[實用新型]薄膜涂層色度分析設備和薄膜涂層分類系統有效
| 申請號： | 201822143468.2 | 申請日： | 2018-12-19 |
| 公開（公告）號： | CN209513603U | 公開（公告）日： | 2019-10-18 |
| 發明（設計）人： | 唐永炳;周小龍 | 申請（專利權）人： | 深圳先進技術研究院 |
| 主分類號： | G01N21/25 | 分類號： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 吳乃壯 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 薄膜涂層 色度分析 待測樣品 類金剛石薄膜 本實用新型 分類系統 色度計 分光 光源 色度 基材上表面 建立數據庫 分類過程 光源設置 夾角為 分類 基材 應用 數據庫 便利 生產 | ||
1.一種薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，包括分光色度計、光源和待測樣品；
所述待測樣品包括基材和設置在基材上表面的薄膜涂層；
所述分光色度計和光源設置在待測樣品的上方；
所述光源與待測樣品的距離為15-35cm；
所述光源的中心點到待測樣品的垂足為交點D；
所述光源的中心點到交點D的直線為直線A，所述分光色度計的中心點到交點D的直線為直線B；
所述直線A與直線B的夾角為1-15°。
2.根據權利要求1所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述色度分析設備還包括樣品臺，所述待測樣品放置在樣品臺表面；
和/或，所述分光色度計和光源平齊，所述待測樣品位于光源正下方；
和/或，所述直線A與直線B的夾角為5-10°。
3.根據權利要求2所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述直線A與直線B的夾角為10°。
4.根據權利要求1-3任一項所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述光源為白色LED光源；
和/或，所述分光色度計能夠實現CIELAB和/或CIELUV顏色空間測試要求。
5.根據權利要求1-3任一項所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述基材包括單晶硅、石英、透明導電玻璃或硬質合金中的至少一種。
6.根據權利要求5所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述基材包括單晶硅。
7.根據權利要求1-3任一項所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述薄膜涂層的粗糙度小于10nm，所述薄膜涂層的厚度為20-3000nm；
和/或，所述薄膜涂層包括無機非金屬薄膜。
8.根據權利要求7所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述薄膜涂層包括類金剛石薄膜或鉆石薄膜。
9.根據權利要求8所述的薄膜涂層色度分析設備，其特征在于，所述薄膜涂層包括類金剛石薄膜。
10.一種薄膜涂層分類系統，其特征在于，包括權利要求1-9任一項所述的薄膜涂層色度分析設備。
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