[實用新型]應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置

有效

• 申請號: 201822121098.2
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN209238601U
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 王國建;佘福良
• 申請（專利權）人: 積高電子（無錫）有限公司
• 主分類號: B08B6/00
• 分類號: B08B6/00;B08B5/02;B08B11/00;B08B13/00
• 代理公司: 無錫知之火專利代理事務所(特殊普通合伙) 32318
• 代理人: 陳琦

本實用新型公開了一種應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，涉及圖像傳感器測試機設備技術領域，包括用于放置CMOS圖像傳感器的測試臺面、用于產生正負離子的離子發生器、用于釋放正負離子的離子釋放裝置和用于將正負離子從離子釋放裝置中吹出的動力裝置；離子釋放裝置位于測試臺面的上方；離子釋放裝置內設置有空腔；離子釋放裝置靠近測試臺面的一側設置有若干釋放孔；空腔與離子發生器、動力裝置、若干釋放孔連通。本實用新型提供的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，可將CMOS圖像傳感器上的電荷、異物及塵埃清理掉，使得CMOS圖像傳感器測試機的測試結果更準確，測試結果與CMOS圖像傳感器本身性能具有一致性。

技術領域

本實用新型涉及圖像傳感器測試機設備技術領域，尤其涉及一種應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置。

背景技術

CMOS圖像傳感器是一種典型的固體成像傳感器，與CCD有著共同的歷史淵源。CMOS圖像傳感器通常由像敏單元陣列、行驅動器、列驅動器、時序控制邏輯、AD轉換器、數據總線輸出接口、控制接口等幾部分組成，這幾部分通常都被集成在同一塊硅片上。其工作過程一般可分為復位、光電轉換、積分、讀出幾部分。

CMOS圖像傳感器具有隨機窗口讀取能力、抗輻射能力、系統復雜程度和可靠性、非破壞性數據讀出方式、優化的曝光控制等優勢，鑒于CMOS圖像傳感器相對優越的性能，使得CMOS圖像傳感器廣泛應用于計算機攝像頭、數碼相機、PDA和手機、玩具及倒車系統、安全監控、可視電話和指紋識別器等領域中。

在CMOS圖像傳感器生產過程中，為了檢測生產出的CMOS圖像傳感器是否合格，需要對CMOS圖像傳感器進行測試。CMOS圖像傳感器的測試機一般是CIS測試機。但是，在將CMOS圖像傳感器運送到測試機的過程中，CMOS圖像傳感器的玻璃邊緣會相互碰撞而產生碎玻璃粒，碎玻璃粒會附著在CMOS圖像傳感器的玻璃表面，這樣就會影響CMOS圖像傳感器的測試結果。

實用新型內容

針對上述存在的問題，本實用新型提供一種應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，以解決現有技術中附著在CMOS圖像傳感器玻璃表面的碎玻璃粒影響測試結果的問題，使得CMOS圖像傳感器測試機的測試結果更準確，測試結果與CMOS圖像傳感器本身性能具有一致性。

為實現上述目的，本實用新型提供的技術方案為：

本實用新型提供的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，包括用于放置CMOS圖像傳感器的測試臺面、用于產生正負離子的離子發生器、用于釋放正負離子的離子釋放裝置和用于將正負離子從所述離子釋放裝置中吹出的動力裝置；所述離子釋放裝置位于所述測試臺面的上方；所述離子釋放裝置內設置有空腔；所述離子釋放裝置靠近所述測試臺面的一側設置有若干釋放孔；所述空腔與所述離子發生器、所述動力裝置、若干所述釋放孔連通。

本實用新型提供的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，優選地，所述離子釋放裝置還包括板體；所述板體的板面與所述測試臺面平行；所述板體內設置有所述空腔；所述板體靠近所述測試臺面的板面上設置有若干所述釋放孔。

本實用新型提供的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，優選地，所述離子釋放裝置的左端與所述動力裝置連通，右端與所述離子發生器連通。

本實用新型提供的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，優選地，若干所述釋放孔均勻設置于所述板面上。

本實用新型提供的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，優選地，還包括箱體、集塵斗、輸塵管、風機和儲塵裝置；所述測試臺面和所述離子釋放裝置位于所述箱體的內部；所述測試臺面的外邊沿與所述箱體的側壁間存在間隙；所述箱體下部開口；所述箱體的下部連通有所述集塵斗；所述集塵斗呈漏斗狀；所述輸塵管的一端與所述集塵斗連通，另一端與所述風機的輸入端連通；所述風機的輸出端與所述儲塵裝置連通。