[實用新型]一種射頻電路的測試裝置有效
| 申請號: | 201822276190.6 | 申請日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN209542785U | 公開(公告)日: | 2019-10-25 |
| 發明(設計)人: | 俞江;蒙冠顯 | 申請(專利權)人: | 深圳市鼎耀科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281 | 代理人: | 彭家恩;彭愿潔 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射頻電路 培林 測試板 載臺 高頻連接器 測試裝置 調整機構 升降機構 底座 測試過程 測試效率 測試儀器 垂直設置 垂直升降 調整測試 間隙配合 接觸狀態 升降位置 連線 焊接 | ||
1.一種射頻電路的測試裝置,其特征在于,包括:
載臺,用于放置射頻電路;
升降機構,包括垂直設置的培林柱和與所述培林柱間隙配合的測試板,所述測試板位于所述載臺的上方并沿所述培林柱進行垂直升降,所述測試板上設有SMA高頻連接器,所述SMA高頻連接器用于將所述射頻電路連接至一測試儀器;
調整機構,所述調整機構設置于所述培林柱的頂端,與所述測試板連接,用于調整所述測試板的升降位置。
2.如權利要求1所述的測試裝置,其特征在于,還包括底座,所述載臺固定設于所述底座的上表面;所述升降機構的培林柱有多個,并列固定在所述底座的上表面,所述測試板與各個所述培林柱間隙配合。
3.如權利要求2所述的測試裝置,其特征在于,所述測試板上設有多個分別適應于各個所述培林柱的軸承,所述測試板通過各個所述軸承與各個所述培林柱進行間隙配合。
4.如權利要求2所述的測試裝置,其特征在于,所述升降機構還包括固定架,所述固定架與各個所述培林柱的頂端連接,用于對各個所述培林柱的頂端進行固定。
5.如權利要求4所述的測試裝置,其特征在于,所述調整機構為快速夾手,所述快速夾手固定在所述固定架上,并與所述測試板進行活動連接,通過轉動所述快速夾手來調整所述測試板的升降位置。
6.如權利要求5所述的測試裝置,其特征在于,所述快速夾手包括支撐座、活動桿、樞軸和連桿,所述支撐座固定在所述固定架上,所述活動桿的中間段與所述支撐座鉸接,所述活動桿的一端通過所述樞軸與所述連桿的一端進行鉸接,所述連桿的另一端與所述測試板進行活動連接,所述活動桿的另一端設有握持部,用戶通過按壓所述握持部以調節所述測試板的升降位置。
7.如權利要求1所述的測試裝置,其特征在于,所述SMA高頻連接器包括SMA-KF測試頭,所述SMA-KF測試頭的一端設有雙頭探針,各個所述探針分別用于與所述射頻電路的通信引腳和接地引腳進行接觸,所述SMA-KF測試頭的另一端設有SMA接口,所述SMA接口用于連接高頻電纜。
8.如權利要求4所述的測試裝置,其特征在于,所述SMA高頻連接器包括兩個所述SMA-KF測試頭,兩個所述SMA-KF測試頭并列固定在所述測試板上,使得每個所述SMA-KF測試頭的雙頭探針延伸且超過所述測試板的下表面,使得每個所述SMA-KF測試頭的SMA接口延伸且超過所述測試板的上表面。
9.如權利要求1-8任一項所述的測試裝置,其特征在于,所述載臺采用絕緣材料,表面設有適應于所述射頻電路的卡槽。
10.如權利要求1-8任一項所述的測試裝置,其特征在于,所述測試板采用亞克力材料。
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