[實(shí)用新型]一種芯片測試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201822204213.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209342871U | 公開(公告)日: | 2019-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣衛(wèi)兵;王堅(jiān) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(上海)自*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外設(shè)控制器 測溫組件 加熱組件 芯片測試裝置 顯示模塊 測試座 本實(shí)用新型 固定板組件 芯片 預(yù)設(shè) 測量 測試技術(shù)領(lǐng)域 溫度測量結(jié)果 測試過程 可滑動(dòng)地 使用壽命 直接測量 組件包括 組件間隔 控制器 常溫下 導(dǎo)通件 電連接 | ||
1.一種芯片測試裝置,其特征在于,包括:
測試座組件(1),包括固定板組件(11)和導(dǎo)通件(12),芯片(10)設(shè)置于所述固定板組件(11)中,并通過所述導(dǎo)通件(12)與外部測試電路導(dǎo)通;
加熱組件(2),部分設(shè)置在所述固定板組件(11)中,用于對(duì)所述芯片(10)加熱;
測溫組件(3),可滑動(dòng)地穿設(shè)在所述加熱組件(2)中,且能夠與所述芯片(10)相接觸以測量所述芯片(10)的溫度;
外設(shè)控制器(4),與所述測試座組件(1)間隔設(shè)置,且與所述加熱組件(2)和所述測溫組件(3)電連接,所述外設(shè)控制器(4)包括顯示模塊,用于輸入預(yù)設(shè)溫度和顯示溫度測量結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述加熱組件(2)包括加熱體(21)和傳熱體(22),所述加熱體(21)可拆卸地穿設(shè)在所述傳熱體(22)中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述傳熱體(22)包括傳熱板(221)和散熱板(222),所述散熱板(222)設(shè)置于所述傳熱板(221)上,所述傳熱板(221)能夠與所述芯片(10)的頂面接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述測溫組件(3)包括溫度傳感器(31),所述加熱組件(2)上開設(shè)有測試孔,所述溫度傳感器(31)可滑動(dòng)地設(shè)置于所述測試孔中,且所述溫度傳感器(31)能夠穿過所述測試孔與所述芯片(10)的頂面接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述測溫組件(3)還包括彈性件(32)和套筒(33),所述套筒(33)固定于所述測試孔中,所述溫度傳感器(31)的一端可滑動(dòng)地穿設(shè)于所述套筒(33)中,所述溫度傳感器(31)上設(shè)置有凸緣,所述彈性件(32)套設(shè)在所述溫度傳感器(31)上,且所述彈性件(32)的一端與所述套筒(33)的端面抵接,所述彈性件(32)的另一端與所述凸緣抵接。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片測試裝置,其特征在于,還包括旋鈕組件(5),其與所述加熱組件(2)連接,用于將所述加熱組件(2)鎖定抵靠于所述芯片(10)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的芯片測試裝置,其特征在于,還包括測試蓋(6),設(shè)置在所述固定板組件(11)的上方,所述測試蓋(6)上開設(shè)有開關(guān)孔(61),所述旋鈕組件(5)部分可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置于所述開關(guān)孔(61)中。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述旋鈕組件(5)包括由上至下依次設(shè)置的旋鈕(51)、傳動(dòng)件(52)、軸承(53)和墊板(54),所述旋鈕(51)與所述傳動(dòng)件(52)固定連接,所述傳動(dòng)件(52)可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置于所述開關(guān)孔(61)內(nèi),且所述傳動(dòng)件(52)的底面與所述軸承(53)抵接,所述軸承(53)設(shè)置于所述墊板(54)上的軸承槽內(nèi),所述加熱組件(2)固定于所述墊板(54)上,所述墊板(54)安裝于所述測試蓋(6)上,且所述墊板(54)能夠相對(duì)所述測試蓋(6)移動(dòng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述旋鈕(51)、所述傳動(dòng)件(52)、所述軸承(53)和所述墊板(54)上均開設(shè)有散熱孔,且所述散熱孔組合形成散熱通道,所述散熱板(222)穿設(shè)于所述散熱通道中。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置,其特征在于,所述固定板組件(11)包括由上至下依次設(shè)置的導(dǎo)向板(111)、固定板(112)和底板(113),所述導(dǎo)向板(111)上開設(shè)有芯片孔,所述芯片(10)能夠固定于所述芯片孔內(nèi),所述固定板(112)和所述底板(113)上均開設(shè)有臺(tái)階孔,所述導(dǎo)通件(12)穿設(shè)于所述臺(tái)階孔中。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試





