[實用新型]一種半導體測試分選機儲料裝置

有效

• 申請號: 201822058667.3
• 申請日: 2018-12-07
• 公開（公告）號: CN209232735U
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 彭勇
• 申請（專利權）人: 合肥市華達半導體有限公司
• 主分類號: H01L21/67
• 分類號: H01L21/67;B07C5/06
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 馮子玲

1.一種半導體測試分選機儲料裝置，其特征在于，其包括：

底板(1)；

固定導軌(2)，所述固定導軌(2)設于底板(1)一端；

滑動導軌(3)，所述滑動導軌(3)設于底板(1)另一端，對應的所述底板(1)上開有供滑動導軌(3)卡合的、且滑動導軌(3)在其上能自由滑動的卡槽(4)，所述固定導軌(2)、滑動導軌(3)在其相對側上設有橫跨其長度方向的、凹陷的滑槽(5)且在其下端部設有連通至滑槽(5)內的避空槽(6)；

立板(7)，所述立板(7)連接在底板(1)上；

螺紋絲桿(8)，所述螺紋絲桿(8)水平穿透立板(7)且與立板(7)螺紋連接，其穿出所述立板(7)的一端轉動連接在滑動導軌(3)上，其轉動時，驅動所述滑動導軌(3)在卡槽(4)內滑動。

2.根據權利要求1所述的一種半導體測試分選機儲料裝置,其特征在于，所述螺紋絲桿(8)上設有轉動輪。

3.根據權利要求1所述的一種半導體測試分選機儲料裝置,其特征在于，所述螺紋絲桿(8)上同軸固接有階梯軸，對應的所述滑動導軌(3)上開有供階梯軸卡合的、且階梯軸在其內能自由轉動的T形槽(14)。

4.根據權利要求1所述的一種半導體測試分選機儲料裝置,其特征在于，還包括設置在固定導軌(2)和滑動導軌(3)上的限位板(9)，所述限位板(9)通過鎖緊機構連接在滑槽(5)上。

5.根據權利要求4所述的一種半導體測試分選機儲料裝置,其特征在于，所述鎖緊機構包括若干分別水平穿透固定導軌(2)、滑動導軌(3)且能自由滑動的銷軸(10)，對應的所述限位板(9)上沿其寬度方向設有若干供銷軸(10)插合的銷孔(11)，所述銷軸(10)穿出固定導軌(2)、滑動導軌(3)的一端固接有限位環(12)，其上還套裝有拉簧(13)，所述拉簧(13)一端固接在限位環(12)上，另一端分別固接在所述固定導軌(2)、滑動導軌(3)上。