元件;以及
臨時基板去除工序,在所述元件形成工序后,在該臨時基板去除工序中,以所述分離用薄膜層為界去除所述第1臨時基板,由此得到在所述支承層上具有形成有半導(dǎo)體元件的所述第2薄膜層的半導(dǎo)體元件基板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其中,
所述第2半導(dǎo)體材料與所述第3半導(dǎo)體材料相同,所述支承層由所述第2半導(dǎo)體材料的單晶構(gòu)成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其中,
所述第1臨時基板是透光的基板,所述第4半導(dǎo)體材料包含Ga。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其中,
在所述基板形成工序中,在所述支承層上形成由第1半導(dǎo)體材料的單晶構(gòu)成的第1薄膜層,所述第2薄膜層形成在所述第1薄膜層上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其中,
所述基板形成工序包含以下工序:
第1接合工序,在該第1接合工序中,接合由所述第1半導(dǎo)體材料的單晶構(gòu)成的第1基板的一個表面和第2臨時基板;
第1分離工序,在該第1分離工序中,通過在距與所述第2臨時基板之間的接合面預(yù)定深度的位置分離所述第1基板,從而使所述第1基板的所述一個表面?zhèn)茸鳛榈?薄膜層殘留在所述第2臨時基板上;
支承層形成工序,在該支承層形成工序中,在殘留在所述第2臨時基板上的所述第1薄膜層上形成所述支承層;
第2接合工序,在該第2接合工序中,接合所述支承層的表面和形成在所述第1臨時基板上的所述分離用薄膜層的表面;
第2分離工序,在該第2分離工序中,通過去除所述第2臨時基板,從而得到在所述第1臨時基板上隔著所述分離用薄膜層形成有所述支承層和所述第1薄膜層的基板;以及
第1成膜工序,在該第1成膜工序中,在通過所述第2分離工序形成的基板的所述第1薄膜層上成膜所述第2薄膜層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其中,
所述基板形成工序包含以下工序:
第1接合工序,在該第1接合工序中,接合由所述第1半導(dǎo)體材料的單晶構(gòu)成的第1基板的一個表面和第2臨時基板;
第1分離工序,在該第1分離工序中,通過在距與所述第2臨時基板之間的接合面預(yù)定深度的位置分離所述第1基板,從而使所述第1基板的所述一個表面?zhèn)茸鳛榈?薄膜層殘留在所述第2臨時基板上;
第1成膜工序,在該第1成膜工序中,在殘留在所述第2臨時基板上的所述第1薄膜層上形成所述第2薄膜層;
支承層形成工序,在該支承層形成工序中,在所述第2薄膜層上形成所述支承層;
第2接合工序,在該第2接合工序中,接合所述支承層的表面和形成在所述第1臨時基板上的所述分離用薄膜層的表面;
第2分離工序,在該第2分離工序中,通過去除所述第2臨時基板,從而得到在所述第1臨時基板上隔著所述分離用薄膜層形成有所述支承層、所述第2薄膜層和所述第1薄膜層的基板;
第1去除工序,在該第1去除工序中,從通過所述第2分離工序形成的基板中去除所述第1薄膜層。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的半導(dǎo)體元件基板的制造方法,其中,
該半導(dǎo)體元件基板的制造方法包含氫層形成工序,在該氫層形成工序中,在所述第1基板的距所述一個表面所述預(yù)定深度的位置注入氫離子而形成氫層,
在所述第1分離工序中,以所述氫層為界分離所述第1基板。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于X-VI株式會社,未經(jīng)X-VI株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880033474.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





