[發明專利]測試裝置與用于測試電路板的方法

有效

• 申請號: 201880015627.0
• 申請日: 2018-02-09
• 公開（公告）號: CN110383091B
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發明（設計）人: 克里斯蒂安·溫德爾;貝恩德-烏利齊·奧特;彼得·勃蘭特
• 申請（專利權）人: 艾克斯塞拉公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;王朝輝

本發明涉及一種測試裝置以及一種用于測試電路板(特別是未經裝配或經部分裝配的電路板)的方法。測試裝置為具有梭或兩個子梭的飛針，梭或兩個子梭可以交替方式將待測試的電路板位移至測試區域。另外，子梭可用于共同固持大型電路板。

技術領域

本發明涉及一種測試裝置以及一種用于測試電路板的方法。

背景技術

用于測試電路板的測試裝置可一般分成兩組，一組為飛針(flying probes) 且一組為并行測試裝置。并行測試裝置為借助配接器同時接觸待測試的電路板的所有或至少大部分的接觸點的測試裝置。飛針為借助二或更多個測試指狀物 (test finger)測試未經裝配的、經部分裝配的或經裝配的電路板，進而掃描獨立接觸點的測試裝置。

測試指狀物通常被緊固至支架，該支架可沿著橫動裝置位移，其中所述橫動裝置本身繼而被導引并可沿著導引軌位移。測試指狀物中的每一個包含樞軸臂(pivot arm)，在該樞軸臂的末端處具有接觸電路板的接觸尖端。測試指狀物以及他們的接觸尖端因此可借助位移支架并旋轉樞軸臂而定位在通常為矩形的測試場的任何位置處。為了接觸待測試的電路板的接觸點，支架被配置為可在橫動裝置上垂直地位移，或者測試指狀物被配置為可在支架上垂直地移動，使得測試指狀物可分別從上方或從下方放到電路板的接觸點、電路板測試點上。

EP 0 468 153 A1描述了一種飛針，且EP 0 853 242 A1描述了一種借助飛針測試電路板的方法。EP 1 451 594 B1、US 6,384,641 B1、WO 03/096037 A1及 EP 0 990 912A2公開了用于飛針的測試探針。

已知地，對此飛針提供至少兩個可位移接觸指狀物，以允許到達在第一坐標方向中沿著橫動軸彼此隔開的測試點，且在測試場上方提供多個橫動裝置，且(至少對于在雙面上印刷的電路板的測試)在測試場下方提供多個橫動裝置，以允許到達在橫向于橫動軸的第二坐標方向中沿著橫動軸彼此隔開的測試點。原則上，在電容性測量時，可僅使用一個測試指狀物來測試導體路徑。理論上，在此情況中，將僅需要一個測試指狀物。然而較佳的是在軌道上布置兩個測試指狀物，由于歐姆測量需要閉合電路，且由此需要兩個測試指狀物。使用利用飛針的自動化測試方法的關鍵因素是橫動裝置相對于彼此以及相對于測試場的位置是準確地已知的。在EP 0 468 153 A1所描述的飛針中，橫動裝置可位移地安裝在相對于測試指狀物的位移方向垂直的框架中。歸因于在位移橫動裝置時的在許多情況中無法避免的間距(clearance)，橫動裝置的距離具有某一范圍的公差，且取決于所使用的驅動系統，橫動裝置的距離舍棄某一范圍的公差且歸因于滑動事件而必需經重新調整。對于至少四個橫動裝置所涉及的調整和校準處理是復雜的，并且經常導致不精確。

此外，其中橫動裝置固定地布置在框架中的飛針是已知的。由于橫動裝置獨立地懸吊在電路板上方和下方的框架上，橫動裝置必需獨立且小心地調整。可根據橫動裝置之間的距離來優化樞軸臂的長度，以能夠由最佳的方式到達橫動裝置之間的測試場。若要對更改的處理條件(例如，因為要增加或減小掃描密度)來適配或調整此飛針，則要安裝額外的橫動裝置或者移除或重新布置現有的橫動裝置。這需要相當多的努力以相對于彼此及測試場調整橫動裝置，并需要校準軟件。

EP 0 458 280 A2公開了一種用于測試電路板的裝置，該裝置包含多個可分開位移的橫動裝置，其中在每個橫動裝置上提供具有接觸指狀物的測試頭，該接觸指狀物接觸電路板的接觸點。

EP 1 217 382 A2公開了另一種用于測試電路板的裝置，該裝置包含可位移的橫動裝置。可位移的橫動裝置中的每一個具有可移動地布置在其上的測試頭，在該測試頭上布置接觸指狀物以接觸電路板的測試點。

歸因于亦經由電路板的導體路徑發送高頻信號的事實，越來越小型化的電路板導致相當多的問題。為了能夠正確地經由導體路徑發送高頻信號，導體路徑必需不具有過量的電阻。導體路徑的電阻一般必需小于或等于預定電阻，預定電阻可在1μΩ至100Ω的范圍中。然而，在生產電路板時不能總是確保觀察此電阻值。