[實(shí)用新型]一種具有復(fù)合溝槽結(jié)構(gòu)的碳化硅肖特基器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201822141424.6 | 申請日: | 2018-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN209981225U | 公開(公告)日: | 2020-01-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 關(guān)世瑛;王金秋 | 申請(專利權(quán))人: | 上海芯石半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L29/40 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 肖特基器件 本實(shí)用新型 碳化硅 制程 絕緣層 底角 傳統(tǒng)溝槽 錯(cuò)位疊加 復(fù)合結(jié)構(gòu) 溝槽側(cè)壁 溝槽底角 溝槽結(jié)構(gòu) 優(yōu)化器件 摻雜的 傳統(tǒng)的 溝槽型 刻蝕 兼容 復(fù)合 | ||
本實(shí)用新型公開了一種具有復(fù)合溝槽結(jié)構(gòu)的碳化硅肖特基器件;該器件具有復(fù)合結(jié)構(gòu)的溝槽,溝槽的頂部有P型摻雜區(qū),溝槽側(cè)壁有絕緣層區(qū),溝槽底部有P型摻雜區(qū),溝槽底部P型摻雜區(qū)是由2個(gè)或多個(gè)摻雜的錯(cuò)位疊加刻蝕的溝槽底角構(gòu)成,較傳統(tǒng)溝槽型JBS肖特基器件,更容易實(shí)現(xiàn)深的、窄的、底角曲率半徑大的溝槽,優(yōu)化器件性能;另外,本實(shí)用新型的碳化硅肖特基器件的制程,與傳統(tǒng)的溝槽型JBS肖特基器件的制程兼容,容易實(shí)現(xiàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及到碳化硅肖特基器件,主要涉及一種具有復(fù)合溝槽結(jié)構(gòu)的碳化硅肖特基器件。
背景技術(shù)
碳化硅材料作為第三代半導(dǎo)體材料,作為寬禁帶材料,其具有高擊穿電場強(qiáng)度、高導(dǎo)熱率、高飽和速度的特性,使碳化硅器件具有高壓、高速高效的“三高”特點(diǎn),使其成為發(fā)展的新選擇。碳化硅肖特基器件屬于單極器件,其反向恢復(fù)時(shí)間極短,可廣泛應(yīng)用于高頻整流電路中,碳化硅肖特基器件具有低的正向飽和壓降的特點(diǎn),功耗低,被廣泛應(yīng)用。傳統(tǒng)硅基肖特基器件,由于其反向工作電壓的局限性,一般只能做300V以下的產(chǎn)品,使其應(yīng)用范圍受限;而碳化硅肖特基器件反向工作電壓可以高達(dá)3300V,補(bǔ)充了肖特基器件的工作電壓范圍,即碳化硅肖特基器件擴(kuò)展了肖特基器件的應(yīng)用領(lǐng)域,使肖特基器件可以工作在更高的工作電壓范圍內(nèi)。碳化硅肖特基器件在600V-1700V的工作范圍內(nèi),與傳統(tǒng)的硅基快恢復(fù)二極管重疊,但碳化硅肖特基器件較硅基快恢復(fù)二極管比,具有更快的工作頻率、更小的功耗及小型化等優(yōu)點(diǎn),碳化硅肖特基器件在性能上完勝硅基快恢復(fù)二極管,使碳化硅肖特基器件成為新寵。近二十年來,半導(dǎo)體行業(yè)的研究學(xué)者們及各國家的科技政策,都投入巨大的人力、物力,使其從理論成功的走進(jìn)了市場。但碳化硅材料的特點(diǎn)使其加工難度較大,如碳化硅材料的P/N型雜質(zhì)的擴(kuò)散系數(shù)低、材料高溫?fù)]發(fā)特性,使其形成PN結(jié)的難度遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)硅基材料,摻雜需要高能注入摻雜技術(shù)、高溫退火技術(shù)才能形成的淺摻雜PN結(jié)的結(jié)構(gòu)。而這些技術(shù)難點(diǎn)通過從業(yè)技術(shù)人員的不斷努力,從設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)上改進(jìn)、制造設(shè)備能力的不斷提升,難點(diǎn)逐漸解決。碳化硅硅肖特基器件以美國CREE、日本的ROHM、德國的INFINEON等為代表廠家,成功的將碳化硅器件市場化,并不斷更新的產(chǎn)品技術(shù),成功的搶占了市場高地。碳化硅肖特基器件已經(jīng)更新發(fā)展了幾代產(chǎn)品,目前碳化硅肖特基器件以溝槽型JBS結(jié)構(gòu)為最新的產(chǎn)品技術(shù),市場上的新一代溝槽型JBS結(jié)構(gòu)的碳化硅肖特基器件剖面示意圖如圖1所示,采用以多元胞重復(fù)單元結(jié)構(gòu)和邊緣隔離環(huán)結(jié)構(gòu),但新一代碳化硅肖特基器件的P型島區(qū),是在刻蝕槽區(qū)內(nèi)進(jìn)行P型注入摻雜,采用溝槽型的P型區(qū)設(shè)計(jì),一定程度上克服了碳化硅材料摻雜雜質(zhì)注入深度淺和摻雜雜質(zhì)擴(kuò)散推進(jìn)結(jié)深淺的問題,由槽深與注入深度的和決定P型區(qū)的體內(nèi)深度,深的P型區(qū)將電場的最強(qiáng)點(diǎn)引入體內(nèi),提升耐壓能力,通常情況下是在溝槽的底部拐角位置電場最強(qiáng),拐角處的曲率半徑影響電場分布,曲率半徑越大,電場分散,耐壓越高;為了獲得大的曲率半徑,刻蝕槽時(shí)要采用物理刻蝕和化學(xué)刻蝕混合刻蝕,物理刻蝕也稱各向異性刻蝕,可以縱向刻蝕,不影響刻蝕槽寬度,但溝槽底角的曲率半徑小;化學(xué)刻蝕,也稱各向同性刻蝕,可形成圓滑的槽底角,增加溝槽底角的曲率半徑,但導(dǎo)致溝槽寬度增加;溝槽型JBS結(jié)構(gòu)理論上追求的方向是窄的、深的、底角處曲率半徑大的P型區(qū),而這樣P型區(qū)要求,采用現(xiàn)有的制造方法實(shí)現(xiàn)時(shí)存在相互制約關(guān)系,只能進(jìn)行折中處理,目前這種折中選擇成為進(jìn)一步提升的產(chǎn)品性能的制約。另外,目前的溝槽結(jié)構(gòu)的P型區(qū),一般采用側(cè)壁與底部同時(shí)摻雜,注入需要實(shí)現(xiàn)注入角度變化掃描,或載片臺公轉(zhuǎn)加自傳來實(shí)現(xiàn),對注入設(shè)備也提出更高的要求,同時(shí)由于存在側(cè)壁遮擋問題,影響了深溝槽的實(shí)現(xiàn),溝槽越深對注入要求較高,因此溝槽越深對設(shè)備、工藝要求越高,難度越大。本實(shí)用新型提出的碳化硅肖特基器件,采用復(fù)合的溝槽結(jié)構(gòu),可降低對注入設(shè)備的要求,同等制造能力條件下可實(shí)現(xiàn)底角處曲率半徑增大的、溝槽寬度不增加的溝槽,可得到更高反向工作耐壓的性能,本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)剖面結(jié)構(gòu)如圖2所示,同時(shí)本實(shí)用新型也提出了其制造方法,可實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型產(chǎn)品。
發(fā)明內(nèi)容
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





