[實(shí)用新型]芯片調(diào)試設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201822273056.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209281378U | 公開(公告)日: | 2019-08-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李書通 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都海光集成電路設(shè)計(jì)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/26 | 分類號(hào): | G06F11/26 |
| 代理公司: | 上海知錦知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 高靜;李麗 |
| 地址: | 610041 四川省成都市中國(四川)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 接口轉(zhuǎn)換芯片 調(diào)試接口 調(diào)試器 連接接口 芯片調(diào)試 本實(shí)用新型 連通 便捷性 調(diào)試 | ||
1.一種芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,包括:
接口轉(zhuǎn)換芯片;
調(diào)試器連接接口,連接所述接口轉(zhuǎn)換芯片,適于連接調(diào)試器;
第一調(diào)試接口,連接所述接口轉(zhuǎn)換芯片,且通過所述接口轉(zhuǎn)換芯片與所述調(diào)試器連接接口連通,適于連接第一被調(diào)試接口;
第二調(diào)試接口,異于所述第一調(diào)試接口,連接所述接口轉(zhuǎn)換芯片,且通過所述接口轉(zhuǎn)換芯片與所述調(diào)試器連接接口連通,適于連接第二被調(diào)試接口。
2.如權(quán)利要求1所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,還包括:
第三調(diào)試接口,異于所述第一調(diào)試接口和所述第二調(diào)試接口,連接所述接口轉(zhuǎn)換芯片,且通過所述接口轉(zhuǎn)換芯片與所述調(diào)試器連接接口連通,適于連接第三被調(diào)試接口。
3.如權(quán)利要求2所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,還包括:
第四調(diào)試接口,異于所述第一調(diào)試接口、所述第二調(diào)試接口和所述第三調(diào)試接口,連接所述接口轉(zhuǎn)換芯片,且通過所述接口轉(zhuǎn)換芯片與所述調(diào)試器連接接口連通,適于連接第四被調(diào)試接口。
4.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,所述調(diào)試器連接接口為USB AB型接口。
5.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,所述第一調(diào)試接口為聯(lián)合測(cè)試工作組JTAG調(diào)試接口。
6.如權(quán)利要求5所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,還包括JTAG調(diào)試接口電平轉(zhuǎn)換芯片,連接于所述JTAG調(diào)試接口和所述接口轉(zhuǎn)換芯片之間,所述JTAG調(diào)試接口通過所述JTAG調(diào)試接口電平轉(zhuǎn)換芯片與所述接口轉(zhuǎn)換芯片連接。
7.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,所述第二調(diào)試接口為RS232調(diào)試接口,所述芯片調(diào)試設(shè)備還包括:
RS232調(diào)試接口電平轉(zhuǎn)換芯片,所述RS232調(diào)試接口通過所述RS232調(diào)試接口電平轉(zhuǎn)換芯片與所述接口轉(zhuǎn)換芯片連接。
8.如權(quán)利要求2或3所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,所述第三調(diào)試接口為通用異步收發(fā)傳輸器UART調(diào)試接口。
9.如權(quán)利要求3所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,所述第四調(diào)試接口為串行外設(shè)接口SPI調(diào)試接口。
10.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的芯片調(diào)試設(shè)備,其特征在于,還包括:
集成電路總線I2C調(diào)試接口,連接所述接口轉(zhuǎn)換芯片,且通過所述接口轉(zhuǎn)換芯片與所述調(diào)試器連接接口連通,適于連接I2C被調(diào)試接口。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 一種顏料調(diào)試器
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- 基于jdwp的遠(yuǎn)程調(diào)試方法和系統(tǒng)
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- 一種嵌入式開發(fā)專用的多功能無線多點(diǎn)調(diào)試器
- 一種觸控壓力變送器調(diào)試器
- 元素調(diào)試方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品





