[實用新型]光學性能檢測設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201822085875.2 | 申請日: | 2018-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN209296275U | 公開(公告)日: | 2019-08-23 |
| 發(fā)明(設計)人: | 黃培坤;王琦琳;劉志發(fā);李天潮 | 申請(專利權)人: | 深圳市艾特訊科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00;G01M11/02;H04M1/24;H04N17/00 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 44414 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 載盤 輸送單元 移動終端 終端 定位支架 上層 光學性能檢測 進出料裝置 檢測 光學性能檢測裝置 本實用新型 測試效率 插頭組件 電性連接 方向相反 光學檢測 光學性能 技術對比 空間占用 上下布置 攝像模組 輸送機構 空置 下層 生產(chǎn)成本 緊湊 裝載 垂直 測試 移動 支撐 | ||
本實用新型涉及攝像模組的光學檢測的技術領域,提供了一種光學性能檢測設備,包括箱體、進出料裝置和用于檢測移動終端光學性能的光學性能檢測裝置;進出料裝置包括在垂直于箱體底面的方向上呈上下布置的:上層輸送單元,用于輸送裝載有待測試的移動終端的終端載盤,移動終端放置在終端載盤上并由終端載盤支撐;下層輸送單元,用于沿與上層輸送單元的輸送方向相反的方向輸送空置的終端載盤;上層輸送單元包括檢測定位支架和設置在檢測定位支架內并用于使終端載盤移動的上層輸送機構,檢測定位支架上設置有用于與移動終端電性連接的插頭組件。與現(xiàn)有技術對比,內部結構更為緊湊,空間占用率更小,且極大地提高了測試效率,并降低了生產(chǎn)成本。
技術領域
本實用新型涉及攝像模組的光學檢測的技術領域,尤其是涉及一種光學性能檢測設備。
背景技術
隨著近些年來智能手機的快速發(fā)展,TOF(Time Of Flight飛行時間,下面統(tǒng)稱TOF)成像技術以被應用到智能手機上,以實現(xiàn)3D深度攝像。TOF傳感器發(fā)出經(jīng)過調制的近紅外光,遇到物體后反射,傳感器通過計算紅外光線發(fā)射和反射時間差或相位差,來計算被拍攝物體的距離,以產(chǎn)生深度信息,并且進一步結合傳統(tǒng)的相接拍攝,從而將物體的三維輪廓以不同顏色代表不同距離的圖形方式呈現(xiàn)出來。
目前,對手機用攝像頭成像質量要求越來越高,對其模組光學性能的測試項目也日趨繁多精細。傳統(tǒng)的測試方法,主要通過人工方式,采用光學測試卡進行檢測,故,效率過低,人工成本過大。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種光學性能檢測設備,以解決現(xiàn)有技術中存在的檢測效率低,成本過高的技術問題。
為實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術方案是:提供一種光學性能檢測設備,包括箱體以及設置在所述箱體內并由所述箱體支撐的進出料裝置和用于檢測移動終端光學性能的光學性能檢測裝置;所述進出料裝置包括在垂直于所述箱體底面的方向上呈上下布置的:上層輸送單元,用于輸送裝載有待測試的移動終端的終端載盤,所述移動終端放置在終端載盤上并由所述終端載盤支撐;下層輸送單元,用于沿與所述上層輸送單元的輸送方向相反的方向輸送空置的終端載盤;所述箱體的側壁上形成有分別與所述上層輸送單元對應的第一入口和第一出口,以及分別與所述下層輸送單元對應的第二入口和第二出口;所述上層輸送單元包括檢測定位支架和設置在所述檢測定位支架內并用于使所述終端載盤移動的上層輸送機構,所述檢測定位支架上設置有用于與所述移動終端電性連接的插頭組件。
進一步地,所述移動終端包括機身,所述機身具有位于其厚度方向上且相對的正面和背面,所述正面設置有TOF模組,所述背面設置有激光模組;所述光學性能檢測裝置包括用于對所述TOF模組校準并測試的TOF測試裝置和用于對所述激光模組校準并測試的激光測試裝置。
進一步地,所述TOF測試裝置包括自下而上依序布置的第一TOF測試機構、第一TOF校準機構、第二TOF測試機構以及第二TOF校準機構;
所述激光測試裝置包括位于所述第一TOF測試機構下方的第一激光校準測試機構、位于所述第一激光校準測試機構與所述移動終端之間的第二激光校準測試機構,以及位于所述第二激光校準測試機構與所述第一激光校準測試機構的第三激光校準測試機構;
所述第一TOF測試機構、第二TOF測試機構、第二TOF校準機構、第一激光校準測試機構以及第三激光校準測試機構均包括第一測試卡,第一TOF校準機構和第二激光校準測試機構均包括反射率較所述第一測試卡的反射率高的第二測試卡。
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