[實(shí)用新型]薄膜涂層色度分析設(shè)備和薄膜涂層分類系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201822143468.2
• 申請(qǐng)日: 2018-12-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN209513603U
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 唐永炳;周小龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳先進(jìn)技術(shù)研究院
• 主分類號(hào): G01N21/25
• 分類號(hào): G01N21/25
• 代理公司: 深圳市科進(jìn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316
• 代理人: 吳乃壯

本實(shí)用新型提供了一種薄膜涂層色度分析設(shè)備和薄膜涂層分類系統(tǒng)，屬于薄膜涂層色度分析技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型提供了一種薄膜涂層色度分析設(shè)備，包括分光色度計(jì)、光源和待測(cè)樣品；待測(cè)樣品包括基材和設(shè)置在基材上表面的薄膜涂層；分光色度計(jì)和光源設(shè)置在待測(cè)樣品的上方；光源與待測(cè)樣品的距離為15?35cm；直線A與直線B的夾角為1?15°。通過(guò)薄膜涂層色度分析設(shè)備獲得不同種類薄膜涂層的色度值，建立數(shù)據(jù)庫(kù)，從而通過(guò)測(cè)定待測(cè)薄膜涂層色度值，結(jié)合數(shù)據(jù)庫(kù)簡(jiǎn)單快速地判斷薄膜涂層的種類，這種分類方法簡(jiǎn)單、快捷、實(shí)用，應(yīng)用于類金剛石薄膜分類，可大幅度簡(jiǎn)化類金剛石薄膜分類過(guò)程，為實(shí)際應(yīng)用于生產(chǎn)帶來(lái)了極大的便利。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于薄膜涂層色度分析技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種薄膜涂層色度分析設(shè)備和薄膜涂層分類系統(tǒng)。

背景技術(shù)

類金剛石薄膜(Diamond-Like Carbon，下文簡(jiǎn)稱DLC)是一種由金剛石結(jié)構(gòu)的sp³雜化碳、sp²雜化碳和鍵合于上述結(jié)構(gòu)中少量氫元素構(gòu)成的非晶亞穩(wěn)態(tài)碳膜的統(tǒng)稱。它具有高硬度、高彈性模量、耐摩擦磨損、耐腐蝕、表面光潔度高等諸多優(yōu)異特性，可廣泛用于機(jī)械、電子、光學(xué)、熱學(xué)、聲學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，具有良好的應(yīng)用前景。

根據(jù)DLC薄膜中碳的sp²/sp³比例和氫含量的不同，DLC薄膜可以分為不同種類，例如：非氫四面體碳膜(ta-C)、含氫四面體碳膜 (ta-C:H)、非氫碳膜(a-C)、含氫碳膜(a-C:H)、類高聚物碳膜(PLC) 和類石墨碳膜(GLC)等，且并非所有種類DLC薄膜都具備高硬度、高彈性模量、耐摩擦磨損、耐腐蝕、表面光潔度高等優(yōu)異特性。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展和工業(yè)應(yīng)用條件及使用場(chǎng)合的日益復(fù)雜，尤其是當(dāng)前精密機(jī)械、航空航天、汽車零部件、手機(jī)和手表等便攜式智能化設(shè)備、以及體育器材等其他高端裝飾等對(duì)鍍膜領(lǐng)域的要求越發(fā)苛刻，為提高產(chǎn)品觀賞性和用戶體驗(yàn)度，顏色和外觀也越來(lái)越重要。

因此，所期望的是提供一種更快速且簡(jiǎn)便地判斷DLC薄膜種類的設(shè)備，以至少解決上述問(wèn)題中的一個(gè)。

鑒于此，特提出本實(shí)用新型。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的第一個(gè)目的在于提供一種薄膜涂層色度分析設(shè)備，能夠克服上述問(wèn)題或者至少部分地解決上述技術(shù)問(wèn)題。

本實(shí)用新型的第二個(gè)目的在于提供一種薄膜涂層分類系統(tǒng)，包括上述薄膜涂層色度分析設(shè)備。

根據(jù)本實(shí)用新型第一個(gè)方面，提供了一種薄膜涂層色度分析設(shè)備，包括分光色度計(jì)、光源和待測(cè)樣品；

所述待測(cè)樣品包括基材和設(shè)置在基材上表面的薄膜涂層；

所述分光色度計(jì)和光源設(shè)置在待測(cè)樣品的上方；

所述光源與待測(cè)樣品的距離為15-35cm；

所述光源的中心點(diǎn)到待測(cè)樣品的垂足為交點(diǎn)D；

所述光源的中心點(diǎn)到交點(diǎn)D的直線為直線A，所述分光色度計(jì)的中心點(diǎn)到交點(diǎn)D的直線為直線B；

所述直線A與直線B的夾角為1-15°。

優(yōu)選地，所述色度分析設(shè)備還包括樣品臺(tái)，所述待測(cè)樣品放置在樣品臺(tái)表面；

和/或，所述分光色度計(jì)和光源平齊，所述待測(cè)樣品位于光源正下方；

和/或，所述直線A與直線B的夾角為5-10°。

優(yōu)選地，所述直線A與直線B的夾角為10°。

優(yōu)選地，所述光源為白色LED光源；

和/或，所述分光色度計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)CIELAB和/或CIELUV顏色空間測(cè)試要求。