[實用新型]一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備

有效

• 申請號: 201822156456.3
• 申請日: 2018-12-21
• 公開（公告）號: CN209491069U
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發明（設計）人: 嚴先文;羅昌凌;王珊
• 申請（專利權）人: 珠海達明科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/02;B07C5/38
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

1.一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，包括機架（1）、顯示屏（2）、操作按鈕（3）及鍵盤（4），其特征在于：它還包括設于機架（1）內部的基座（5）、設于所述基座（5）中部的第一機械手（11）、設于所述基座（5）一端的上料機構（12）、設于所述基座（5）另一端的下料機構（13）、設于所述上料機構（12）上方的第二機械手（14）、設于所述下料機構（13）上方的第三機械手（15）、設于所述第一機械手（11）及所述第二機械手（14）之間的上表面相機模組（16）、設于所述上表面相機模組（16）下方的上表面模組（17）及設于所述上料機構（12）一側的五面模組（18），所述上表面相機模組（16）、所述第一機械手（11）、所述第二機械手（14）及所述第三機械手（15）均與所述基座（5）滑動連接。

2.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述第一機械手（11）、所述第二機械手（14）及所述第三機械手（15）均包括兩組機械手，所述機械手上設有若干個真空吸嘴。

3.根據權利要求2所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述第一機械手（11）上的兩組所述機械手分別通過兩條平行設置的第一滑軌（111）與所述基座（5）滑動連接。

4.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述上表面模組（17）與所述下料機構（13）之間設有不良品收集區（19）。

5.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述上料機構（12）及所述下料機構（13）均包括空料倉（121）、與所述空料倉（121）對稱設置的滿料倉（122）及設于所述空料倉（121）與所述滿料倉（122）之間的導軌（123）。

6.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述上表面相機模組（16）包括直線滑軌（161）、與所述直線滑軌（161）傳動連接的上表面相機（162）及與所述上表面相機（162）配合設置的放大鏡片（163）。

7.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述上表面模組（17）上設有兩個上表面檢測工位及與所述上表面檢測工位一一對應設置的上表面光源（171），所述上表面檢測工位上設有若干個上表面檢測凹槽（172）。

8.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述五面模組（18）上設有五面檢測凹槽（181），所述五面檢測凹槽（181）上設有五個檢測相機及五個與所述檢測相機一一對應設置的檢測光源。

9.根據權利要求1所述的一種高效率芯片外觀全面AOI檢測設備，其特征在于：所述機架（1）的內部設有電控組件（6），所述第一機械手（11）、所述第二機械手（14）、所述第三機械手（15）、所述上表面相機模組（16）、所述上表面模組（17）及所述五面模組（18）均與所述電控組件（6）電信號連接。