[發(fā)明專利]無人飛行器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880012823.2
• 申請日: 2018-05-01
• 公開（公告）號: CN110337585A
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發(fā)明（設計）人: 青山朋樹;中村龍人
• 申請（專利權）人: 株式會社堀場制作所
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;B64C13/20;B64C27/08;B64C39/02
• 代理公司: 北京信慧永光知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 李成必;李雪春

本發(fā)明提供一種無人飛行器，能夠在空中移動并對規(guī)定的測量對象進行熒光X射線分析，所述無人飛行器的特征在于包括：飛行器主體；熒光X射線分析裝置，具有：X射線照射裝置，與所述飛行器主體連接，向所述測量對象照射X射線；以及熒光X射線檢測裝置，檢測通過所述X射線的照射從所述測量對象產(chǎn)生的熒光X射線；以及測距裝置，測量所述測量對象與所述熒光X射線檢測裝置之間的距離。

技術領域

本發(fā)明涉及一種能夠在空中移動并對規(guī)定的測量對象進行熒光X射線分析的無人飛行器。

背景技術

以往，作為用于進行試樣分析的裝置利用向試樣照射一次X射線來對組成進行分析的熒光X射線分析裝置。熒光X射線分析裝置利用檢測器檢測向試樣照射一次X射線時產(chǎn)生的熒光X射線(二次X射線)，能夠根據(jù)檢測到的熒光X射線的光譜分布等，進行包含在試樣中的元素的確定和該元素的濃度計算等。

作為熒光X射線分析裝置例如開發(fā)并普及了在專利文獻1中公開的可移動的熒光X射線分析裝置，用于應對如下需求：想要由熒光X射線分析裝置分析不能進入試樣室的大型試樣或不能進行取樣的試樣，以及想要在制造現(xiàn)場或發(fā)掘現(xiàn)場等現(xiàn)場容易地對工業(yè)產(chǎn)品或考古學試樣等多種試樣進行熒光X射線分析。

但是，盡管開發(fā)并普及了這種可移動的熒光X射線分析裝置，但是例如在海拔高的山的地表面或放射線量高的地域，操作員難以直接前往現(xiàn)場來進行熒光X射線分析。在引用文獻2中公開了在氣球或飛機等飛行器中搭載熒光X射線分析裝置等測量裝置，但是其捕獲懸浮在空中的顆粒狀物質(zhì)并進行元素分析，而不能精度良好地進行地表面等的元素分析。

現(xiàn)有技術文獻

專利文獻1：日本專利公開公報特開2010-197229號

專利文獻2：日本專利公開公報特開2003-315244號

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種無人飛行器，即使在人難以進入的場所也能夠精度良好地進行熒光X射線分析。

本發(fā)明提供一種無人飛行器，能夠在空中移動并對規(guī)定的測量對象進行熒光X射線分析，所述無人飛行器的特征在于包括：飛行器主體；熒光X射線分析裝置，具有：X射線照射裝置，與所述飛行器主體連接，向所述測量對象照射X射線；以及熒光X射線檢測裝置，檢測通過所述X射線的照射從所述測量對象產(chǎn)生的熒光X射線；以及測距裝置，測量所述測量對象與所述熒光X射線檢測裝置之間的距離。

按照這種結(jié)構，即使例如海拔高的山的地表面，也能夠使該無人飛行器接近并容易進行熒光X射線分析。此外，由于該無人飛行器的使用者自身不需要接近調(diào)查現(xiàn)場，所以即使在放射線量高的地域的調(diào)查中，也能夠通過使不存在由暴露產(chǎn)生的健康危害風險的無人飛行器接近，進行精度更高的熒光X射線分析，而不存在使用者接近調(diào)查現(xiàn)場時產(chǎn)生的時間限制。

此外，在熒光X射線分析中，根據(jù)產(chǎn)生熒光X射線的測量對象與熒光X射線檢測器之間的距離變動，檢測的熒光X射線的光譜強度變動，但是在本發(fā)明中，由于能夠利用測距裝置來取得測量對象與熒光X射線檢測裝置之間的距離，所以能夠基于取得的距離信息，對由熒光X射線分析得到的熒光X射線的光譜強度的變動進行修正。此外，能夠基于取得的距離信息，將熒光X射線檢測裝置與測量對象之間的距離保持為固定。由此能夠進行更準確的定量分析。

另外，在本說明書中，“測量對象與熒光X射線檢測裝置之間的距離”是指：為了通過運算來計算從測量對象產(chǎn)生的熒光X射線在大氣中移動直到被熒光X射線檢測裝置檢測為止的期間的熒光X射線的強度的衰減量所需要的距離。測量對象與熒光X射線檢測裝置之間的距離可以由測距裝置直接測量，或者可以通過對測量對象與熒光X射線檢測裝置之間的距離以外的距離進行換算來間接測量。