[實用新型]光學性能檢測設備

有效

• 申請號: 201822085875.2
• 申請日: 2018-12-11
• 公開（公告）號: CN209296275U
• 公開（公告）日: 2019-08-23
• 發明（設計）人: 黃培坤;王琦琳;劉志發;李天潮
• 申請（專利權）人: 深圳市艾特訊科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M11/02;H04M1/24;H04N17/00
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 張全文

1.一種光學性能檢測設備，其特征在于，包括箱體以及設置在所述箱體內并由所述箱體支撐的進出料裝置和用于檢測移動終端光學性能的光學性能檢測裝置；所述進出料裝置包括在垂直于所述箱體底面的方向上呈上下布置的：上層輸送單元，用于輸送裝載有待測試的移動終端的終端載盤，所述移動終端放置在終端載盤上并由所述終端載盤支撐；下層輸送單元，用于沿與所述上層輸送單元的輸送方向相反的方向輸送空置的終端載盤；所述箱體的側壁上形成有分別與所述上層輸送單元對應的第一入口和第一出口，以及分別與所述下層輸送單元對應的第二入口和第二出口；所述上層輸送單元包括檢測定位支架和設置在所述檢測定位支架內并用于使所述終端載盤移動的上層輸送機構，所述檢測定位支架上設置有用于與所述移動終端電性連接的插頭組件。

2.根據權利要求1所述的光學性能檢測設備，其特征在于，所述移動終端包括機身，所述機身具有位于其厚度方向上且相對的正面和背面，所述正面設置有TOF模組，所述背面設置有激光模組；所述光學性能檢測裝置包括用于對所述TOF模組校準并測試的TOF測試裝置和用于對所述激光模組校準并測試的激光測試裝置。

3.根據權利要求2所述的光學性能檢測設備，其特征在于，所述TOF測試裝置包括自下而上依序布置的第一TOF測試機構、第一TOF校準機構、第二TOF測試機構以及第二TOF校準機構；

所述激光測試裝置包括位于所述第一TOF測試機構下方的第一激光校準測試機構、位于所述第一激光校準測試機構與所述移動終端之間的第二激光校準測試機構，以及位于所述第二激光校準測試機構與所述第一激光校準測試機構的第三激光校準測試機構；

所述第一TOF測試機構、第二TOF測試機構、第二TOF校準機構、第一激光校準測試機構以及第三激光校準測試機構均包括第一測試卡，第一TOF校準機構和第二激光校準測試機構均包括反射率較所述第一測試卡的反射率高的第二測試卡。

4.根據權利要求3所述的光學性能檢測設備，其特征在于，所述第一TOF測試機構還包括所述第一TOF測試底座、設置在所述第一TOF測試底座上的第一TOF測試導軌、滑動設置在第一TOF測試導軌上的第一TOF測試滑動座、使所述第一TOF測試滑動座移動的第一TOF測試滑動座驅動件、可升降地安裝在所述第一TOF測試滑動座的第一TOF測試安裝支架、使所述第一TOF測試安裝支架升降移動的第一TOF測試安裝支架驅動組件、支撐在所述第一TOF測試安裝支架上的第一TOF測試安裝板，所述第一TOF測試機構的第一測試卡固定在所述第一TOF測試安裝板上。

5.根據權利要求3所述的光學性能檢測設備，其特征在于，所述第一TOF校準機構包括第一TOF校準導軌、滑動設置在第一TOF校準導軌上的第一TOF校準滑動支架、使所述第一TOF校準滑動支架移動的第一TOF校準滑動座驅動件、第一TOF校準安裝板以及連接在所述第一TOF校準安裝板與所述第一TOF校準滑動支架的第一TOF校準調節板，所述第一TOF校準機構的第二測試卡固定在所述第一TOF校準安裝板上。

6.根據權利要求3所述的光學性能檢測設備，其特征在于，所述第二TOF測試機構包括第二TOF測試導軌、滑動設置在第二TOF測試導軌上的第二TOF測試滑動支架、使所述第二TOF測試滑動支架移動的第二TOF測試滑動座驅動件、第二TOF測試安裝板以及連接在所述第二TOF測試安裝板與所述第二TOF測試滑動支架的第二TOF測試調節板，所述第二TOF測試機構的第一測試卡固定在所述第二TOF測試安裝板上。