[發(fā)明專(zhuān)利]測(cè)試裝置與用于測(cè)試電路板的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201880015627.0
• 申請(qǐng)日: 2018-02-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110383091B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 克里斯蒂安·溫德?tīng)?/a>;貝恩德-烏利齊·奧特;彼得·勃蘭特
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 艾克斯塞拉公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;王朝輝

1.一種用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其中該測(cè)試裝置包含被配置以接觸待測(cè)試的電路板的電路板測(cè)試點(diǎn)的多個(gè)測(cè)試指狀物，且所述測(cè)試指狀物分別設(shè)有一測(cè)試探針，其中所述測(cè)試指狀物可移動(dòng)以使得所述測(cè)試指狀物可利用其測(cè)試探針接觸一預(yù)定測(cè)試區(qū)域中的任何點(diǎn)，且提供一梭以將電路板在接收區(qū)域與預(yù)定的測(cè)試區(qū)域之間運(yùn)輸，其特征在于，該梭系由兩個(gè)子梭形成，每個(gè)子梭被布置在一平面中并可沿著該接收區(qū)域與該預(yù)定的測(cè)試區(qū)域之間的位移路徑位移，其中，所述位移路徑平行且鄰接彼此延伸，且所述子梭中的每一個(gè)包含固持區(qū)域，其中分別可借助一個(gè)或多個(gè)固持組件來(lái)固持一個(gè)電路板，

其中，所述子梭被形成為在面向該相應(yīng)的另一子梭的一側(cè)上打開(kāi)，使得電路板可在兩個(gè)固持區(qū)域上方延伸并同時(shí)由兩個(gè)子梭固持。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中，每個(gè)子梭包含兩個(gè)平行的固持臂，所述兩個(gè)固持臂限定用于分別接收一個(gè)電路板的該固持區(qū)域，其中所述兩個(gè)固持臂被配置為可關(guān)于彼此間的距離變化。

3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其中，所述子梭中的一個(gè)的所述兩個(gè)固持臂分別緊固至一支架，該支架可沿著一梭軌構(gòu)件位移。

4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其中所述支架借助一間隔件耦接至彼此，可借助該間隔件調(diào)整所述兩個(gè)固持臂之間的距離。

5.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其中，所述子梭中的一個(gè)的兩個(gè)支架中的至少一個(gè)是形成為具有一驅(qū)動(dòng)裝置用以沿著該梭軌構(gòu)件移動(dòng)該支架。

6.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其中，所述固持組件分別被布置在所述固持臂中的一個(gè)的邊緣上，該邊緣面向該相同子梭的該相應(yīng)的另一固持臂。

7.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中，在該接收區(qū)域中提供了用于自動(dòng)對(duì)所述子梭裝載/卸除該電路板的裝載/卸除裝置，且所述子梭的該位移路徑被形成為如此長(zhǎng)以使得該接收區(qū)域獨(dú)立于該預(yù)定的測(cè)試區(qū)域，使得子梭可在該接收區(qū)域處裝載/卸除且同時(shí)該另一子梭位于該預(yù)定的測(cè)試區(qū)域處以測(cè)試電路板。

8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中，接收組件位于至少在該接收區(qū)域中的所述子梭下方以接收電路板。

9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其中，該接收組件包含開(kāi)口朝上的多個(gè)吸嘴，所述吸嘴被布置為分布在一水平平面中。

10.如權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其中，所述吸嘴在至少兩個(gè)突出部中形成，所述至少兩個(gè)突出部被定向?yàn)槠叫杏趯?dǎo)引軌，在所述導(dǎo)引軌上所述測(cè)試指狀物被安裝為可位移。

11.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其中，該接收組件具備一舉升構(gòu)件以使該接收組件的高度可調(diào)整。

12.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中，該測(cè)試裝置包含一攝影機(jī)以?huà)呙璐郎y(cè)試的電路板，該待測(cè)試的電路板由子梭固持。

13.一種用于使用如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置測(cè)試電路板的方法，其中，在第一測(cè)試處理中借助多個(gè)測(cè)試指狀物掃描位于第一子梭中的待測(cè)試的電路板，且同時(shí)對(duì)第二子梭卸除并裝載另一待測(cè)試的電路板，其中在該第一測(cè)試處理實(shí)質(zhì)上完成時(shí)，該第二子梭朝向預(yù)定的測(cè)試區(qū)域位移以便在第二測(cè)試處理中借助所述測(cè)試指狀物掃描該電路板。

14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，借助攝影機(jī)在經(jīng)受所述測(cè)試指狀物的掃描之前檢測(cè)該第二子梭中的該電路板，以確定該電路板相對(duì)于該第二子梭的位置。

15.一種用于使用如權(quán)利要求8-12中任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置測(cè)試電路板的方法，其中在第一電路板的測(cè)試處理終止之后，此第一電路板借助一個(gè)或兩個(gè)子梭位移至接收區(qū)域、放置到接收組件上或由握持臂拾取，且另一第二電路板借助該握持臂或該接收組件放置在一個(gè)或兩個(gè)子梭中，該第二電路板被位移至該測(cè)試區(qū)域，且該第一電路板借助該握持臂在接收區(qū)域中由該接收組件拾取并保存在所述接收區(qū)域和測(cè)試區(qū)域外部，或直接借助該握持臂拾取。