[實用新型]一種太赫茲時域光譜儀及指甲檢測系統有效
| 申請號: | 201822279139.0 | 申請日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN209400413U | 公開(公告)日: | 2019-09-17 |
| 發明(設計)人: | 楊少壯;李辰 | 申請(專利權)人: | 深圳市太赫茲科技創新研究院;雄安華訊方舟科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/3586 | 分類號: | G01N21/3586;G01N21/3563 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人: | 高星 |
| 地址: | 518102 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太赫茲波 拋物面鏡 太赫茲時域光譜儀 待檢測樣品 探測光 聚焦 太赫茲輻射 分析模塊 光源傳輸 檢測系統 探測天線 樣品電流 分束片 樣品倉 指甲 信號進行處理 成分信息 多次反射 光學延遲 激光光束 結構參數 天線產生 激光器 泵浦光 預設 天線 采集 | ||
1.一種太赫茲時域光譜儀,其特征在于,包括:
激光器;
設置于所述激光器的輸出光路上,被配置為將所述激光光束按預設比例分為泵浦光和探測光的分束片;
設置于所述分束片的透射光路上,被配置為在所述泵浦光和偏置電壓的共同驅動下產生太赫茲波的太赫茲輻射天線;
設置于所述太赫茲輻射天線的輸出光路上,被配置為將所述太赫茲波進行第一次聚焦后輸出的第一拋物面鏡;
設置于所述第一拋物面鏡的反射光路上,被配置為使所述第一次聚焦后的太赫茲波透過待檢測樣品的樣品倉;
設置于所述樣品倉的透射光路上,被配置為對透過所述待檢測樣品的太赫茲波進行第二次聚焦后輸出的第二拋物面鏡;
設置于所述分束片的反射光路上,被配置為對所述探測光進行多次反射和調節光學延遲時間的光源傳輸模塊;
設置于所述第二拋物面鏡的透射光路以及所述光源傳輸模塊的反射光路上,被配置為在同時接收到所述第二次聚焦后的太赫茲波和所述探測光時,產生樣品電流信號的太赫茲探測天線;以及
與所述太赫茲輻射天線、所述太赫茲探測天線以及所述光源傳輸模塊連接,被配置為向所述太赫茲輻射天線輸出所述偏置電壓、對所述樣品電流信號進行處理、控制及采集后得到所述待檢測樣品的結構參數和/或成分信息的分析模塊。
2.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述激光器為飛秒激光器。
3.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述光源傳輸模塊包括:
多個反射鏡片,所述反射鏡片用于對所述探測光進行反射以調節光學延遲時間。
4.根據權利要求3所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述反射鏡片為可移動反射鏡片。
5.根據權利要求4所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述分析模塊與所述可移動反射鏡片通過電纜進行連接,所述分析模塊控制所述可移動反射鏡片的移動。
6.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述分析模塊為工控機或者個人計算機。
7.根據權利要求1或者6所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述分析模塊與所述太赫茲輻射天線、所述太赫茲探測天線及所述光源傳輸模塊通過電纜進行連接。
8.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述太赫茲波的頻率為0.1THz-10 THz。
9.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜儀,其特征在于,所述樣品倉包括:被配置為容納所述待檢測樣品的樣品架。
10.一種指甲檢測系統,其特征在于,包括如權利要求1-9任一項所述太赫茲時域光譜儀。
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