[實用新型]毫米波/太赫茲波成像設備

有效

• 申請號: 201822275833.5
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN209296945U
• 公開（公告）日: 2019-08-23
• 發明（設計）人: 陳志強;趙自然;游燕;馬旭明;武劍
• 申請（專利權）人: 清華大學;同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01V8/10
• 分類號: G01V8/10
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 張啟程

公開了一種毫米波/太赫茲波成像設備，包括殼體、數據處理裝置以及位于殼體內的校準源、準光學組件和探測器陣列，殼體上設置有供被檢對象自發輻射或反射回來的波束穿過的窗口；準光學組件用于將來自被檢對象的波束反射并匯聚至探測器陣列，并包括反射板，其與殼體可轉動地連接以對來自被檢對象位于視場不同位置的部分的波束進行反射；校準源在準光學組件的物面上；探測器陣列適用于接收來自準光學組件的波束和來自校準源的波束；數據處理裝置接收探測器陣列所接收的被檢對象的圖像數據和校準源的校準數據，并基于校準數據更新圖像數據。該成像設備比采用遠處的空氣進行校正更加穩定可靠且能夠實時校正。

技術領域

本公開涉及成像技術領域，特別是涉及一種毫米波/太赫茲波成像設備。

背景技術

在當前國內外防恐形勢日益嚴峻的形勢下，恐怖分子利用隱匿方式隨身攜帶刀具、槍支、爆炸物等危險物品對公共安全構成了嚴重的威脅?；诒粍邮胶撩撞?太赫茲波的人體安檢技術，具有獨特的優點，通過檢測目標本身的毫米波/太赫茲波輻射實現成像，無需主動輻射，對人體進行安檢，利用毫米波/太赫茲波的穿透能力實現藏匿危險物的檢測。

焦平面陣列成像系統要求所有的探測器通道具有良好的一致性，所以必須對所有探測器通道進行實時校準。通道一致性包括兩方面的含義：對于相同的亮溫探測器，通道輸出電壓一致；對于相同的亮溫變量，通道輸出電壓變化一致?，F有的太赫茲波成像設備通常采用遠處的空氣進行校準，但由于空氣流動會帶來溫度的隨機變化，因此導致這種校準并不可靠。

實用新型內容

本公開的目的旨在解決現有技術中存在的上述問題和缺陷的至少一個方面。

根據本公開的實施例，提供了一種毫米波/太赫茲波成像設備，包括殼體、數據處理裝置以及位于所述殼體內的校準源、準光學組件和毫米波 /太赫茲波探測器陣列，

所述殼體上設置有供被檢對象自發輻射或反射回來的毫米波/太赫茲波穿過的窗口；

所述準光學組件適用于將來自所述被檢對象的毫米波/太赫茲波反射并匯聚至所述毫米波/太赫茲波探測器陣列，并包括適用于接收并反射來自所述被檢對象的毫米波/太赫茲波的反射板，所述反射板與所述殼體可轉動地連接以對來自所述被檢對象位于視場不同位置的部分的波束進行反射；

所述校準源位于所述準光學組件的物面上；

所述毫米波/太赫茲波探測器陣列適用于接收來自所述準光學組件的毫米波/太赫茲波以及來自所述校準源的毫米波/太赫茲波；以及

所述數據處理裝置與所述毫米波/太赫茲波探測器陣列連接以接收來自所述毫米波/太赫茲波探測器陣列的對于所述被檢對象的圖像數據以及對于所述校準源的校準數據，并基于所述校準數據更新所述被檢對象的毫米波/太赫茲波圖像數據。

在一些實施例中，所述校準源發射的毫米波/太赫茲波經所述反射板反射到所述毫米波/太赫茲波探測器陣列。

在一些實施例中，所述校準源的長度方向平行于所述反射板的轉動軸線，所述校準源的長度大于等于所述毫米波/太赫茲波探測器陣列的在平行于所述轉動軸線方向上的視場大小。

在一些實施例中，所述反射板的轉動軸線水平沒置，以使得所述反射板對來自所述被檢對象位于視場不同豎直位置的部分的毫米波/太赫茲波進行反射。

在一些實施例中，所述反射板的轉動軸線豎直設置，以使得所述反射板對來自所述被檢對象位于視場不同水平位置的部分的毫米波/太赫茲波進行反射。

在一些實施例中，所述反射板的背面設置有轉軸，所述轉軸的兩端經由軸承與所述殼體可轉動地連接。

在一些實施例中，該毫米波/太赫茲波成像設備還包括適用于驅動所述轉軸轉動的驅動裝置。