[實用新型]應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置

有效

• 申請號: 201822121098.2
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN209238601U
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 王國建;佘福良
• 申請（專利權）人: 積高電子（無錫）有限公司
• 主分類號: B08B6/00
• 分類號: B08B6/00;B08B5/02;B08B11/00;B08B13/00
• 代理公司: 無錫知之火專利代理事務所(特殊普通合伙) 32318
• 代理人: 陳琦

1.一種應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，包括用于放置CMOS圖像傳感器的測試臺面、用于產生正負離子的離子發生器、用于釋放正負離子的離子釋放裝置和用于將正負離子從所述離子釋放裝置中吹出的動力裝置；所述離子釋放裝置位于所述測試臺面的上方；所述離子釋放裝置內設置有空腔；所述離子釋放裝置靠近所述測試臺面的一側設置有若干釋放孔；所述空腔與所述離子發生器、所述動力裝置、若干所述釋放孔連通。

2.如權利要求1所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，所述離子釋放裝置還包括板體；所述板體的板面與所述測試臺面平行；所述板體內設置有所述空腔；所述板體靠近所述測試臺面的板面上設置有若干所述釋放孔。

3.如權利要求1所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，所述離子釋放裝置的左端與所述動力裝置連通，右端與所述離子發生器連通。

4.如權利要求2所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，若干所述釋放孔均勻設置于所述板面上。

5.如權利要求1所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，還包括箱體、集塵斗、輸塵管、風機和儲塵裝置；所述測試臺面和所述離子釋放裝置位于所述箱體的內部；所述測試臺面的外邊沿與所述箱體的側壁間存在間隙；所述箱體下部開口；所述箱體的下部連通有所述集塵斗；所述集塵斗呈漏斗狀；所述輸塵管的一端與所述集塵斗連通，另一端與所述風機的輸入端連通；所述風機的輸出端與所述儲塵裝置連通。

6.如權利要求5所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，所述集塵斗的外側壁上設置有用于振動打擊所述集塵斗外側壁的振打裝置。

7.如權利要求5所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，所述輸塵管上設置有至少一個彎折部。

8.如權利要求5所述的應用于CMOS圖像傳感器測試機的靜電除塵裝置，其特征在于，所述箱體包括用于將CMOS圖像傳感器置于所述箱體內的進口；所述進口設置有用于隔斷所述箱體的內部空間與外部空間的空氣幕。