[實(shí)用新型]一種射頻電路的測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201822276190.6
• 申請(qǐng)日: 2018-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN209542785U
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-10-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 俞江;蒙冠顯
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳市鼎耀科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 深圳鼎合誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44281
• 代理人: 彭家恩;彭愿潔

一種射頻電路的測(cè)試裝置，其主要包括載臺(tái)、升降機(jī)構(gòu)、調(diào)整機(jī)構(gòu)和底座。其中，載臺(tái)用于放置射頻電路；升降機(jī)構(gòu)包括垂直設(shè)置的培林柱和與培林柱間隙配合的測(cè)試板，測(cè)試板位于載臺(tái)的上方并沿培林柱進(jìn)行垂直升降，測(cè)試板上設(shè)有SMA高頻連接器，SMA高頻連接器用于將所述射頻電路連接至一測(cè)試儀器；調(diào)整機(jī)構(gòu)設(shè)置于培林柱的頂端，通過(guò)一連桿與測(cè)試板連接，用于調(diào)整測(cè)試板的升降位置；載臺(tái)和培林柱均固定在底座上。本測(cè)試裝置由于通過(guò)升降機(jī)構(gòu)和調(diào)整機(jī)構(gòu)來(lái)控制SMA高頻連接器與射頻電路的接觸狀態(tài)，使得射頻電路的測(cè)試過(guò)程得以簡(jiǎn)化，避免了以往焊接連線的不便情形，利于提高射頻電路的測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及射頻電路，具體涉及一種射頻電路的測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

在電子技術(shù)領(lǐng)域，射頻電路的特性不同于普通的低頻電路，主要原因是在高頻條件下，電路的特性與低頻條件下不同，雜散電容和雜散電感對(duì)電路的影響很大，其中，雜散電感存在于導(dǎo)線連接以及組件本身存在的內(nèi)部自感，雜散電容存在于電路的導(dǎo)體之間以及組件和地之間。

通常，射頻電路在工作時(shí)會(huì)存在趨膚效應(yīng)，與直流不同的是，在直流條件下電流在整個(gè)導(dǎo)體中流動(dòng)，而在高頻條件下電流在導(dǎo)體表面流動(dòng)，其結(jié)果是高頻的交流電阻要大于直流電阻。此外，射頻電路的另一個(gè)問(wèn)題是電磁輻射效應(yīng)，隨著頻率的增加，電路會(huì)變?yōu)橐粋€(gè)輻射體，這時(shí)，在電路之間、電路和外部環(huán)境之間會(huì)產(chǎn)生各種耦合效應(yīng)，因而會(huì)引出許多干擾問(wèn)題，這些問(wèn)題在低頻電路下往往是無(wú)關(guān)緊要。

正是由于射頻電路的特殊性，使得對(duì)射頻電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)不能夠采用探針型的普通測(cè)試裝置。例如，工裝上使用探針測(cè)試射頻電路板時(shí)，一者存在阻抗不匹配的問(wèn)題，探針測(cè)試會(huì)縮短測(cè)試電纜線屏蔽網(wǎng)層的長(zhǎng)度，提高整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的阻抗，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確；二者存在屏蔽效果差的問(wèn)題，探針測(cè)試會(huì)不可避免的縮短屏蔽網(wǎng)層，致使部分信號(hào)受到外界干擾，使得整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的屏蔽效果減弱，也會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。因此，利用探針型測(cè)試裝置對(duì)射頻電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)存在測(cè)試結(jié)果不可靠的弊端。

當(dāng)前，工業(yè)上對(duì)射頻電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)，往往會(huì)采用射頻電纜焊接的方式將射頻電路連接至測(cè)試儀器，以此來(lái)增強(qiáng)射頻電路以及信號(hào)傳輸過(guò)程中的抗干擾能力，提高射頻電路測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定效果。但是，這種測(cè)試情形還存在一些問(wèn)題：(1)裝焊射頻接頭線纜的焊盤(pán)最少有3次受熱過(guò)程，即裝焊射頻接頭線纜、拆除射頻接頭線纜、焊接元器件，如此多次熱沖擊會(huì)對(duì)射頻電路上的焊盤(pán)產(chǎn)生影響，如有操作不當(dāng)，會(huì)造成焊盤(pán)脫落或焊盤(pán)周?chē)鹌さ默F(xiàn)象；(2)對(duì)同一個(gè)焊點(diǎn)的焊接需要進(jìn)行3次操作，增加了操作工時(shí)，制約了射頻電路的測(cè)試效率，不利于規(guī)模化的電路測(cè)試要求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明主要解決的技術(shù)問(wèn)題是如何可靠、便捷地對(duì)射頻電路進(jìn)行測(cè)試。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N射頻電路的測(cè)試裝置，包括：

載臺(tái)，用于放置射頻電路；

升降機(jī)構(gòu)，包括垂直設(shè)置的培林柱和與所述培林柱間隙配合的測(cè)試板，所述測(cè)試板位于所述載臺(tái)的上方并沿所述培林柱進(jìn)行垂直升降，所述測(cè)試板上設(shè)有SMA高頻連接器，所述SMA高頻連接器用于將所述射頻電路連接至一測(cè)試儀器；

調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述調(diào)整機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述培林柱的頂端，與所述測(cè)試板連接，用于調(diào)整所述測(cè)試板的升降位置。

所述的測(cè)試裝置還包括底座，所述載臺(tái)固定設(shè)于所述底座的上表面；所述升降機(jī)構(gòu)的培林柱有多個(gè)，并列固定在所述底座的上表面，所述測(cè)試板與各個(gè)所述培林柱間隙配合。

所述測(cè)試板上設(shè)有多個(gè)分別適應(yīng)于各個(gè)所述培林柱的軸承，所述測(cè)試板通過(guò)各個(gè)所述軸承與各個(gè)所述培林柱進(jìn)行間隙配合。

所述升降機(jī)構(gòu)還包括固定架，所述固定架與各個(gè)所述培林柱的頂端連接，用于對(duì)各個(gè)所述培林柱的頂端進(jìn)行固定。

所述調(diào)整機(jī)構(gòu)為快速夾手，所述快速夾手固定在所述固定架上，并與所述測(cè)試板進(jìn)行活動(dòng)連接，通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)所述快速夾手來(lái)調(diào)整所述測(cè)試板的升降位置。