[發(fā)明專利]用于過(guò)敏原檢測(cè)的系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201880013163.X
• 申請(qǐng)日: 2018-02-21
• 公開（公告）號(hào): CN110325841A
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: A·吉爾博-格芬;G·J·金茲;A·J·揚(yáng);P·墨菲;J·G·安東尼;P·弗萊明;B·格爾曼;R·格里斯武德;B·理查德森
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 多茨技術(shù)公司
• 主分類號(hào): G01N21/64
• 分類號(hào): G01N21/64;C12M1/34;C12M3/00;G01N30/88;G02B27/00;G06K7/12
• 代理公司: 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;鄭特強(qiáng)

1.一種用于檢測(cè)信號(hào)的光學(xué)系統(tǒng)，包括：

(a)激發(fā)光學(xué)器件，包括：

(i)具有光譜范圍的光源，被配置成用于將激發(fā)光傳輸?shù)焦鈱W(xué)檢測(cè)腔室；

(ii)一個(gè)或多個(gè)激發(fā)過(guò)濾器，被配置為選擇來(lái)自光源的光的特定激發(fā)波長(zhǎng)，其中選擇至少三個(gè)不同的光波長(zhǎng)頻帶，一個(gè)吸收頻帶用于確定所述光學(xué)檢測(cè)腔室中存在檢測(cè)試劑，其中，所述檢測(cè)試劑是涂有與所關(guān)注的過(guò)敏原結(jié)合的配體的磁性顆粒，一個(gè)散射頻帶用于檢測(cè)從所述光學(xué)檢測(cè)腔室內(nèi)的測(cè)試樣本的表面散射的光，以及一個(gè)熒光頻帶被配置成用于檢測(cè)源自所述配體和所關(guān)注的分析物的特定相互作用的熒光信號(hào)；和

(iii)可選光學(xué)器件，能夠限制光路；

(b)發(fā)射光學(xué)器件，能操作以收集來(lái)自所述測(cè)試樣本的熒光發(fā)射，包括

(i)一個(gè)或多個(gè)發(fā)射過(guò)濾器，能操作以基本僅允許具有發(fā)射頻帶中的波長(zhǎng)的光到達(dá)檢測(cè)器；

(ii)可選光學(xué)器件，被配置為收集和限制發(fā)射的光；

(iii)能夠測(cè)量來(lái)自所述測(cè)試樣本的信號(hào)的檢測(cè)器；

(c)散射光學(xué)器件，能操作以測(cè)量散射光信號(hào)；

(d)吸收光學(xué)器件，能操作以在光學(xué)讀數(shù)之前測(cè)量光吸收。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)系統(tǒng)，其中(a)的所述激發(fā)過(guò)濾器是帶通過(guò)濾器，其與所述光源一起使用，以限制照射波長(zhǎng)的范圍。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)系統(tǒng)，其中，控制所述光路的所述可選光學(xué)器件選自于由聚焦透鏡、二向色分束器和二向色鏡組成的組。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)系統(tǒng)，其中，所述檢測(cè)器選自于由光電二極管、互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)檢測(cè)器、光電倍增管(PMT)、微通道板檢測(cè)器、量子點(diǎn)光電導(dǎo)體、光電晶體管、光敏電阻、有源-像素傳感器(APS)、氣體電離檢測(cè)器和電荷耦合器件(CCD)檢測(cè)器組成的組。

5.一種用于檢測(cè)食品樣本中存在或不存在過(guò)敏原的檢測(cè)系統(tǒng)，包括：

(a)用于收集懷疑含有一種或多種所關(guān)注的過(guò)敏原的食品樣本的裝置；

(b)一次性檢測(cè)盒，被配置成用于處理所述食品樣本并使檢測(cè)試劑與所述食品樣本中存在的一種或多種所述過(guò)敏原接觸；

(c)檢測(cè)設(shè)備，被配置成用于操作過(guò)敏原檢測(cè)測(cè)試和測(cè)量，并使得來(lái)自所述檢測(cè)試劑與所述食品樣本中存在的一種或多種過(guò)敏原之間的結(jié)合相互作用的信號(hào)可視化。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)系統(tǒng)，其中，所述檢測(cè)系統(tǒng)包括：

(a)食品取樣器，用于收集所述食品樣本；

(b)至少一個(gè)一次性測(cè)試杯，包括用于插入(a)的所述食品取樣器的端口；以及

(c)檢測(cè)設(shè)備，具有用于安放(b)的所述測(cè)試杯的配合平面。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)系統(tǒng)，其中，所述食品取樣器從遠(yuǎn)端到近端包括柱塞、裙部和取樣器，其中，所述取樣器的近端包括用于切割測(cè)試樣本的切割刃。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)系統(tǒng)，其中，所述食品取樣器的所述柱塞包括位于極近端處的密封件。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)系統(tǒng)，其中，所述取樣器的切割刃是刀片、平刃、鋒刃、具有各種齒數(shù)的鋸齒狀刃、鋒利鋸齒狀刃或薄壁刃。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)系統(tǒng)，其中，所述一次性測(cè)試杯(b)包括：

(i)杯頂蓋；

(ii)杯體；

(iii)杯底部組件；以及

(iv)均質(zhì)化轉(zhuǎn)子；

其中所述杯底部組件提供用于連接到所述檢測(cè)設(shè)備的配合平面的接口。