[實用新型]用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具有效
| 申請號: | 201822033943.0 | 申請日: | 2018-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN208968459U | 公開(公告)日: | 2019-06-11 |
| 發明(設計)人: | 戴劉成;施文展 | 申請(專利權)人: | 紫光宏茂微電子(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/30 | 分類號: | G01B5/30 |
| 代理公司: | 上海市嘉華律師事務所 31285 | 代理人: | 黃琮;傅云 |
| 地址: | 201700 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鐵圈 通道槽 側板 送料通道 治具 本實用新型 治具本體 檢測 送料通道出口 快速檢測 支撐機構 變形量 底座 最大變形量 側面 出料口 入料口 放入 判定 變形 超標 觀察 | ||
1.一種用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,包括:治具本體、支撐機構和底座;
所述治具本體包括:第一側板和第二側板;
所述第一側板的內側面設有橫向設置的第一通道槽,所述第一通道槽在所述第一側板的一側面形成第一入料口,在所述第一側板的另一側面形成第一出料口;
所述第一側板和所述第二側板固定連接,使所述第二側板與所述第一通道槽形成第一送料通道,且與所述第一入料口形成第一送料通道入口,與所述第一出料口形成第一送料通道出口;
所述第一通道槽的高度大于待測鐵圈的外徑,所述第一通道槽的深度等于待測鐵圈的標準厚度與待測鐵圈允許的最大變形量之和;
所述支撐機構固定設置在所述底座上;
所述治具本體通過所述支撐機構傾斜的設置在所述底座上,用于使所述第一送料通道入口高于所述第一送料通道出口。
2.根據權利要求1所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述支撐機構包括:第一支撐架、第二支撐架和第三支撐架;
所述第一支撐架、所述第二支撐架和所述第三支撐架依次設置,且所述第一支撐架、所述第二支撐架和所述第三支撐架的高度依次增加;
所述第一支撐架包括第一左支撐板、第一右支撐板和第一螺栓,所述第一螺栓穿過所述第一左支撐板、所述第一側板、所述第二側板和所述第一右支撐板,使所述第一側板和所述第二側板的底部固定在所述第一支撐架上;
所述第二支撐架包括第二左支撐板、第二右支撐板和第二螺栓,所述第二螺栓穿過所述第二左支撐板、所述第一側板、所述第二側板和所述第二右支撐板,使所述第一側板和所述第二側板的底部固定在所述第二支撐架上;
所述第三支撐架包括第三左支撐板、第三右支撐板和第三螺栓,所述第三螺栓穿過所述第三左支撐板、所述第一側板、所述第二側板和所述第三右支撐板,使所述第一側板和所述第二側板的底部固定在所述第三支撐架上。
3.根據權利要求1所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述第一送料通道的底部設有多個滾輪,所述多個滾輪呈連續排列設置。
4.根據權利要求1所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述第一側板和所述第二側板的一側均設有第一通孔,所述第一通孔的孔徑小于待測鐵圈的外徑。
5.根據權利要求4所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述第一通孔的中心距離所述第一送料通道入口的距離小于待測鐵圈的半徑。
6.根據權利要求1所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述第一送料通道內設有擋板,且所述擋板靠近所述第一送料通道出口,用于阻止待測鐵圈從所述第一送料通道出口滾出;
所述第一側板和所述第二側板在靠近所述第一送料通道出口的一側均設有取料口,所述取料口用于取出抵持在所述擋板上的待測鐵圈。
7.根據權利要求6所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述取料口呈矩形,所述矩形的對角線長度大于待測鐵圈的外徑,且所述取料口的底部與所述第一送料通道的底部之間的距離小于待測鐵圈的外徑。
8.根據權利要求1所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述第一側板和所述第二側板上均設有多個第二通孔,所述多個第二通孔的孔徑小于待測鐵圈的外徑。
9.根據權利要求1所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述底座的底部設有支腳,使所述底座離地設置。
10.根據權利要求1至9中任意一項所述的用于快速檢測鐵圈變形量的檢測治具,其特征在于,所述第二側板包括:第二側板本體和隔板;
所述第二側板本體的內側面設有橫向設置的第二通道槽,所述第二通道槽在所述第二側板本體的一側面形成第二入料口,在所述第二側板本體的另一側面形成第二出料口;
所述隔板設置在所述第二側板本體與所述第一側板之間,使所述隔板與所述第一通道槽形成第一送料通道,與所述第二通道槽形成第二送料通道,用于檢測不同規格的待測鐵圈。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于紫光宏茂微電子(上海)有限公司,未經紫光宏茂微電子(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201822033943.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





