[實用新型]芯片調試設備

有效

• 申請號: 201822273056.0
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN209281378U
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 李書通
• 申請（專利權）人: 成都海光集成電路設計有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 上海知錦知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31327
• 代理人: 高靜;李麗

本實用新型實施例提供了一種芯片調試設備，包括：接口轉換芯片；調試器連接接口，連接所述接口轉換芯片，適于連接調試器；第一調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接第一被調試接口；第二調試接口，異于所述第一調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接第二被調試接口。本實用新型實施例所提供的芯片調試設備能夠實現多種接口的調試，提高了使用的便捷性。

技術領域

本實用新型實施例涉及調試技術領域，具體涉及一種芯片調試設備。

背景技術

為了保證芯片的可靠性，在芯片的生產過程中以及使用過程中出現問題后，都需要進行系統調試，以保證產品的性能。

不同的芯片基于功能的不同有不同的接口，并經常由不同的調試人員調試，為了實現對不同的芯片的調試，就需要配備具備不同接口的芯片調試設備，而產品的調試有時是在實驗室完成，有時是在產品的使用地再次進行調試，為此需要準備各種調試工具，造成了工作的不方便。

因此，如何提高調試工作的便捷性，成為了本領域技術人員亟需解決的問題。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型實施例提供一種芯片調試設備，能夠實現多種接口的調試，提高了使用的便捷性。

為實現上述目的，本實用新型實施例提供如下技術方案：

為解決上述問題，本實用新型實施例提供一種芯片調試設備，包括：

接口轉換芯片；

調試器連接接口，連接所述接口轉換芯片，適于連接調試器；

第一調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接第一被調試接口；

第二調試接口，異于所述第一調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接第二被調試接口。

可選地，還包括：

第三調試接口，異于所述第一調試接口和所述第二調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接第三被調試接口。

可選地，還包括：

第四調試接口，異于所述第一調試接口、所述第二調試接口和所述第三調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接第四被調試接口。

可選地，所述調試器連接接口為USB AB型接口。

可選地，所述第一調試接口為JTAG調試接口。

可選地，還包括JTAG調試接口電平轉換芯片，連接于所述JTAG調試接口和所述接口轉換芯片之間，所述JTAG調試接口通過所述JTAG調試接口電平轉換芯片與所述接口轉換芯片連接。

可選地，所述第二調試接口為RS232調試接口，所述芯片調試設備還包括：

RS232調試接口電平轉換芯片，所述RS232調試接口通過所述RS232調試接口電平轉換芯片與所述接口轉換芯片連接。

可選地，所述第三調試接口為UART調試接口。

可選地，所述第四調試接口為SPI調試接口。

可選地，還包括：

I2C調試接口，連接所述接口轉換芯片，且通過所述接口轉換芯片與所述調試器連接接口連通，適于連接I2C被調試接口。